[發(fā)明專利]基于群時延譜的光譜分析方法及裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010763390.3 | 申請日: | 2020-07-31 |
| 公開(公告)號: | CN111855588A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 潘時龍;卿婷;李樹鵬;方奕杰;湯曉虎;王立晗;曹美會;李欣雨 | 申請(專利權(quán))人: | 南京航空航天大學(xué) |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01J3/28;G01J9/00 |
| 代理公司: | 北京德崇智捷知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11467 | 代理人: | 楊楠 |
| 地址: | 210000 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 群時延 光譜分析 方法 裝置 | ||
1.一種基于群時延譜的光譜分析方法,根據(jù)待測物的光譜信息對待測物進(jìn)行分析;其特征在于,所述光譜信息包括群時延譜。
2.如權(quán)利要求1所述基于群時延譜的光譜分析方法,其特征在于,所述光譜信息還包括幅度譜和/或相位譜。
3.如權(quán)利要求1所述基于群時延譜的光譜分析方法,其特征在于,所述群時延譜由相位譜對頻率求導(dǎo)得到。
4.一種基于群時延譜的光譜分析裝置,根據(jù)待測物的光譜信息對待測物進(jìn)行分析;其特征在于,所述光譜信息包括群時延譜。
5.如權(quán)利要求4所述基于群時延譜的光譜分析裝置,其特征在于,所述光譜信息還包括幅度譜和/或相位譜。
6.如權(quán)利要求4所述基于群時延譜的光譜分析裝置,其特征在于,所述群時延譜由相位譜對頻率求導(dǎo)得到。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





