[發明專利]一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置及方法

有效

• 申請號: 202010761630.6
• 申請日: 2020-07-31
• 公開（公告）號: CN111879238B
• 公開（公告）日: 2022-01-28
• 發明（設計）人: 張旭濤;李糧生;蔡禾;孫金海;李進春
• 申請（專利權）人: 北京環境特性研究所
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G02B17/06;G02B7/182
• 代理公司: 北京格允知識產權代理有限公司 11609
• 代理人: 周嬌嬌

1.一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：包括太赫茲天線(1)、第一反射鏡(2)、第二反射鏡(3)、第三反射鏡(4)、主反射鏡(5)、第一電移臺(6)、第二電移臺(7)和調整部件(8)，第一電移臺(6)和第二電移臺(7)均架設在光學平臺上，太赫茲天線(1)架設在第一電移臺(6)上，第一反射鏡(2)與第三反射鏡(4)分別架設在兩個調整部件(8)上，裝有第一反射鏡(2)的調整部件(8)架設在第一電移臺(6)上，裝有第三反射鏡(4)的調整部件(8)架設在第二電移臺(7)上，第二反射鏡(3)固連在第二電移臺(7)一側的光學平臺上，主反射鏡(5)固連在第二電移臺(7)另一側的光學平臺上；第一反射鏡(2)移動以將太赫茲天線(1)發射的波束反射到第二反射鏡(3)或第三反射鏡(4)上，第二反射鏡(3)和第三反射鏡(4)反射波束至主反射鏡(5)上。

2.根據權利要求1所述的一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：第一反射鏡(2)、第二反射鏡(3)、第三反射鏡(4)和主反射鏡(5)均為離軸拋物面鏡且外徑相同，第二反射鏡(3)反射焦距大于第三反射鏡(4)。

3.根據權利要求2所述的一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：第一反射鏡(2)與第三反射鏡(4)移動方向相互垂直，第一反射鏡(2)與第三反射鏡(4)移動距離均大于第二反射鏡(3)的外徑。

4.根據權利要求1所述的一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：第一電移臺(6)上滑動連接有第一底座(61)，第二電移臺(7)上滑動連接有第二底座(71)，第一底座(61)和第二底座(71)均由絲杠傳動控制移動；裝有第一反射鏡(2)的調整部件(8)固連在第一底座(61)上，裝有第三反射鏡(4)的調整部件(8)固連在第二底座(71)上。

5.根據權利要求1所述的一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：調整部件(8)包括底板(81)、套筒支架(82)和調節旋鈕(83)，底板(81)底部一側固連有轉軸(84)，轉軸(84)為鐵質圓柱體，兩組調整部件(8)上的轉軸(84)分別插入第一底座(61)和第二底座(71)內，兩組調整部件(8)上的套筒支架(82)分別固連在底板(81)一側的第一底座(61)和第二底座(71)上，套筒支架(82)位于底板(81)遠離轉軸(84)的一側，兩個調節旋鈕(83)螺紋連接在套筒支架(82)上下兩端，調節旋鈕(83)伸出套筒支架(82)外并轉動連接在底板(81)內。

6.根據權利要求5所述的一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：第一底座(61)上的底板(81)上固連有兩組紅色激光燈(85)，兩組紅色激光燈(85)出射光線相互平行且與底板(81)垂直；第二底座(71)上的底板(81)上開設有兩個孔，所述孔外徑與紅色激光燈(85)發射口外徑相同，兩個所述孔分布位置與兩個紅色激光燈(85)分布位置相同。

7.根據權利要求6所述的一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：紅色激光燈(85)的發射波束不與第一反射鏡(3)反射波束重合或相交。

8.根據權利要求5所述的一種快速調整太赫茲時域光譜測量靜區尺寸的裝置，其特征在于：第一底座(61)內一側開設有調節槽(62)，調節槽(62)長度大于轉軸(84)外徑，調節槽(62)寬度等于轉軸(84)外徑，轉軸(84)插入調節槽(62)內；第一底座(61)一側螺紋連接有螺桿(87)，螺桿(87)螺距小于第一電移臺(6)上的絲杠螺距，螺桿(87)一端伸出第一底座(61)外且固連有微調旋鈕(86)，螺桿(87)另一端轉動連接有磁箍(88)，磁箍(88)為帶有弧形槽的磁塊，磁箍(88)的弧形槽與轉軸(84)外壁抵接。