[發明專利]遙感圖像目標檢測方法、系統及終端設備有效
| 申請號: | 202010737230.1 | 申請日: | 2020-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN111860398B | 公開(公告)日: | 2022-05-10 |
| 發明(設計)人: | 劉京;田亮;郭蔚;楊爍今;陳棟;周丙寅 | 申請(專利權)人: | 河北師范大學 |
| 主分類號: | G06V20/00 | 分類號: | G06V20/00;G06V10/46;G06V10/764;G06V10/82;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司: | 河北國維致遠知識產權代理有限公司 13137 | 代理人: | 郝偉 |
| 地址: | 050024 河*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 遙感 圖像 目標 檢測 方法 系統 終端設備 | ||
1.一種遙感圖像目標檢測方法,其特征在于,包括:
獲取待檢測遙感圖像;
將所述待檢測遙感圖像輸入訓練后的并行感知注意力網絡模型中,得到多個不同尺度的輸出特征圖;
根據所述多個不同尺度的輸出特征圖進行目標檢測得到檢測結果;
所述并行感知注意力網絡模型以殘差網絡為主干;
所述并行感知注意力網絡模型包括第一殘差塊、第二殘差塊、第三殘差塊、第四殘差塊、第一并行感知注意力模塊、第二并行感知注意力模塊、第三并行感知注意力模塊和第四并行感知注意力模塊;所述第一殘差塊、所述第二殘差塊、所述第三殘差塊和所述第四殘差塊的尺寸均不同;
所述第一并行感知注意力模塊以所述第一殘差塊和所述第二殘差塊為輸入,輸出第一融合特征圖;所述第二并行感知注意力模塊以所述第二殘差塊和所述第三殘差塊為輸入,輸出第二融合特征圖;所述第三并行感知注意力模塊以所述第三殘差塊和所述第四殘差塊為輸入,輸出第三融合特征圖;所述第四并行感知注意力模塊以所述第四殘差塊為輸入,輸出第四融合特征圖;
所述第四融合特征圖經過可變形卷積得到第四尺度的輸出特征圖;所述第三融合特征圖經過可變形卷積之后與經過2倍上采樣后的第四尺度的輸出特征圖相加得到第三尺度的輸出特征圖;所述第二融合特征圖經過可變形卷積之后與經過2倍上采樣后的第三尺度的輸出特征圖相加得到第二尺度的輸出特征圖;所述第一融合特征圖經過可變形卷積之后與經過2倍上采樣后的第二尺度的輸出特征圖相加得到第一尺度的輸出特征圖;
所述第四并行感知注意力模塊包括第四上下文注意力子模塊和第四通道注意力子模塊;
所述第四上下文注意力子模塊以所述第四殘差塊為輸入,輸出第四上下文特征圖;
所述第四通道注意力子模塊以第四殘差塊為輸入,輸出第四通道特征圖;
將所述第四上下文特征圖與所述第四通道特征圖進行融合,得到所述第四融合特征圖。
2.根據權利要求1所述的遙感圖像目標檢測方法,其特征在于,所述第一并行感知注意力模塊、第二并行感知注意力模塊和第三并行感知注意力模塊的結構相同;
所述第一并行感知注意力模塊包括第一多尺度注意力子模塊、第一上下文注意力子模塊和第一通道注意力子模塊;
所述第一多尺度注意力子模塊以所述第一殘差塊和所述第二殘差塊為輸入,輸出第一尺度特征圖;
所述第一上下文注意力子模塊以所述第一殘差塊為輸入,輸出第一上下文特征圖;
所述第一通道注意力子模塊以第一殘差塊為輸入,輸出第一通道特征圖;
將所述第一尺度特征圖、所述第一上下文特征圖和所述第一通道特征圖進行融合,得到所述第一融合特征圖。
3.根據權利要求2所述的遙感圖像目標檢測方法,其特征在于,在所述第一多尺度注意力子模塊中,將所述第一殘差塊進行卷積得到第一中間尺度特征圖,將所述第二殘差塊進行卷積得到第二中間尺度特征圖,將所述第二中間尺度特征圖進行矩陣變換后與所述第一中間尺度特征圖進行相乘操作得到第三中間尺度特征圖,對所述第三中間尺度特征圖進行歸一化得到第一多尺度注意力權重圖,將所述第一多尺度注意力權重圖與所述第二中間尺度特征圖進行相乘操作得到第四中間尺度特征圖,對所述第四中間尺度特征圖進行上采樣后與所述第一殘差塊進行相加操作得到所述第一尺度特征圖;
在所述第一上下文注意力子模塊中,將所述第一殘差塊進行卷積分別得到第一中間上下文特征圖和第二中間上下文特征圖,將所述第二中間上下文特征圖進行矩陣變換后與所述第一中間上下文特征圖進行相乘操作得到第三中間上下文特征圖,對所述第三中間上下文特征圖進行歸一化得到第一上下文注意力權重圖,將所述第一上下文注意力權重圖和所述第一殘差塊進行相乘操作得到第四中間上下文特征圖,將所述第四中間上下文特征圖進行矩陣變換后與所述第一殘差塊進行相加操作得到所述第一上下文特征圖;
在所述第一通道注意力子模塊中,將所述第一殘差塊進行矩陣變換后與所述第一殘差塊進行相乘操作得到第一中間通道特征圖,將所述第一中間通道特征圖進行歸一化得到第一通道注意力權重圖,將所述第一通道注意力權重圖與所述第一殘差塊進行相乘得到第二中間通道特征圖,將所述第二中間通道特征圖進行矩陣變換后與所述第一殘差塊進行相加操作得到所述第一通道特征圖。
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