[發明專利]一種用于光譜分析的偏振調制光譜測試裝置與測試方法

有效

• 申請號: 202010762927.4
• 申請日: 2020-07-31
• 公開（公告）號: CN111948156B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 莊新港;史學舜;張鵬舉;劉紅博;劉長明
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第四十一研究所
• 主分類號: G01N21/31
• 分類號: G01N21/31;G01N21/01;G01N21/55
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340
• 代理人: 陳嵐崴

1.一種用于光譜分析的偏振調制光譜測試裝置，包括漫反射光譜采集系統，其特征在于，還包括反射光譜測試附件、偏振角調制附件和偏振度調制附件；所述反射光譜測試附件包括樣品臺底座、樣品臺旋轉底座、入射光方位角調節支桿、反射光方位角調節支桿、入射光天頂角調節旋鈕及反射光天頂角調節旋鈕；入射光方位角調節支桿固定在樣品臺底座上，反射光方位角調節支桿固定在樣品臺旋轉底座上，樣品臺旋轉底座可在樣品臺底座上360°旋轉并讀取旋轉角度，通過旋轉樣品臺旋轉底座可實現入射光和反射探測光方位角調節；所述偏振角調制附件，包括光纖準直器、旋轉安裝座和偏振片；偏振片安裝在旋轉安裝座中，兩個光纖準直器安裝在旋轉安裝座的兩側；所述偏振度調制附件，包括光纖準直器、旋轉安裝座、偏振片、1/4波片和光學鏡筒；1/4波片安裝在旋轉安裝座中，偏振片安裝在光學鏡筒中，兩個光纖準直器分別安裝在旋轉安裝座和光學鏡筒兩側。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述反射光譜測試附件中的入射光方位角調節支桿和反射光方位角調節支桿通過各自拐角連接處進行高低和長短調節，實現入射光天頂角調節旋鈕、反射光天頂角調節旋鈕到樣品臺旋轉底座的距離和位置調節。

3.一種偏振角調制光譜測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

步驟1、搭建偏振角調制光譜測試系統，由光源、偏振角調制附件、反射光譜測試附件、光譜儀、PC機和光纖組成；所述反射光譜測試附件包括樣品臺底座、樣品臺旋轉底座、入射光方位角調節支桿、反射光方位角調節支桿、入射光天頂角調節旋鈕及反射光天頂角調節旋鈕；入射光方位角調節支桿固定在樣品臺底座上，反射光方位角調節支桿固定在樣品臺旋轉底座上，樣品臺旋轉底座可在樣品臺底座上360°旋轉并讀取旋轉角度，通過旋轉樣品臺旋轉底座可實現入射光和反射探測光方位角調節；所述偏振角調制附件，包括光纖準直器、旋轉安裝座和偏振片；偏振片安裝在旋轉安裝座中，兩個光纖準直器安裝在旋轉安裝座的兩側；所述偏振度調制附件，包括光纖準直器、旋轉安裝座、偏振片、1/4波片和光學鏡筒；1/4波片安裝在旋轉安裝座中，偏振片安裝在光學鏡筒中，兩個光纖準直器分別安裝在旋轉安裝座和光學鏡筒兩側；

步驟2、調節偏振角調制附件中的偏振片的偏振方向，確定光源偏振方向和探測偏振方向；

步驟3、反射光譜測試附件的樣品臺旋轉底座和天頂角調節旋鈕，完成入射光和反射光方位角、入射光和反射光天頂角的調節；

步驟4、在扣除機器噪聲后，利用標準漫反射白板完成該偏振調制模式下物體偏振反射光譜的采集。