[發明專利]一種過渡金屬硫化物非線性光學性質的調控方法及裝置在審
| 申請號: | 202010735168.2 | 申請日: | 2020-07-28 |
| 公開(公告)號: | CN111883218A | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發明(設計)人: | 李興冀;李偉奇;楊劍群;應濤;魏亞東 | 申請(專利權)人: | 哈爾濱工業大學 |
| 主分類號: | G16C60/00 | 分類號: | G16C60/00 |
| 代理公司: | 北京隆源天恒知識產權代理事務所(普通合伙) 11473 | 代理人: | 段守富 |
| 地址: | 150001 黑龍*** | 國省代碼: | 黑龍江;23 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 過渡 金屬 硫化物 非線性 光學 性質 調控 方法 裝置 | ||
1.一種過渡金屬硫化物非線性光學性質的調控方法,其特征在于,包括:
將過渡金屬硫化物結構中的一個原子替換為標定原子,獲得新的原子晶格;
對所述新的原子晶格的晶格參數進行優化,獲得優化后的晶格參數;
根據所述優化后的晶格參數依次進行自洽計算和非自洽計算,獲得預處理后的晶格參數,并根據所述預處理后的晶格參數確定電子帶隙;
根據所述預處理后的晶格參數進行非自洽計算,獲得波函數,并根據所述波函數進行GW-BSE計算,獲得光學帶隙;
根據所述光學帶隙和所述電子帶隙確定帶隙差,并根據所述帶隙差確定修正參數;
根據所述修正參數和預設的控制參數進行模擬,獲得所述過渡金屬硫化物的多個二階非線性非零響應光譜。
2.根據權利要求1所述的過渡金屬硫化物非線性光學性質的調控方法,其特征在于,所述對所述新的原子晶格的晶格參數進行優化,獲得優化后的晶格參數包括:
采用VASP軟件對所述新的原子晶格的晶格參數進行優化,通過模擬確定所述新的原子晶格能量最低點時的晶格參數模擬結果,根據所述晶格參數模擬結果確定所述優化后的晶格參數,其中,所述新的原子晶格能量最低點時,a和c為所述優化后的原子晶格的單胞邊長參數。
3.根據權利要求2所述的過渡金屬硫化物非線性光學性質的調控方法,其特征在于,所述根據所述優化后的晶格參數依次進行自洽計算和非自洽計算,獲得預處理后的晶格參數,并根據所述預處理后的晶格參數確定電子帶隙包括:
根據所述優化后的晶格參數,采用Quantum Espresso軟件進行自洽計算,獲得電荷密度;
根據所述電荷密度選定第一K點,結合所述電荷密度,采用Quantum Espresso軟件進行非自洽計算,獲得所述預處理后的晶格參數,所述預處理后的晶格參數包括能帶;
根據所述能帶繪制所述能帶圖,并根據所述能帶圖確定所述電子帶隙。
4.根據權利要求3所述的過渡金屬硫化物非線性光學性質的調控方法,其特征在于,所述根據所述預處理后的晶格參數進行非自洽計算,獲得波函數包括:
根據所述預處理后的晶格參數,采用Quantum Espresso軟件進行非自洽計算,獲得所述能帶上各個位置的所述波函數;
選定第二K點,采用所述第二K點劃分所述能帶,確定所述第二K點的波函數。
5.根據權利要求4所述的過渡金屬硫化物非線性光學性質的調控方法,其特征在于,所述根據所述波函數進行GW-BSE計算,獲得光學帶隙包括:
確定所述第一K點對應的所述電子帶隙,對所述第一K點對應的所述電子帶隙進行收斂計算,獲得帶隙的平移值;
根據所述帶隙的平移值和所述第二K點的所述波函數進行GW近似計算,獲得GW近似值;
結合預設的導帶數、預設的價帶數、預設的極化方向和所述GW近似值進行BSE計算,獲得所述光學帶隙。
6.根據權利要求5所述的過渡金屬硫化物非線性光學性質的調控方法,其特征在于,所述根據所述修正參數和預設的控制參數進行模擬,獲得所述過渡金屬硫化物的多個二階非線性非零響應光譜包括:
采用Yambo軟件包中的yambo_nl模塊引入所述修正參數,通過改變所述控制參數改變入射光的入射方向,對所述過渡金屬硫化物的非線性光學性質進行模擬,獲得所述過渡金屬硫化物的多個二階非線性非零響應光譜。
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