[發明專利]真空精密鑄造爐、真空精密鑄造爐的測溫裝置及測溫方法在審
| 申請號: | 202010748796.4 | 申請日: | 2020-07-30 |
| 公開(公告)號: | CN111842814A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 謝龍飛;吳遠慶;蒙玉湘;高杰 | 申請(專利權)人: | 合智熔煉裝備(上海)有限公司 |
| 主分類號: | B22D9/00 | 分類號: | B22D9/00;B22D2/00;B22D7/12;F27B14/20;G01K1/14;G01K7/04;G01K11/00 |
| 代理公司: | 上海裕創慧成知識產權代理事務所(普通合伙) 31384 | 代理人: | 黃裕 |
| 地址: | 202103 上海市浦*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 真空 精密 鑄造 測溫 裝置 方法 | ||
1.一種真空精密鑄造爐的測溫裝置,其特征在于,包括:
通道,沿豎直方向,置于所述真空精密鑄造爐的鑄錠室的頂部,并與所述鑄錠室連通;
導桿,置于所述通道內,并沿豎直方向可插入所述真空精密鑄造爐的鑄錠室內;
驅動機構,與所述導桿連接,用于驅動所述導桿沿豎直方向進行運動;
測溫熱電偶,設置于所述導桿的底端,用于實時檢測所述鑄錠室內的溫度;
光學溫度計,設置于所述鑄錠室的上方,并與所述鑄錠室內的坩堝之間具有預設的垂直距離;所述光學溫度計用于檢測所述坩堝內金屬溶液的熔煉溫度;
主控設備,分別與所述驅動機構、所述測溫熱電偶和光學溫度計通訊連接,用于實時獲取所述測溫熱電偶測得的第一溫度值Tr和所述光學溫度計測得的第二溫度值Tg;
所述主控設備還用于計算所述測溫熱電偶下降至不同位置時的所述Tr和所述Tg的差值絕對值△T,并根據各所述△T判斷所述測溫熱電偶是否侵入所述坩堝內的金屬溶液中,且根據判定結果對所述驅動機構進行控制。
2.根據權利要求1所述的真空精密鑄造爐的測溫裝置,其特征在于,所述真空精密鑄造爐的測溫裝置還包括:沿所述豎直方向依次設置的測溫上腔室、測溫下腔室、插板閥、過渡腔室;
其中,所述測溫上腔室、所述測溫下腔室、所述插板閥和所述過渡腔室依次連通,構成所述通道,所述插板閥還用于截斷或導通所述通道。
3.根據權利要求2所述的真空精密鑄造爐的測溫裝置,其特征在于,所述真空精密鑄造爐的測溫裝置還包括:設置于所述測溫上腔室和所述測溫下腔室之間的支撐塊;
所述支撐塊沿所述豎直方向,具有連通所述測溫上腔室和所述測溫下腔室的第一通孔;
所述支撐塊沿垂直于所述豎直方向,部分凸出所述測溫上腔室,且所述支撐塊的凸出部分沿所述豎直方向設有導向柱,所述導向柱朝所述測溫上腔室的方向豎直延伸;
所述導向柱上設有固定所述光學溫度計的調整卡環,所述調整卡環通過鎖緊組件固定于所述測溫上腔室上;
沿所述豎直方向,所述支撐塊的凸出部分對應所述光學溫度計,開設平行于所述第一通孔的第二通孔,所述第二通孔還與所述測溫下腔室連通。
4.根據權利要求3所述的真空精密鑄造爐的測溫裝置,其特征在于,沿所述豎直方向,所述支撐塊相對于所述測溫上腔室的一側還設有保護管,所述保護管部分插入所述第二通孔內,并與所述光學溫度計沿所述豎直方向相對設置;
所述保護管相對于所述光學溫度計的一側設有視窗。
5.根據權利要求3所述的真空精密鑄造爐的測溫裝置,其特征在于,所述導桿為齒條,所述驅動機構包括:設置于所述支撐塊上的電機、可轉動地設置于所述支撐塊內的齒輪、設置于所述電機上的編碼器;
所述電機的主軸與所述齒輪連接,所述齒輪與所述齒條嚙合,所述編碼器和所述電機還與所述主控設備通訊連接,所述編碼器用于實時獲取所述齒條帶動所述測溫熱電偶沿所述豎直方向運動的行程,并將獲取到的所述行程上傳至所述主控設備。
6.一種真空精密鑄造爐,包括:鑄錠室、置于所述鑄錠室內的坩堝,其特征在于,還包括:設置于所述鑄錠室的頂部的如權利要求1-5中任意一項所述的測溫裝置。
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