[發(fā)明專利]一種輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010731565.2 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111964857B | 公開(公告)日: | 2023-04-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮侃;趙倩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01M7/02 | 分類號(hào): | G01M7/02;G01H9/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 212013 江*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 點(diǎn)陣 結(jié)構(gòu) 高頻 動(dòng)態(tài) 響應(yīng) 測試 方法 | ||
1.一種輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟一:數(shù)值模擬:用COMSOL對(duì)含有脫開耦合點(diǎn)的脫焊損傷的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)以及健康的點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)進(jìn)行數(shù)值模擬,獲得具有脫焊損傷的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)在高頻激勵(lì)下的固有頻率、固有振型;
步驟二:采用壓電片作為激勵(lì)器,粘貼在待測輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)件中心;
步驟三:用三聯(lián)通導(dǎo)線分別連接多普勒激光測振儀SLDV上的參考信號(hào)、響應(yīng)信號(hào)接口以及功率放大器,將壓電片用導(dǎo)線與功率放大器連接;
步驟四:打開SLDV,調(diào)整探頭位置,采用中心頻率為8kHz、頻帶為7kHz-9kHz的四峰波為激勵(lì)信號(hào);
步驟五:對(duì)測量區(qū)域進(jìn)行自動(dòng)掃描測試,得到單側(cè)面板在激勵(lì)頻率下的振動(dòng)信號(hào);
步驟六:提取振動(dòng)信號(hào),用MATLAB處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),得出待測輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)的固有振型,由于僅測量了點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)單側(cè)面板的振動(dòng)響應(yīng),由式(1)得到局部結(jié)構(gòu)的頻響函數(shù),
式中X(ω)和Y(ω)分別為激勵(lì)信號(hào)、檢測信號(hào)經(jīng)傅里葉變換后的頻域信號(hào);
由于需考慮壓電片激勵(lì)的頻響效應(yīng),以及激勵(lì)函數(shù)的頻譜分布,故有
X(ω)=XPZT(ω)·Xact(ω)???????(2)
其中XPZT(ω)為壓電片的頻率響應(yīng),Xact(ω)為輸入激勵(lì)的頻域信號(hào);
通過所得出的頻響函數(shù)圖獲得局部共振的共振頻率,根據(jù)提取出的在7kHz-9kHz頻帶內(nèi)的振動(dòng)試驗(yàn)數(shù)據(jù),通過MATLAB編程即可作出共振頻率下的振型圖;
基于得到的固有振型圖形與步驟一所得模型識(shí)別并定位出損傷的位置及類型。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,步驟一中,在模擬時(shí),采用脫開耦合點(diǎn)進(jìn)行模擬,對(duì)上下兩層面板的四邊均設(shè)為簡支邊界,首先,單獨(dú)計(jì)算與脫焊點(diǎn)相鄰的幾個(gè)焊點(diǎn)組成的局部區(qū)域的固有頻率;然后,用以該局部區(qū)域的基頻為中心頻率的寬頻帶激勵(lì)整體結(jié)構(gòu),得出整體結(jié)構(gòu)的模態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,步驟二中,在試件表面粘貼反光膜。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,步驟二中,將壓電片布置在被測區(qū)域的中間位置;在待測輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)單側(cè)面板上設(shè)置測量區(qū)域,在測量區(qū)域布置多個(gè)測點(diǎn),相鄰測點(diǎn)等間距設(shè)置。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,步驟五中,對(duì)每個(gè)測點(diǎn)重復(fù)測量多次取平均。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,步驟一與步驟二中,數(shù)值模擬的結(jié)構(gòu)尺寸大小與實(shí)驗(yàn)測試中的構(gòu)件尺寸相同,可以更好的將仿真和實(shí)驗(yàn)進(jìn)行結(jié)合對(duì)照。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,步驟三中的激勵(lì)信號(hào),選取經(jīng)Hanning窗調(diào)制的四周期正弦函數(shù)為激勵(lì)信號(hào),中心頻率為8kHz。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輕材點(diǎn)陣夾芯結(jié)構(gòu)高頻動(dòng)態(tài)響應(yīng)測試方法,其特征在于,所述含有脫開耦合點(diǎn)的脫焊損傷為含有一個(gè)脫焊點(diǎn)、多個(gè)脫焊點(diǎn)的多種損傷形式。
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