[發明專利]一種新型手機充電裝置在審
| 申請號: | 202010736092.5 | 申請日: | 2020-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN111799871A | 公開(公告)日: | 2020-10-20 |
| 發明(設計)人: | 張金楚;姬翠翠 | 申請(專利權)人: | 張金楚 |
| 主分類號: | H02J7/00 | 分類號: | H02J7/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 225779 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 手機 充電 裝置 | ||
本發明公開了手機充電技術領域的一種新型手機充電裝置,旨在解決現有技術中手機利用充電口進行充電,影響手機的密封性能,且頻繁插拔容易導致充電口老化和失效的技術問題。所述裝置包括手機后蓋、充電端子和連接于充電端子的充電線。充電端子包括塑料外殼、磁鐵、PCBA板和導電觸點,PCBA板焊接有Type?C母座端子、eMarker芯片和導電觸點;手機后蓋設有通孔,手機后蓋內側通孔上覆蓋FPC排線的導電觸點,FPC排線通過排線插口接入手機主板;手機后蓋內側設有磁鐵,當充電端子下端面由手機后蓋外側靠近手機時,其內部磁鐵與手機背板的磁鐵相互吸合,充電端子的導電觸點通過手機通孔與手機后蓋內側的FPC排線導電觸點相互接觸。
技術領域
本發明涉及一種新型手機充電裝置,屬于手機充電技術領域。
背景技術
目前的手機大多采用充電口進行充電,該充電方式存在如下弊端:影響手機密封性能,不利于防水防塵;灰塵在充電口大量堆積導致公母頭接觸不良,頻繁插拔充電容易導致充電口老化和失效。這些弊端,不僅影響了用戶體驗,也制約了手機產品耐用性和技術性能的進一步提升。
發明內容
本發明的目的在于克服現有技術中的不足,提供了一種新型手機充電裝置,包括手機后蓋、充電端子和連接于充電端子的充電線;充電端子包括磁鐵和與充電線連接的PCBA板,PCBA板下端面焊接導電觸點;手機后蓋內側設有與通孔相對應并覆蓋通孔的FPC排線導電觸點,FPC排線插口接入手機主板;手機后蓋內側設有與充電端子的磁鐵相對應的磁鐵,當充電端子下端面面向手機后蓋外側靠近時,其內部的磁鐵與手機后蓋內側的磁鐵相互吸合,充電端子的導電觸點通過手機后蓋通孔與FPC排線的導電觸點相互接觸。
進一步地,充電端子還包括容納PCBA板的上端外殼和下端外殼,充電端子的磁鐵設于下端外殼的磁鐵固定槽,所述上端外殼和下端外殼均為絕緣材料,導電觸點裝填于下端外殼的導電觸點固定槽。
進一步地,所述絕緣材料包括塑料,所述磁鐵包括釹磁鐵,所述導電觸點為鍍鎳銅合金。
進一步地,所述充電線為USB type-C數據線,所述PCBA板焊接有Type-C母座端子和eMarker芯片,USB type-C數據線通過母座端子與PCBA板連接;所述導電觸點為八個,八個充電觸點分別對應連接PCBA板母座端子的VBUS1/2、GND1/2、D+/D-、CC引腳以及eMarker芯片的VCONN引腳。
進一步地,手機后蓋通孔與充電端子的導電觸點大小相關,位置一一對應;手機后蓋內側磁鐵與充電端子內磁鐵大小相等,位置對應。
進一步地,FPC排線的導電觸點通過FPC排線插口連接手機主板接口的VBUS1/2、GND1/2、D+/D-、CC1/2引腳。
進一步的,FPC排線的導電觸點與充電端子的導電觸點大小相關,位置一一對應。
與現有技術相比,本發明所達到的有益效果:增強了手機密封性能,避免了灰塵在充電口大量堆積,解決了充電口由于頻繁插拔充電導致提前老化的問題,有利于延長手機使用壽命;充電端子體積小巧,簡便易攜,制造成本較低。
附圖說明
圖1是本發明整體結構示意圖;
圖2是本發明所述充電端子外部結構示意圖;
圖3是本發明所述PCBA板下端面和充電端子上端外殼內部結構示意圖;
圖4是本發明所述下端外殼裝配磁鐵和導電觸點結構示意圖;
圖5是本發明所述下端外殼內部結構示意圖;
圖6是本發明所述手機后蓋外側結構示意圖;
圖7是本發明所述手機后蓋內側裝配磁鐵和FPC排線結構示意圖;
圖8是本發明所述FPC排線結構示意圖;
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