[發明專利]一種斷裂帶結構識別方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 202010749194.0
• 申請日: 2020-07-30
• 公開（公告）號: CN111948709B
• 公開（公告）日: 2021-08-06
• 發明（設計）人: 廖宗湖;張林
• 申請（專利權）人: 中國石油大學(北京)
• 主分類號: G01V1/28
• 分類號: G01V1/28;G01V1/30;G06K9/62
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 周達;劉飛

1.一種斷裂帶結構識別方法，其特征在于，包括：

獲取待識別斷裂帶的方差特征圖；其中，所述方差特征圖基于對目標地層的平面方差屬性圖處理獲得；所述基于對目標地層的平面方差屬性圖處理獲得方差特征圖，包括：獲取目標地層的平面方差屬性圖；將所述平面方差屬性圖中距離斷裂帶預設距離的位置作為基線位置；所述基線平行于所述斷裂帶的延伸方向；以所述基線為起點作多條垂直于所述斷裂帶的測線；其中，每條測線上包括多個間隔距離相等的測點；根據每條測線上測點的方差值與測點到基線距離的關系，獲得方差特征圖；

將所述方差特征圖與預設結構方差特征信息進行匹配；其中，所述預設結構方差特征信息包括斷裂帶結構與方差特征信息的對應關系，所述方差特征信息根據方差特征圖獲得；所述方差特征信息包括斷層核區域對應的方差信息、破碎帶區域對應的方差信息、圍巖區域對應的方差信息；

根據匹配結果確定所述待識別斷裂帶的結構。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述斷裂帶結構包括脈沖狀結構、條帶狀結構、箱狀結構、穹隆狀結構。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述斷層核區域對應的方差大于第一閾值，所述破碎帶區域對應的方差大于第二閾值小于第一閾值，所述圍巖區域對應的方差大于第三閾值小于第二閾值。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一閾值為0.4，所述第二閾值為0.1，所述第三閾值為0。

5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述脈沖狀結構對應的方差特征信息包括一個峰值，所述峰值位于斷層核區域，所述峰值兩側方差值以指數方式衰減到圍巖區域；

所述條帶狀結構對應的方差特征信息包括至少兩個峰值，每個峰值位于不同斷層核區域，不同斷層核區域間通過破碎帶區域分隔；

所述箱狀結構對應的方差特征信息包括預設范圍內的方差值位于斷層核區域，所述斷層核區域的方差信息呈箱型；

所述穹隆狀結構對應的方差特征信息整體呈穹窿狀，破碎帶區域的方差信息與圍巖區域的方差信息平緩過渡。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述方差特征圖與預設結構特征信息進行匹配，包括：

從所述方差特征圖中提取所述待識別斷裂帶的方差特征信息，獲得待識別方差特征信息；

將所述待識別方差特征信息與預設結構方差特征信息中方差特征信息進行匹配。

7.一種斷裂帶結構識別裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待識別斷裂帶的方差特征圖；其中，所述方差特征圖基于對目標地層的平面方差屬性圖處理獲得；所述基于對目標地層的平面方差屬性圖處理獲得方差特征圖，包括：獲取目標地層的平面方差屬性圖；將所述平面方差屬性圖中距離斷裂帶預設距離的位置作為基線位置；所述基線平行于所述斷裂帶的延伸方向；以所述基線為起點作多條垂直于所述斷裂帶的測線；其中，每條測線上包括多個間隔距離相等的測點；根據每條測線上測點的方差值與測點到基線距離的關系，獲得方差特征圖；

匹配模塊，用于將所述方差特征圖與預設結構方差特征信息進行匹配；其中，所述預設結構方差特征信息包括斷裂帶結構與方差特征信息的對應關系，所述方差特征信息根據方差特征圖獲得；所述方差特征信息包括斷層核區域對應的方差信息、破碎帶區域對應的方差信息、圍巖區域對應的方差信息；

確定模塊，用于根據匹配結果確定所述待識別斷裂帶的結構。

8.一種斷裂帶結構識別系統，其特征在于，包括至少一個處理器以及存儲計算機可執行指令的存儲器，所述處理器執行所述指令時實現權利要求1-6中任意一項所述方法的步驟。