[發明專利]一種相控陣雷達目標RCS測量精度鑒定方法

在審

• 申請號: 202010739640.X
• 申請日: 2020-07-28
• 公開（公告）號: CN111948616A
• 公開（公告）日: 2020-11-17
• 發明（設計）人: 張延鑫;趙華;王放;李長亮;田堂勝
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍63921部隊
• 主分類號: G01S7/40
• 分類號: G01S7/40
• 代理公司: 北京善任知識產權代理有限公司 11650
• 代理人: 張振偉

本申請實施例公開了一種相控陣雷達目標RCS測量精度鑒定方法，包括：獲取針對雷達RCS測量精度的鑒定指令，根據所述鑒定指令確定標定衛星；確定所述標定衛星的RCS基準值；根據所述標定衛星的RCS基準值確定所述標定衛星對于雷達的可見時段；通過所述雷達在所述可見時段對所述標定衛星進行跟蹤測量，獲取測量數據；根據所述測量數據確定誤差統計結果；當所述誤差統計結果符合預設精度標準時，確定所述雷達目標RCS測量精度滿足鑒定要求。

技術領域

本申請涉及航空航天地面雷達精度鑒定技術領域，尤其涉及一種相控陣雷達目標RCS測量精度鑒定方法。

背景技術

相控陣雷達是以電子方式控制雷達波束方向的雷達，又稱為電子掃描雷達。目標雷達截面積(Radar Cross Section,RCS)是雷達測量對象的雷達散射截面積，它刻畫了雷達目標對入射電磁波的散射能力，是目標尺寸、形狀、材質等物理特性的反映，是目標識別的一類重要基礎信息。

如果雷達某些工作狀態不穩定，其目標RCS測量精度會下降或者不穩定，甚至導致RCS測量數據不可用。因此非常有必要對雷達的RCS測量進行精度鑒定。

精度鑒定就是基于精度更高的標準，對測量設備測量結果的精度進行評價，并評判其是否滿足指標要求。在航天領域精度鑒定廣泛應用于外測設備的坐標測量，對目標RCS等特性的精度鑒定處于起步階段。由于相控陣雷達目標RCS測量在我國是一項近些年發展的新興技術，沒有成熟的RCS測量精度鑒定方法。

發明內容

本申請實施例提供一種相控陣雷達目標RCS測量精度鑒定方法，包括：

獲取針對雷達目標RCS測量精度的鑒定指令，根據所述鑒定指令確定標定衛星；

確定所述標定衛星的RCS基準值；

根據所述標定衛星的RCS基準值確定所述標定衛星對于雷達的可見時段；通過所述雷達在所述可見時段對所述標定衛星進行跟蹤測量，獲取測量數據；

根據所述測量數據確定誤差統計結果；

當所述誤差統計結果符合預設精度標準時，確定所述雷達目標RCS測量精度滿足鑒定要求。

上述方案中，所述確定所述標定衛星的RCS基準值，包括：

根據所述標定衛星的直徑d和所述雷達的工作頻率f，計算所述標定衛星的RCS基準值σ_0d；其中，

所述標定衛星的特征尺寸ka，

其中，c為光速；

通過查表得到無量綱RCS，記為NRCS，

其中，σ₀是所述標定衛星的RCS基準值，單位m²；

所述標定衛星的RCS基準值σ_0d單位dBm²；

σ_0d＝10log(σ₀)。

上述方案中，所述根據所述測量數據確定誤差統計結果，包括：

根據公式K_p＝σ_0d-SNR-40logR+20log(cosθ)+10logτ+20logλ確定偽常值序列其中，K_p為RCS標定偽常值，為第k次測量第i個測量點對應的RCS標定偽常值，SNR為回波信號信噪比，R為目標距離，θ為雷達波束與陣面法線夾角，τ為雷達信號脈沖寬度，λ為雷達信號波長；

根據確定第k次測量RCS標定偽常值的均值