[發明專利]平面參數設置的方法、裝置、電子裝置和存儲介質

在審

• 申請號: 202010733229.1
• 申請日: 2020-07-27
• 公開（公告）號: CN111967342A
• 公開（公告）日: 2020-11-20
• 發明（設計）人: 張高明
• 申請（專利權）人: 杭州易現先進科技有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/46
• 代理公司: 杭州華進聯浙知識產權代理有限公司 33250
• 代理人: 陳涵

1.一種平面參數設置的方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取檢測場景中的角點，計算所述角點的角點參數；

根據所述角點參數與預設參數閾值的對比結果，判斷所述檢測場景中的三維點云的等級；

根據所述三維點云的等級，設置所述檢測場景的平面參數。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述角點參數與預設參數閾值的對比結果，判斷所述檢測場景中的三維點云的等級包括：

計算所述角點的角點總數，在所述角點總數小于預設檢測參數的情況下，判定所述三維點云的等級為第一等級，其中，根據預設檢測總數與第一檢測比例的乘積得到所述預設檢測參數。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述角點參數與預設參數閾值的對比結果，判斷所述檢測場景中的三維點云的等級還包括：

獲取所述角點的響應值，計算所述響應值低于預設響應閾值的角點的數量，記為角點響應數量；

在所述角點響應數量大于預設響應參數的情況下，判定所述三維點云的等級為所述第一等級，其中，根據所述角點總數與第二檢測比例的乘積得到所述預設響應參數。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述角點參數與預設參數閾值的對比結果，判斷所述檢測場景中的三維點云的等級還包括：

計算所述角點的響應值的中位數，在所述中位數小于預設中位數的情況下，判定所述三維點云的等級為第一等級。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述角點參數與預設參數閾值的對比結果，判斷所述檢測場景中的三維點云的等級還包括：

在所述角點參數滿足預設參數范圍的情況下，判定所述檢測場景對應的三維點云的等級為第一等級，或者，在所述角點參數不滿足所述預設參數范圍的情況下，判定所述檢測場景對應的三維點云的等級為第二等級，其中，所述預設參數范圍根據所述預設參數閾值確定。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述三維點云的等級，設置所述檢測場景的平面參數包括：

所述平面參數包括平面面積、平面厚度與所述三維點云的占比，在所述三維點云的等級為第一等級的條件下，設置所述平面面積為第一面積，所述平面厚度為第一厚度，所述占比為第一占比，或者，

在所述三維點云的等級為第二等級的條件下，設置所述平面面積為第二面積，所述平面厚度為第二厚度，所述占比為第二占比，其中，所述第一面積大于所述第二面積，所述第一厚度大于所述第二厚度，所述第一占比小于所述第二占比，且所述占比根據所述平面中的三維點云的數目與輸入的三維點云的數目得到。

7.一種平面參數設置的裝置，其特征在于，所述裝置包括獲取模塊、判斷模塊和設置模塊：

所述獲取模塊，用于獲取檢測場景中的角點，計算所述角點的角點參數；

所述判斷模塊，用于根據所述角點參數與預設參數閾值的對比結果，判斷所述檢測場景中的三維點云的等級；

所述設置模塊，用于根據所述三維點云的等級，設置所述檢測場景的平面參數。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述判斷模塊包括角點總數判斷單元：

所述角點總數判斷單元，用于計算所述角點的角點總數，在所述角點總數小于預設檢測參數的情況下，判定所述三維點云的等級為第一等級，其中，根據預設檢測總數與第一檢測比例的乘積得到所述預設檢測參數。

9.一種電子裝置，包括存儲器和處理器，其特征在于，所述存儲器中存儲有計算機程序，所述處理器被設置為運行所述計算機程序以執行權利要求1至6中任一項所述的平面參數設置的方法。

10.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質中存儲有計算機程序，其中，所述計算機程序被設置為運行時執行權利要求1至6中任一項所述的平面參數設置的方法。