[發明專利]圖像處理方法、裝置、電子設備及存儲介質在審
| 申請號: | 202010733118.0 | 申請日: | 2020-07-27 |
| 公開(公告)號: | CN111861888A | 公開(公告)日: | 2020-10-30 |
| 發明(設計)人: | 董潤敏 | 申請(專利權)人: | 上海商湯智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06T3/40 | 分類號: | G06T3/40;G06K9/62 |
| 代理公司: | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人: | 靳玫 |
| 地址: | 200233 上海市徐*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 圖像 處理 方法 裝置 電子設備 存儲 介質 | ||
1.一種圖像處理方法,其特征在于,包括:
獲取待處理的原始圖像以及與所述原始圖像對應的參考圖像;所述參考圖像的分辨率高于所述原始圖像;
對所述原始圖像進行特征提取得到第一特征集;所述第一特征集包括具有多個不同圖像尺度的第一特征數據;所述第一特征數據包括所述原始圖像的圖像特征數據和梯度特征數據;
對所述參考圖像進行特征提取得到第二特征集;所述第二特征集包括具有所述多個不同圖像尺度的第二特征數據;所述第二特征數據包括所述參考圖像的圖像特征數據和梯度特征數據;
根據所述第一特征集和所述第二特征集進行特征對齊,得到具有所述多個不同圖像尺度的多個對齊特征數據;
將所述多個對齊特征數據與所述原始圖像進行特征融合,得到處理后的目標圖像。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述參考圖像進行特征提取得到第二特征集,包括:
對所述參考圖像進行重采樣,得到所述參考圖像的重采樣圖像;
對所述重采樣圖像進行特征提取,得到具有所述多個不同圖像尺度的第三特征數據;所述第三特征數據包括所述重采樣圖像的圖像特征數據和梯度特征數據;
根據具有所述多個不同圖像尺度的所述第二特征數據和具有所述多個不同圖像尺度的所述第三特征數據,得到所述第二特征集。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據具有所述多個不同圖像尺度的所述第二特征數據和具有所述多個不同圖像尺度的第三特征數據,得到所述第二特征集,包括:
對所述參考圖像進行特征提取,得到具有所述多個不同圖像尺度的所述參考圖像的圖像特征和梯度特征;將具有同一圖像尺度的所述參考圖像的圖像特征與梯度特征通道結合,得到所述參考圖像的所述第二特征數據;
對所述參考圖像的重采樣圖像進行特征提取,得到具有所述多個不同圖像尺度的所述重采樣圖像的圖像特征和梯度特征;將具有同一圖像尺度的所述重采樣圖像的圖像特征與梯度特征通道結合,得到所述重采樣圖像的所述第三特征數據;
根據具有所述多個不同圖像尺度的所述第二特征數據和具有所述多個不同圖像尺度的所述第三特征數據,得到所述第二特征集。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述對所述原始圖像進行特征提取得到第一特征集,包括:
對所述原始圖像進行特征提取,得到具有多個不同圖像尺度的所述原始圖像的圖像特征和梯度特征;將具有同一圖像尺度的所述原始圖像的圖像特征與梯度特征通道結合,得到所述原始圖像的所述第一特征數據;根據具有所述多個不同圖像尺度的所述第一特征數據,得到所述第一特征集。
5.根據權利要求1至4任一項所述的方法,其特征在于,所述第二特征集還包括具有所述多個不同圖像尺度的第三特征數據,所述第三特征數據包括所述重采樣圖像的圖像特征數據和梯度特征數據;
根據所述第一特征集和所述第二特征集進行特征對齊,得到具有所述多個不同圖像尺度的多個對齊特征數據,包括:
根據所述第一特征集中的所述第一特征數據,以及第二特征集中與所述第一特征數據具有相同圖像尺度的所述第三特征數據,得到特征偏移量;
根據所述特征偏移量和第二特征集中與所述第一特征數據具有相同圖像尺度的所述第二特征數據,得到所述對齊特征數據。
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