[發明專利]電介質組合物及電子部件

在審

• 申請號: 202010749593.7
• 申請日: 2020-07-30
• 公開（公告）號: CN112441832A
• 公開（公告）日: 2021-03-05
• 發明（設計）人: 井口俊宏
• 申請（專利權）人: TDK株式會社
• 主分類號: C04B35/495
• 分類號: C04B35/495;C04B35/622;C04B35/64;H01G4/12;H01G4/30
• 代理公司: 北京尚誠知識產權代理有限公司 11322
• 代理人: 楊琦

本發明提供一種顯示高的相對介電常數，并且即使在還原氣氛下燒成，也顯示高的電阻率的電介質組合物。所述電介質組合物包含具有以(Sr_xBa_1?x)_yNb₂O_5+y表示的組成式的復合氧化物，復合氧化物的晶系為四方晶系，組成式中的y小于1。

技術領域

本發明涉及一種電介質組合物及具備由該電介質組合物構成的電介質層的電子部件。

背景技術

在組裝于電子設備的電子電路或電源電路中搭載有許多利用電介質表現的介電特性的如層疊陶瓷電容器之類的電子部件。作為構成這樣的電子部件的電介質的材料(電介質材料)，非專利文獻1公開了一種以通式Sr_xBa_1－xNb₂O₆表示的鐵電體材料。

內部電極由賤金屬構成的層疊陶瓷電容器通過在氧分壓比空氣中低的氣氛下進行了還原燒成后再實施退火而制作。本發明者發現，非專利文獻1中記載的電介質組合物在低氧分壓下進行燒成來制作的情況下，存在電阻率低的問題。

現有技術文獻

非專利文獻

非專利文獻1：Acta Cryst.(2006).B62,960-965，Sergey Podlozhenov,HeribertA.Graetsch,Julius Schneider,Michael Ulex,Manfred Wohlecke,Klaus Betzler

發明內容

發明所要解決的技術問題

本發明鑒于這樣的實際情況，其目的在于提供一種顯示高的相對介電常數，并且即使在還原氣氛下燒成，也顯示高的電阻率的電介質組合物、和具備由該電介質組合物構成的電介質層的電子部件。

用于解決技術問題的技術方案

為了實現上述目的，本發明的第一觀點所涉及的電介質組合物包含具有以(Sr_xBa_1-x)_yNb₂O_5+y表示的組成式的復合氧化物，所述復合氧化物的晶系為四方晶系，所述y小于1。

本發明者發現，通過本發明的第一觀點所涉及的電介質組合物為上述的構成，從而能夠顯示高的相對介電常數，并且顯示高的電阻率。作為獲得這樣的效果的理由，認為是下述理由。

當在還原氣氛下燒成以通式(Sr_xBa_1-x)₁Nb₂O₆表示的氧化物時，會從上述的氧化物中奪取氧，氧缺陷和自由電子成對地生成。其結果，認為產生由所生成的自由電子的移動引起的導電性，上述氧化物的電阻率會降低。

與之相對，如上述的復合氧化物那樣，通過組成式中的y小于1，從而在產生陽離子缺陷的同時，也產生氧缺陷。其結果，在復合氧化物中，由于某種程度地存在氧缺陷，因此，隨著還原燒成而生成氧缺陷及自由電子的反應變得難以進行。即，即使在還原氣氛下，也難以發生從復合氧化物中奪取氧而生成自由電子的反應。因此，認為由于難以生成自由電子，因此，電阻率的降低得到抑制。

另外，認為復合氧化物的晶系為四方晶系，由此存在相對介電常數提高的趨勢。

根據以上的理由，認為本發明的第一觀點所涉及的電介質組合物為上述的構成，由此能夠顯示高的相對介電常數，并且顯示高的電阻率。

本發明的第一觀點所涉及的電介質組合物中，所述復合氧化物的空間群也可以為P4bm。

由此，本發明的第一觀點所涉及的電介質組合物能夠顯示高的相對介電常數，并且顯示高的電阻率。