[發明專利]一種利用相位調制器半波電壓測溫的方法

在審

• 申請號: 202010740101.8
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111879304A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發明（設計）人: 徐知芳;卜興華;廉正剛;皮亞斌
• 申請（專利權）人: 武漢長盈通光電技術股份有限公司
• 主分類號: G01C19/72
• 分類號: G01C19/72;G01K7/00
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 胡建平;孫方旭

1.一種利用相位調制器半波電壓測溫的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：步驟一，光纖陀螺的數字邏輯算法中包含Sagnac相位負反饋閉環模塊和相位調制器半波電壓漂移跟蹤閉環模塊；步驟二，在相位調制器半波電壓漂移跟蹤閉環模塊中存儲表征相位調制器半波電壓的實時數值；步驟三，將相位調制器半波電壓的實時數值來等效光纖環所處的環境溫度。

2.根據權利要求1所述的利用相位調制器半波電壓測溫的方法，其特征在于，光纖陀螺光路包含光源、耦合器、相位調制器、光纖環、光電探測器，其中，耦合器輸入端1與光源連接，輸入端2與光電探測器的輸入端連接，耦合器的一個輸出端與相位調制器的輸入端連接，相位調制器的兩個輸出端分別與光纖環的兩個輸出端連接。

3.根據權利要求1或2所述的利用相位調制器半波電壓測溫的方法，其特征在于，采用干涉式數字閉環光纖陀螺，其信號處理電路板包含ADC采樣電路、DAC反饋電路，其中，ADC采樣電路負責對光電探測器輸出的電壓信號進行數據轉換、ADC采樣，實現檢測Sagnac干涉光強，DAC反饋電路負責給相位調制器提供相位調制電壓，實現光信號相位反饋閉環。

4.根據權利要求1或2所述的利用相位調制器半波電壓測溫的方法，其特征在于，相位調制器緊靠光纖環安裝，二者處于相同的環境溫度下。

5.根據權利要求1或2所述的利用相位調制器半波電壓測溫的方法，其特征在于，相位調制器采用Y波導。

6.根據權利要求2所述的利用相位調制器半波電壓測溫的方法，其特征在于，所述耦合器為2×2耦合器。