[發明專利]一種提高RCS測試靜區性能的方法在審
| 申請號： | 202010764625.0 | 申請日： | 2020-07-31 |
| 公開（公告）號： | CN111983574A | 公開（公告）日： | 2020-11-24 |
| 發明（設計）人： | 唐文杰 | 申請（專利權）人： | 中國航空工業集團公司濟南特種結構研究所 |
| 主分類號： | G01S7/40 | 分類號： | G01S7/40;H01Q17/00 |
| 代理公司： | 中國航空專利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 250000*** | 國省代碼： | 山東;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 提高 rcs 測試 性能 方法 | ||
1.一種提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述方法是在收發天線之間設置吸波材料，用以消除由于收發天線的耦合帶來的測試雜波；所述吸波材料由介質基板和若干銅條微單元組成，若干銅條微單元等間距周期排列在介質基板正反面上，所述銅條微單元與介質基板軸線呈一定角度。
2.根據權利要求1所述的提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述銅條微單元由多根等邊細銅條封閉排列而成，且每根細銅條上均連接有電控開關，通過電控開關的開合實現銅條微單元的寬度變化。
3.根據權利要求1所述的提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述電控開關采用PIN二極管，所述PIN二極管與外部電路相連，以控制其開關。
4.根據權利要求1所述的提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述上下兩個銅條微單元之間的間距為微單元寬度的兩倍，左右微單元之間的間距為微單元長度的一半。
5.根據權利要求1所述的提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述銅條微單元與介質基板軸線呈45°夾角。
6.根據權利要求5所述的提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述銅條微單元與介質基板通過膠膜粘接固定。
7.根據權利要求6所述的提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述膠膜采用介電常熟和損耗較低的膠膜材料。
8.根據權利要求1所述的提高RCS測試靜區性能的方法，其特征在于：所述吸波材料通過激光刻蝕技術制成。
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