[發明專利]一種全閉環伺服系統的數控機床反向間隙檢測方法

有效

• 申請號: 202010743884.5
• 申請日: 2020-07-29
• 公開（公告）號: CN112008490B
• 公開（公告）日: 2022-07-15
• 發明（設計）人: 李勇;陶文堅;李杰;潘世祿;賈永鋒;胡金龍;徐強;王一鵬
• 申請（專利權）人: 成都飛機工業（集團）有限責任公司
• 主分類號: B23Q17/00
• 分類號: B23Q17/00
• 代理公司: 成都天嘉專利事務所(普通合伙) 51211
• 代理人: 趙凱

1.一種全閉環伺服系統的數控機床反向間隙檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：

a、選取檢測點位，坐標軸以速度v勻速正向進給到達A點，并在A點暫停S秒，隨即以相同運動參數向正向移動至B點，并在B點暫停S秒,接著以相同運動參數向負向移動至C點，并在C點暫停S秒,最后以相同運動參數向正向移動至D點，并在D點暫停S秒，結束坐標軸的運動；

b、在步驟a中，坐標軸在到達A點暫停時，啟動西門子伺服跟蹤功能，對編碼器及光柵尺的實際位置進行采集并保存數據；

c、在步驟b中，啟動西門子伺服跟蹤功能前，完成設置伺服跟蹤數據采集參數；

d、通過步驟a與步驟b獲取光柵尺在B、C、D點對應的位置數據L1、L2、L3；編碼器在B、C、D對應的位置數據M1、M2、M3，得到坐標軸的運行位置-時間圖；

e、通過步驟d的位置數據，得到光柵尺從B點運動到C點的位移量H1,從C點到D點的位移量H2；編碼器從B點運動到C點的位移量h1,從C點到D點的位移量h2，各位移量由下式計算：

H1＝|L1-L2| 式1

H2＝|L2-L3| 式2

h1＝|M1-M2| 式3

h2＝|M2-M3| 式4

f、通過步驟e分別得到光柵尺與編碼器正向移動的位移量和負向移動的位移量，通過計算編碼器與光柵尺對應位置的位移量差值的絕對值表征反向間隙，F1為正向反向間隙，F2為負向反向間隙，計算公式如下：

F1＝|h1-H1| 式5

F2＝|h2-H2| 式6；

所述步驟c中，設置伺服跟蹤數據采集參數具體是指變量選擇，采用兩個采集通道，變量選取編碼器的實際位置和光柵尺的實際位置；采集參數設置，包括采集時間、觸發方式、觸發后延時記錄時間和設置觸發閾值。