[發(fā)明專利]一種超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型的構(gòu)建方法及其應(yīng)用在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010746805.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-29 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111898316A | 公開(公告)日: | 2020-11-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張敏明;王凱元;劉德明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華中科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G06F30/27 | 分類號(hào): | G06F30/27;G06N3/04 |
| 代理公司: | 華中科技大學(xué)專利中心 42201 | 代理人: | 尹麗媛;李智 |
| 地址: | 430074 湖北*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 表面 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì) 模型 構(gòu)建 方法 及其 應(yīng)用 | ||
本發(fā)明屬于超表面設(shè)計(jì)領(lǐng)域,具體涉及一種超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型的構(gòu)建方法,包括:獲取訓(xùn)練樣本集,并采用訓(xùn)練樣本集,訓(xùn)練級(jí)聯(lián)殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);每個(gè)訓(xùn)練樣本包括超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)及其對(duì)應(yīng)的透射譜表征信息;級(jí)聯(lián)殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括依次級(jí)聯(lián)的超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò)和透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò);在訓(xùn)練過程中,先訓(xùn)練透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò),后基于訓(xùn)練后的透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò),訓(xùn)練超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò),訓(xùn)練后的超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò)作為超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型。本發(fā)明提出構(gòu)建一種超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型,實(shí)現(xiàn)超表面透射譜的快速高精度預(yù)測(cè),從而降低了超表面設(shè)計(jì)門檻和設(shè)計(jì)成本,在保證性能和優(yōu)化穩(wěn)定性的前提下,大大提升優(yōu)化效率、降低計(jì)算功耗。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于超表面設(shè)計(jì)領(lǐng)域,更具體地,涉及一種超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型的構(gòu)建方法及其應(yīng)用。
背景技術(shù)
超表面可以看作是由亞波長單元組成的二維層狀材料,其厚度要比工作的波長小得多。通過對(duì)超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì),它能夠?qū)Τ錾洳ㄇ啊⒐馍⑻匦浴⑵裆踔令l率的完美操控,工程師主要通過尋找超表面結(jié)構(gòu)與透射譜之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系來按需求設(shè)計(jì)超表面。
然而超表面設(shè)計(jì)需要大量的專業(yè)背景知識(shí)、耗時(shí)且復(fù)雜的物理數(shù)學(xué)計(jì)算與相當(dāng)?shù)脑O(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)。如果采用正向設(shè)計(jì)超表面,需要對(duì)超表面結(jié)構(gòu)與其傳輸特征進(jìn)行直接檢索,因?yàn)閰?shù)空間的龐大,正向設(shè)計(jì)是極度費(fèi)時(shí)的。相較于此,基于優(yōu)化算法的反向設(shè)計(jì)更善于這種設(shè)計(jì)和優(yōu)化問題。其思想主要是:指定目標(biāo)結(jié)果和需要的特性,使用優(yōu)化算法,獲得超表面結(jié)構(gòu)。然而,超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)的優(yōu)化需要仿真軟件進(jìn)行復(fù)雜且耗時(shí)的數(shù)值模擬計(jì)算也要消耗很長時(shí)間,而且優(yōu)化算法的編寫也是非常困難的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型的構(gòu)建方法及其應(yīng)用,用以解決現(xiàn)有超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)成本高的技術(shù)問題。
本發(fā)明解決上述技術(shù)問題的技術(shù)方案如下:一種超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型的構(gòu)建方法,包括:
獲取訓(xùn)練樣本集,并采用所述訓(xùn)練樣本集,訓(xùn)練級(jí)聯(lián)殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò);
其中,每個(gè)訓(xùn)練樣本包括超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)及其對(duì)應(yīng)的透射譜表征信息;所述級(jí)聯(lián)殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)包括依次級(jí)聯(lián)的超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò)和透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò);在所述訓(xùn)練過程中,先訓(xùn)練所述透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò),后基于訓(xùn)練后的所述透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò),訓(xùn)練所述超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò),將訓(xùn)練后的所述超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò)作為超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型。
本發(fā)明的有益效果是:本發(fā)明提出構(gòu)建一種基于級(jí)聯(lián)殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)的超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型,級(jí)聯(lián)殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)可以唯一確定超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)與透射譜的非線性關(guān)系,保證了設(shè)計(jì)可靠性,其次由于殘差神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)性能不會(huì)因網(wǎng)絡(luò)深度增加而退化,保證了在超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方面的廣泛應(yīng)用,另外,先訓(xùn)練透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò),后基于訓(xùn)練后的透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練所超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò),保證訓(xùn)練精度,同時(shí)使得輸入超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)輸出超表面透射譜以及輸入需求的超表面透射譜輸出超表面結(jié)構(gòu)參數(shù),方便按需設(shè)計(jì)。本發(fā)明構(gòu)建的超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模型,能夠?qū)崿F(xiàn)由智能化技術(shù)來進(jìn)行超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),從而有望降低超表面設(shè)計(jì)門檻和設(shè)計(jì)成本。
在上述技術(shù)方案的基礎(chǔ)上,本發(fā)明還可以做如下改進(jìn)。
進(jìn)一步,所述訓(xùn)練所述透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò),具體為:
采用所述訓(xùn)練樣本集,以所述超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)為輸入,以所述透射譜表征信息為輸出,訓(xùn)練所述透射特性預(yù)測(cè)網(wǎng)絡(luò),得到透射特性預(yù)測(cè)模型。
進(jìn)一步,所述訓(xùn)練所述超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò),具體為:
采用所述訓(xùn)練樣本集,以所述透射譜表征信息為輸入,訓(xùn)練超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò);
其中,在每次迭代訓(xùn)練時(shí),所述超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò)根據(jù)其輸入信息預(yù)測(cè)出對(duì)應(yīng)的超表面結(jié)構(gòu)參數(shù)并將其輸入至所述透射特性預(yù)測(cè)模型;對(duì)比該透射特性預(yù)測(cè)模型所對(duì)應(yīng)預(yù)測(cè)并輸出的透射譜表征信息與該次迭代向所述超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò)所輸入的透射譜表征信息,以優(yōu)化所述超表面結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)網(wǎng)絡(luò)參數(shù)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于華中科技大學(xué),未經(jīng)華中科技大學(xué)許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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