[發明專利]一種X-ray檢測機

有效

• 申請號: 202010762467.5
• 申請日: 2020-07-31
• 公開（公告）號: CN111824726B
• 公開（公告）日: 2023-05-23
• 發明（設計）人: 胡錕;李總
• 申請（專利權）人: 江蘇華錕智能科技有限公司
• 主分類號: B65G47/14
• 分類號: B65G47/14;B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38;B65G47/91;G01N23/02
• 代理公司: 蘇州言思嘉信專利代理事務所(普通合伙) 32385
• 代理人: 邵永永

本發明公開了一種X?ray檢測機，包括檢測機外殼、設置于所述檢測機外殼上的控制面板和工作門，還包括，設置于所述檢測機外殼一側的振動盤、設置于所述檢測機外殼內的傳送裝置、設置于所述振動盤和所述傳送裝置之間的導軌、設置于傳送裝置遠離所述導軌一側的良品放料管和次品放料管、設置于所述傳送裝置一側的安裝板、設置于所述安裝板上的推料裝置和搬運裝置、設置于所述安裝板一側的檢測裝置，其中所述搬運裝置設置于所述推料裝置的一側，所述檢測裝置、所述推料裝置和所述搬運裝置中均設置有滑動機構，所述檢測裝置和所述推料裝置中均設置有驅動機構。本發明的有益效果是，實用性強，提高了大小料陶瓷片、FUSE、電容、電阻以及半導體芯片的檢測效率。

技術領域

本發明涉及X-ray檢測機技術領域，特別是一種X-ray檢測機。

背景技術

目前電子元器件、半導體元件需要專業的檢測設備對表面、內部等進行檢測，但是現有的裝置中，上料機構的凹槽較少，導致檢測速度慢，同時對于不同尺寸需要不同的機器進行檢測，增加了成本，同時目前的裝置自動化程度低。

發明內容

本發明的目的是為了解決上述問題，設計了一種X-ray檢測機。

實現上述目的本發明的技術方案為，一種X-ray檢測機，包括檢測機外殼、設置于所述檢測機外殼上的控制面板和工作門，還包括，設置于所述檢測機外殼一側的振動盤、設置于所述檢測機外殼內的傳送裝置、設置于所述振動盤和所述傳送裝置之間的導軌、設置于傳送裝置遠離所述導軌一側的良品放料管和次品放料管、設置于所述傳送裝置一側的安裝板、設置于所述安裝板上的推料裝置和搬運裝置、設置于所述安裝板一側的檢測裝置，其中所述搬運裝置設置于所述推料裝置的一側，所述檢測裝置、所述推料裝置和所述搬運裝置中均設置有滑動機構，所述檢測裝置和所述推料裝置中均設置有驅動機構。

作為本發明的進一步說明，所述傳送裝置包括輸送基座、設置于所述輸送基座上的輸送軌、開設于所述輸送軌內的凹槽、設置于所述輸送軌上的蓋板、設置于所述輸送基座下方的升降氣缸、與所述升降氣缸相連接的升降板。

作為本發明的進一步說明，所述輸送軌依次包括錯位段、第一直線段、旋轉段、第二直線段和輸出段，其中所述錯位段可上下移動，所述旋轉段內的凹槽呈放樣關系，所述升降板位于所述錯位段的下方。

作為本發明的進一步說明，所述推料裝置包括設置于所述安裝板上的所述驅動機構和所述滑動機構、與所述驅動機構相連接的第二連接板、與所述第二連接板相連接的第三連接板、與所述第三連接板相連接的第一連接板、設置于所述第一連接板上的推送爪、設置于所述推送爪靠近所述傳送裝置的面上的拔叉，其中所述第二連接板呈類似Z字型，所述第三連接板呈類似L字型，所述第二連接板分別與所述驅動機構和所述第三連接板之間相連接，所述第三連接板的豎直部分與所述第二連接板相連接，所述第三連接板的水平部分與所述第一連接板相連接。

作為本發明的進一步說明，所述檢測裝置包括呈類似7字型的第一框架、設置于所述第一框架上的檢測頭、設置于所述傳送裝置下方的探測頭、設置于所述安裝板一側的第二框架、設置于所述第二框架上的所述驅動機構和所述滑動機構，其中所述第一框架的一端與所述驅動機構相連接，所述檢測頭設置于所述傳送裝置的上方，所述檢測頭和所述探測頭位置相對應。

作為本發明的進一步說明，所述搬運裝置與所述安裝板相連接的驅動電機、所述搬運裝置包括設置于所述安裝板上的凸輪件、開設于所述凸輪件上的半圓形槽、設置于所述凸輪件一側的所述滑動機構、與所述滑動機構相連接的機械爪和連接塊、設置于所述連接塊和所述凸輪件之間的搖擺件、開設于所述搖擺件上的橫向槽、設置于所述半圓形槽和橫向槽內的滾動筒、用于連接滾動筒和連接塊的連接軸，其中所述滑動機構設置于所述安裝板上，所述連接塊呈T字型，所述驅動電機的軸貫穿所述凸輪件和所述搖擺件，所述驅動電機的軸位于所述凸輪件的正中心位置。

作為本發明的進一步說明，所述滑動機構包括滑軌、滑動連接于所述滑軌上的滑塊。