[發(fā)明專利]一種基于霍爾傳感器的位置測(cè)量裝置及電磁閥有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010739109.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111947559B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-11-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 蘇令;黃震;郝平;胡海勇;許耀午;許世壯;郭娟 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京空間技術(shù)研制試驗(yàn)中心 |
| 主分類號(hào): | G01B7/00 | 分類號(hào): | G01B7/00;F16K31/06 |
| 代理公司: | 北京謹(jǐn)誠(chéng)君睿知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11538 | 代理人: | 陸鑫;延慧 |
| 地址: | 100094 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 霍爾 傳感器 位置 測(cè)量 裝置 電磁閥 | ||
1.一種基于霍爾傳感器的位置測(cè)量裝置,其特征在于,包括:霍爾傳感器(11),與所述霍爾傳感器(11)相對(duì)設(shè)置的磁鋼(12),用于連接所述霍爾傳感器(11)和所述磁鋼(12)并用于導(dǎo)磁的導(dǎo)磁環(huán)(13),與所述霍爾傳感器(11)和所述磁鋼(12)一一對(duì)應(yīng)且相對(duì)設(shè)置的第一磁通件(14),以及位于相對(duì)的兩個(gè)所述第一磁通件(14)之間的第二磁通件(15);
所述霍爾傳感器(11)和所述磁鋼(12)分別與之相對(duì)應(yīng)的所述第一磁通件(14)的一端相抵靠;
所述第二磁通件(15)的外側(cè)面上至少設(shè)置有一條凹槽(151);
所述第二磁通件(15)上與所述凹槽(151)相鄰的非凹槽部構(gòu)成所述第二磁通件(15)上的導(dǎo)磁通道;
沿垂直于兩個(gè)所述第一磁通件(14)的連線方向,所述第二磁通件(15)可沿線性的往復(fù)移動(dòng)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的位置測(cè)量裝置,其特征在于,
沿所述第二磁通件(15)的移動(dòng)方向,所述導(dǎo)磁通道與所述第一磁通件(14)與所述第二磁通件(15)相鄰的一端的寬度相同。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的位置測(cè)量裝置,其特征在于,所述第二磁通件(15)與所述第一磁通件(14)的端部之間具有間隔,且該間隔的小于所述凹槽(151)的寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的位置測(cè)量裝置,其特征在于,所述凹槽(151)的寬度至少為所述第二磁通件(15)與所述第一磁通件(14)的端部之間的間隔的2倍。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的位置測(cè)量裝置,其特征在于,所述第一磁通件(14)為柱狀結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的位置測(cè)量裝置,其特征在于,所述第二磁通件(15)為環(huán)狀或板狀結(jié)構(gòu)。
7.一種采用權(quán)利要求1至6任一項(xiàng)所述的位置測(cè)量裝置的電磁閥,其特征在于,包括:位置測(cè)量裝置(1)、閥體(2),線圈(3)和銜鐵(4);
所述閥體(2)具有用于安裝所述線圈(3)的線圈腔(21),以及用于安裝所述銜鐵(4)的銜鐵腔(22);
所述霍爾傳感器(11)、所述磁鋼(12)和所述導(dǎo)磁環(huán)(13)設(shè)置與所述銜鐵腔(22)的腔壁外側(cè);
所述第一磁通件(14)嵌入在所述銜鐵腔(22)的腔壁上且貫穿所述腔壁;
所述第二磁通件(15)設(shè)置于所述銜鐵(4)上。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的電磁閥,其特征在于,所述銜鐵腔(22)的腔壁部分采用隔磁材料壁,所述第一磁通件(14)嵌入在所述隔磁材料壁上。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的電磁閥,其特征在于,所述第二磁通件(15)的外側(cè)面上的凹槽(151)的寬度大于所述銜鐵(4)的行程。
10.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的電磁閥,其特征在于,所述第一磁通件(14)與所述銜鐵腔(22)的腔壁的連接位置密封設(shè)置;
所述第二磁通件(15)與所述銜鐵(4)一體設(shè)置或可拆卸連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京空間技術(shù)研制試驗(yàn)中心,未經(jīng)北京空間技術(shù)研制試驗(yàn)中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010739109.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)電路及位置檢測(cè)方法
- 位置估計(jì)設(shè)備、位置估計(jì)方法、以及位置估計(jì)系統(tǒng)
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)方法及位置檢測(cè)程序
- 位置辨識(shí)裝置、位置辨識(shí)系統(tǒng)以及位置辨識(shí)方法
- 位置指示器、位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)電路以及位置檢測(cè)方法
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)系統(tǒng)以及位置檢測(cè)方法
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)系統(tǒng)以及位置檢測(cè)方法
- 位置檢測(cè)裝置、位置檢測(cè)方法以及位置檢測(cè)系統(tǒng)
- 位置估計(jì)方法、位置估計(jì)裝置、以及位置估計(jì)系統(tǒng)
- 位置檢測(cè)方法、位置檢測(cè)裝置以及位置檢測(cè)系統(tǒng)





