[發(fā)明專利]測量方法及電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010766439.0
• 申請日: 2020-08-03
• 公開（公告）號: CN112945085A
• 公開（公告）日: 2021-06-11
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 韋尚寬;張彬;王琳軍;左斯;曾燕芳
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市明源云鏈互聯(lián)網(wǎng)科技有限公司
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G05B19/042
• 代理公司: 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414
• 代理人: 王明磊

1.一種測量方法，其特征在于，所述方法包括：

電子設(shè)備接收用戶的操作指令；

所述電子設(shè)備根據(jù)所述用戶的操作指令，向測量設(shè)備發(fā)送測量指令，所述測量指令用于指示所述測量設(shè)備測量待測物體的至少一個檢查項；

所述電子設(shè)備接收所述測量設(shè)備測量到的所述待測物體的所述至少一個檢查項的測量結(jié)果；

所述電子設(shè)備根據(jù)所述至少一個檢查項的預設(shè)偏差值、所述至少一個檢查項對應的標準數(shù)據(jù)以及所述至少一個檢查項的測量結(jié)果計算所述待測物體的合格率。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述標準數(shù)據(jù)是所述電子設(shè)備預設(shè)的數(shù)據(jù)，或者所述標準數(shù)據(jù)是由所述電子設(shè)備從其他電子設(shè)備獲取的。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的任一項方法，其特征在于，所述操作指令包括所述用戶選擇所述待測物體的指令，所述方法還包括：

所述電子設(shè)備根據(jù)所述用戶選擇所述待測物體的指令確定所述待測物體的至少一個檢查項；

所述電子設(shè)備獲取所述待測物體的至少一個檢查項的預設(shè)偏差值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3所述的任一項方法，其特征在于，所述方法還包括：

在所述電子設(shè)備上顯示所述待測物體的模型圖像和/或所述待測物體的合格率。

5.一種測量裝置，其特征在于，所述裝置包括：

接收模塊：用于接收用戶的操作指令；

發(fā)送模塊：用于根據(jù)所述用戶的操作指令，向測量設(shè)備發(fā)送測量指令，所述測量指令用于指示所述測量設(shè)備測量待測物體的至少一個檢查項；

所述接收模塊：還用于接收所述測量設(shè)備測量到的所述待測物體中所述至少一個檢查項的測量結(jié)果；

處理模塊：用于根據(jù)所述至少一個檢查項的預設(shè)偏差值、所述至少一個檢查項對應的預設(shè)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)以及所述至少一個檢查項的測量結(jié)果計算所述待測物體的合格率。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的裝置，其特征在于，所述標準數(shù)據(jù)是所述裝置預設(shè)的數(shù)據(jù)，或者所述標準數(shù)據(jù)是由所述裝置從其他電子設(shè)備獲取的。

7.根據(jù)權(quán)利要求5或6所述的任一項裝置，其特征在于，所述操作指令包括用戶選擇所述待測物體的指令，所述裝置還用于：

根據(jù)所述用戶選擇所述待測物體的指令確定所述待測物體；添加所述待測物體的至少一個檢查項的預設(shè)偏差值。

8.根據(jù)權(quán)利要求5至7所述的任一項裝置，其特征在于，所述裝置還包括：

顯示模塊：用于顯示所述待測物體的模型圖像和/或所述待測物體的合格率。

9.一種電子設(shè)備，包括：存儲器，用于存儲由電子設(shè)備的一個或者多個處理器執(zhí)行的指令，以及處理器，是所述電子設(shè)備的處理器之一，用于執(zhí)行權(quán)利要求1至4中任一項所述的方法。

10.一種機器可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述機器可讀存儲介質(zhì)上存儲有指令，該指令在機器上執(zhí)行時使機器執(zhí)行權(quán)利要求1至4中任一項所述的方法。