[發明專利]基于相位差分布曲線三點定形的頻譜感知方法及相關設備

有效

• 申請號: 202010745822.8
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN112073130B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: 許文俊;王陽;高暉;張藝檬;張治;馮志勇
• 申請（專利權）人: 北京郵電大學
• 主分類號: H04B17/309
• 分類號: H04B17/309;H04B17/382
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 王剛

1.一種基于相位差分布曲線三點定形的頻譜感知方法，其特征在于，包括：

確定最優采樣頻率；

以所述最優采樣頻率，對接收端接收到的接收信號進行采樣處理；其中，所述采樣處理得到若干采樣點；

分別計算相鄰兩個所述采樣點的相位差，得到所述接收信號對應的第一相位差概率分布曲線；

對所述第一相位差概率分布曲線進行形狀識別，得到判決統計量；

確定檢測門限；

將所述判決統計量與所述檢測門限進行比較，若所述判決統計量大于所述檢測門限，則判定主用戶信號存在；反之，則判定主用戶信號不存在；

所述確定最優采樣頻率，具體包括：以預定的測試采樣頻率對所述接收信號進行采樣處理，得到所述接收信號對應的測試相位差概率分布曲線；根據所述測試相位差概率分布曲線，得到其一階余弦特征量；確定搜索范圍，并根據所述搜索范圍確定若干測試采樣倍頻；對于每個所述測試采樣倍頻，計算其對應的一階余弦特征量的值；將最大的一階余弦特征量的值作為采樣倍頻估計值；若2π除以所述采樣倍頻估計值的商為π的整數倍，或所述采樣倍頻估計值大于等于10，則將所述測試采樣頻率作為所述最優采樣頻率；若2π除以所述采樣倍頻估計值的商不為π的整數倍，且所述采樣倍頻估計值大于1小于10，則調整所述測試采樣頻率并重復得到所述采樣倍頻估計值的步驟，直至2π除以所述采樣倍頻估計值的商為π的整數倍，或所述采樣倍頻估計值大于等于10；

所述對所述第一相位差概率分布曲線進行形狀識別，得到判決統計量，具體包括：確定所述第一相位差概率分布曲線的兩個端點以及極值點；計算所述極值點與一個所述端點的連線的第一斜率，以及計算所述極值點與另一所述端點的連線的第二斜率；將所述第一斜率和所述第二斜率的絕對值的平均值作為所述判決統計量；

所述確定檢測門限，具體包括：獲取接收端接收到的高斯噪聲信號，并得到所述高斯噪聲信號對應的第二相位差概率分布曲線；對所述第二相位差概率分布曲線進行形狀識別，得到待選檢測門限；根據隨機生成的若干高斯噪聲信號，得到若干所述待選檢測門限；根據虛警概率的數值，從若干所述待選檢測門限中確定所述檢測門限。

2.根據權利要求1所述的基于相位差分布曲線三點定形的頻譜感知方法，其特征在于，所述最優采樣頻率滿足如下公式：

其中，為載波頻率；為最優采樣頻率。

3.根據權利要求1所述的基于相位差分布曲線三點定形的頻譜感知方法，其特征在于，所述確定所述第一相位差概率分布曲線的兩個端點以及極值點之后，還包括：

若所述極值點與兩個所述端點中的任一重合，則用所述第一相位差概率分布曲線的中點替換所述極值點，以計算所述第一斜率和所述第二斜率。