[發明專利]缺陷檢測方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 202010740667.0
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111882541A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發明（設計）人: 朱姍姍;彭奕文;王佳
• 申請（專利權）人: 廣州柔視智能科技有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/12
• 代理公司: 深圳市恒程創新知識產權代理有限公司 44542
• 代理人: 張小容

1.一種缺陷檢測方法，其特征在于，所述缺陷檢測方法包括以下步驟：

獲取目標圖像，并對所述目標圖像進行區域劃分，以獲取若干個區域圖像；

分別獲取若干個區域圖像中每一個區域圖像的區域特征標識，并分別確定每一個區域圖像的區域特征標識對應的缺陷特征；

基于所述缺陷特征，分別輸出每一個區域圖像對應的缺陷圖像。

2.如權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述獲取目標圖像的步驟包括：

在待檢測產品放置于缺陷檢測平臺時，基于所述缺陷檢測平臺的攝像裝置，采集所述待檢測產品的目標圖像。

3.如權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述并對所述目標圖像進行區域劃分，以獲取若干個區域圖像的步驟包括：

獲取待檢測產品的產品特征信息，和/或，對所述目標圖像進行像素篩選，以獲取所述目標圖像對應的像素缺陷區域；

基于所述產品特征信息和/或所述目標圖像對應的像素缺陷區域，對所述目標圖像進行區域劃分，以獲取若干個區域圖像，并對所述若干個區域圖像進行區域特征標識。

4.如權利要求1所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述基于所述缺陷特征，分別輸出每一個區域圖像對應的缺陷圖像的步驟包括：

分別基于每一個區域圖像對應的缺陷特征，確定所述區域圖像對應的算法參數；

基于所述區域圖像對應的算法參數，對所述區域圖像進行預設算法檢測，以輸出所述區域圖像對應的缺陷圖像。

5.如權利要求4所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述算法參數包括濾波參數、分割參數及特征參數，所述基于所述區域圖像對應的算法參數，對所述區域圖像進行預設算法檢測，以輸出所述區域圖像對應的缺陷圖像的步驟包括：

基于所述區域圖像對應的濾波參數，對所述區域圖像進行預濾波處理，以獲取濾波圖像；

基于所述區域圖像對應的分割參數，對所述濾波圖像進行缺陷分割，以獲取二值化圖像；

基于所述特征參數，對所述二值化圖像進行特征篩選，以確定所述二值化圖像對應的缺陷圖像，并輸出所述缺陷圖像。

6.如權利要求5所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述基于所述特征參數，對所述二值化圖像進行特征篩選，以確定所述二值化圖像對應的缺陷圖像的步驟包括：

對所述二值化圖像進行連通域分析，以獲取所述二值化圖像的連通域集；

基于所述特征參數，逐一對所述二值化圖像的連通域集的每一個連通域進行特征篩選，以確定所述二值化圖像對應的缺陷圖像，并輸出所述缺陷圖像。

7.如權利要求6所述的缺陷檢測方法，其特征在于，所述逐一對所述二值化圖像的連通域集的每一個連通域進行特征篩選，以確定所述二值化圖像對應的缺陷圖像的步驟包括：

逐一對所述二值化圖像的連通域集的每一個連通域進行特征提取，以獲取每一個連通域對應的特征集；

獲取所述連通域對應的特征集中每一個特征對應的特征值，并將所述特征值與標準特征值進行對比，以獲取所述連通域對應的缺陷判定結果；

基于連通域集的每一個連通域對應的缺陷判定結果，確定所述二值化圖像對應的缺陷圖像。

8.一種缺陷檢測裝置，其特征在于，所述缺陷檢測裝置包括：

第一獲取模塊，用于獲取目標圖像，并對所述目標圖像進行區域劃分，以獲取若干個區域圖像；

第二獲取模塊，用于分別獲取若干個區域圖像中每一個區域圖像的區域特征標識，并分別確定每一個區域圖像的區域特征標識對應的缺陷特征；

輸出模塊，用于基于所述缺陷特征，分別輸出每一個區域圖像對應的缺陷圖像。

9.一種缺陷檢測設備，其特征在于，所述缺陷檢測設備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的缺陷檢測程序，所述缺陷檢測程序被所述處理器執行時實現如權利要求1至7中任一項所述的缺陷檢測方法的步驟。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質上存儲有缺陷檢測程序，所述缺陷檢測程序被處理器執行時實現如權利要求1至7中任一項所述的缺陷檢測方法的步驟。