[發(fā)明專利]一種測(cè)量軸孔規(guī)格的裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010767207.7
• 申請(qǐng)日: 2020-08-03
• 公開（公告）號(hào): CN111879247B
• 公開（公告）日: 2022-05-20
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 周飛;王國(guó)安;吳偉鋒;羅偉峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 海伯森技術(shù)（深圳）有限公司
• 主分類號(hào): G01B11/08
• 分類號(hào): G01B11/08;G01B11/12
• 代理公司: 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44268
• 代理人: 朱陽(yáng)波

本發(fā)明所提供的一種測(cè)量軸孔規(guī)格的裝置，其中，包括：多個(gè)相互連接且相互平行的光譜共焦傳感器探頭；多個(gè)反光鏡，多個(gè)所述反光鏡分別設(shè)于每個(gè)光譜共焦傳感器探頭的底端，所述反光鏡的鏡面與所述光譜共焦傳感器探頭的軸向呈預(yù)設(shè)角度，所述預(yù)設(shè)角度為所述鏡面與所有反光鏡圍成的中軸之間的夾角。本發(fā)明所述裝置基于光譜共焦原理即可實(shí)現(xiàn)對(duì)不同規(guī)格軸孔的內(nèi)徑或外徑的測(cè)量，且測(cè)量精度高，操作簡(jiǎn)便。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及尺寸測(cè)量技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及的是一種測(cè)量軸孔規(guī)格的裝置。

背景技術(shù)

目前，對(duì)于軸孔內(nèi)徑或外徑的測(cè)量采用的測(cè)量方式分為接觸式和非接觸式，其中，接觸式的儀器包括：塞規(guī)、千分尺、卡尺等，此種方式適用于對(duì)精度要求低的工件，且工件的規(guī)格不能過(guò)小，在進(jìn)行測(cè)量時(shí)需人工手動(dòng)操作儀器進(jìn)行測(cè)量，會(huì)存在人工誤差，難以保證測(cè)量精度；非接觸式方法包括：氣動(dòng)測(cè)量和電容式測(cè)量方法等，此種方法適用于對(duì)精度要求高的工件，其中，氣動(dòng)測(cè)量方法對(duì)供氣要求高，且儀器響應(yīng)時(shí)間長(zhǎng)，不利于快速測(cè)量，且操作繁瑣；而電容式測(cè)量方法易受到外界環(huán)境的干擾，進(jìn)而影響測(cè)量結(jié)果。

可見(jiàn)，以上用于測(cè)量軸孔內(nèi)徑或外徑的方式存在測(cè)量精度與測(cè)量速率難以兼顧的問(wèn)題。

因此，現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷，有待改進(jìn)與發(fā)展。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，提供一種測(cè)量軸孔規(guī)格的裝置，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中的在進(jìn)行軸孔內(nèi)徑或外徑測(cè)量時(shí)，現(xiàn)有的測(cè)量工具難以兼顧測(cè)量精度與測(cè)量速率的問(wèn)題。

本發(fā)明解決技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案如下：

一種測(cè)量軸孔規(guī)格的裝置，其中，包括：

多個(gè)相互連接且相互平行的光譜共焦傳感器探頭；

多個(gè)反光鏡，多個(gè)所述反光鏡分別設(shè)于每個(gè)光譜共焦傳感器探頭的底端，所述反光鏡的鏡面與所述光譜共焦傳感器探頭的軸向呈預(yù)設(shè)角度，所述預(yù)設(shè)角度為所述鏡面與所有反光鏡圍成的中軸之間的夾角；

所述裝置還包括支撐結(jié)構(gòu)，所述支撐結(jié)構(gòu)中嵌入有所述光譜共焦傳感器探頭的底端和所述反光鏡；不相鄰反光鏡之間相貫通；

當(dāng)所述預(yù)設(shè)角度為鈍角時(shí)，在所述反光鏡與所述支撐結(jié)構(gòu)相對(duì)的位置上開設(shè)有第一通孔；

當(dāng)所述預(yù)設(shè)角度為銳角時(shí)，在所述反光鏡與所述支撐結(jié)構(gòu)相對(duì)的位置上開設(shè)有第二通孔。

進(jìn)一步地，所述預(yù)設(shè)角度為鈍角，所述裝置還包括支撐結(jié)構(gòu)，所述支撐結(jié)構(gòu)中嵌入有所述光譜共焦傳感器探頭的底端和所述反光鏡；

所述支撐結(jié)構(gòu)上與所述鏡面相對(duì)的位置上均開設(shè)有第一通孔。

能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)單個(gè)被測(cè)軸孔的內(nèi)徑進(jìn)行測(cè)量，且測(cè)量精度高，操作簡(jiǎn)單。

進(jìn)一步地，所述預(yù)設(shè)角度為銳角，所述裝置還包括支撐結(jié)構(gòu)，所述支撐結(jié)構(gòu)中嵌入有所述光譜共焦傳感器探頭的底端和所述反光鏡；

不相鄰反光鏡之間相貫通，在所述支撐結(jié)構(gòu)與所述鏡面相對(duì)的位置上均開設(shè)有第二通孔。

進(jìn)一步地，所述支撐結(jié)構(gòu)上開設(shè)有所述第一通孔和第二通孔；

所述裝置還包括嵌于所述支撐結(jié)構(gòu)中的另一反光鏡，所述另一反光鏡的鏡面背對(duì)所述反光鏡設(shè)置，且與所述光譜共焦傳感器探頭的軸向呈所述預(yù)設(shè)角度。

進(jìn)一步地，所述反光鏡與所述支撐結(jié)構(gòu)活動(dòng)連接，當(dāng)轉(zhuǎn)動(dòng)所述反光鏡至所述預(yù)設(shè)角度為鈍角時(shí)，所述反光鏡的鏡面與所述第一通孔相對(duì)；

當(dāng)轉(zhuǎn)動(dòng)所述反光鏡至所述預(yù)設(shè)角度為銳角時(shí)，所述反光鏡的鏡面與所述第二通孔相對(duì)。

進(jìn)一步地，所述支撐結(jié)構(gòu)中還嵌入有反光鏡支撐座，所述反光鏡支撐座上設(shè)置的斜面與所述光譜共焦傳感器探頭和所述鏡面相對(duì)，所述反光鏡貼于所述斜面上。