[發明專利]多通道射頻同軸線連接器

在審

• 申請號: 202010732283.4
• 申請日: 2020-07-27
• 公開（公告）號: CN114006228A
• 公開（公告）日: 2022-02-01
• 發明（設計）人: 馬向陽
• 申請（專利權）人: 昆山德普福電子科技有限公司
• 主分類號: H01R24/40
• 分類號: H01R24/40;H01R13/04;H01R13/512;H01R13/58
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明提供了一種多通道射頻同軸線連接器，所述多通道射頻同軸線連接器包括殼體、設置在所述殼體內的多根測試線，所述殼體包括可拆卸連接的前殼體和后殼體，所述前殼體上設有線孔，所述測試線包括測試頭和與所述測試頭連接的線體，所述測試頭包括呈柱狀的第一部分和呈柱狀的第二部分，所述第一部分設置在遠離所述線體的一側，所述第一部分的直徑小于第二部分的直徑，所述第一部分穿過所述線孔，所述第二部分與所述前殼體抵持以限制所述測試線向前移動。本發明的多通道射頻同軸線連接器，通過可拆卸連接的前殼體和后殼體，從而可以在需要測試前，拆卸下前殼體以對測試線進行校準，簡便了客戶的操作，提高了效率。

技術領域

本發明涉及一種多通道射頻同軸線連接器。

背景技術

多通道射頻同軸線解決方案，提供高密度、低插損和高性能PCB 板端連接轉換和同軸電纜，允許1x4、1x8、2x4、2x8和環形設計的多通道接口，測量帶寬DC-67GHz。傳統設計通常是一個整體的外殼，1x4、1x8、2x4、2x8和環形設計的多通道測試線組裝在內。多通道射頻同軸線的測試頭因為組裝在鐵殼內，無法進行校準，所以一直無法應用在S-PARAMETER測試上。

有鑒于此，有必要對現有的多通道射頻同軸線連接器予以改進，以解決上述問題。

發明內容

本發明的目的在于提供一種多通道射頻同軸線連接器，以解決現有多通道射頻同軸線連接器無法對測試線進行校準的問題。

為實現上述目的，本發明提供一種多通道射頻同軸線連接器，所述多通道射頻同軸線連接器包括殼體、設置在所述殼體內的多根測試線，所述殼體包括可拆卸連接的前殼體和后殼體，所述前殼體上設有線孔，所述測試線包括測試頭和與所述測試頭連接的線體，所述測試頭包括呈柱狀的第一部分和呈柱狀的第二部分，所述第一部分設置在遠離所述線體的一側，所述第一部分的直徑小于第二部分的直徑，所述第一部分穿過所述線孔，所述第二部分與所述前殼體抵持以限制所述測試線向前移動。

作為本發明的進一步改進，所述前殼體和后殼體接觸面上設有極性相反的磁性件。

作為本發明的進一步改進，所述前殼體靠近后殼體一側具有朝向前方凹陷形成有定位槽，所述后殼體靠近前殼體一側具有朝向前方凸設形成的定位件，所述定位件與所述定位槽卡合以限定所述前殼體和后殼體的相對位置。

作為本發明的進一步改進，所述前殼體遠離所述后殼體的一側向后方凹陷設有連接槽，所述測試線的測試頭暴露于所述連接槽內。

作為本發明的進一步改進，所述前殼體包括環繞所述連接槽的固定壁，所述固定壁上設有第一螺紋孔，所述后殼體上設有第二螺紋孔，所述多通道射頻同軸線連接器還包括貫穿所述第一螺紋孔和第二螺紋孔以固定連接前殼體和后殼體的第一螺釘。

作為本發明的進一步改進，所述固定壁自遠離所述后殼體的一側向內凹陷讓位槽，所述第一螺紋孔開設在所述讓位槽內。

作為本發明的進一步改進，所述多通道射頻同軸線連接器還包括設置在所述后殼體內的固線部，所述固線部包括多個用以放置線體的線槽，所述固線部與所述第二部分抵持以限制所述測試線向后移動。

作為本發明的進一步改進，所述固線部還包括設置在線槽兩側的固持部，相鄰兩個固持部之間的距離小于線體的直徑，所述線槽具有自固持部暴露的缺口。

作為本發明的進一步改進，所述固線部還包括固定件和第二螺釘，所述第二螺釘用以將固定件和固線部固定在后殼體上，所述固定件具有朝向線體的開口，所述固定件將線體固定在固線部的線槽內。

作為本發明的進一步改進，所述后殼體上設有多個向內凹陷設置的握持槽。

本發明的有益效果是：本發明的多通道射頻同軸線連接器，通過可拆卸連接的前殼體和后殼體，從而可以在需要測試前，拆卸下前殼體以對測試線進行校準，簡便了客戶的操作，提高了效率。

附圖說明