[發明專利]一種一維碼檢測方法、裝置、存儲介質及電子設備

在審

• 申請號: 202010731220.7
• 申請日: 2020-07-27
• 公開（公告）號: CN111882572A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發明（設計）人: 朱發;陳高;陳彥宇
• 申請（專利權）人: 珠海格力電器股份有限公司;珠海聯云科技有限公司
• 主分類號: G06T7/187
• 分類號: G06T7/187;G06T7/11;G06T7/00;G06K19/06;G06K9/62
• 代理公司: 北京聿宏知識產權代理有限公司 11372
• 代理人: 吳大建;陳敏

本申請涉及條碼質量檢測技術領域，具體涉及一種一維碼檢測方法、裝置、存儲介質及電子設備，實現了對一維碼質量的檢測，解決了無法檢測一維碼是否印刷不清晰(缺失)、存在污點瑕疵的問題。方法包括：獲取待檢測圖像；提取所述待檢測圖像中的一維碼圖像；對所述一維碼圖像進行分行處理，得到多行子圖像塊；判斷每個所述子圖像塊中的條數量與預設條數量是否相匹配，并根據匹配結果確定所述一維碼圖像中的一維碼質量是否合格。

技術領域

本申請涉及條碼質量檢測技術領域，特別地涉及一種一維碼檢測方法、裝置、存儲介質及電子設備。

背景技術

一維碼主要用于商品標識，其是由一組規則排列的條、空以及對應的字符組成的標記，“條”指對光線反射率較低的部分，“空”指對光線反射率較高的部分，這些條和空組成的數據表達一定的信息，并能夠用特定的設備識讀，轉換成與計算機兼容的二進制和十進制信息。

在實際應用中，印刷得到的一維碼可能存在印刷不清晰(例如，缺失)，或存在污點瑕疵等質量問題，但是，目前印刷得到的一維碼無法實現質量檢測。因此，現有技術中存在無法檢測一維碼是否印刷不清晰(缺失)、存在污點瑕疵的問題。

發明內容

本申請提供一種一維碼檢測方法、裝置、存儲介質及電子設備，解決了無法檢測一維碼是否印刷不清晰(缺失)、存在污點瑕疵的問題。

第一方面，本申請提供了一種一維碼檢測方法，所述方法包括：

獲取待檢測圖像；

提取所述待檢測圖像中的一維碼圖像；

對所述一維碼圖像進行分行處理，得到多行子圖像塊；

判斷每個所述子圖像塊中的條數量與預設條數量是否相匹配，并根據匹配結果確定所述一維碼圖像中的一維碼質量是否合格。

根據本申請的實施例，可選的，上述一維碼檢測方法中，提取所述待檢測圖像中的一維碼圖像，包括：

對所述待檢測圖像進行二值化處理，得到二值化圖像；

對所述二值化圖像做閉運算處理，得到包括多個連通區域的第一圖像；

確定所述第一圖像中包括第一目標像素值且面積最大的連通區域，并將該連通區域作為目標區域；

在所述待檢測圖像中提取與所述目標區域處于相同位置所對應的圖像，并將該圖像作為一維碼圖像。

根據本申請的實施例，可選的，上述一維碼檢測方法中，在所述待檢測圖像中提取與所述目標區域處于相同位置所對應的圖像，包括：

以所述第一圖像的任意一個頂點作為坐標原點，并建立坐標系；

根據建立的所述坐標系，確定所述目標區域的至少一組頂點坐標，其中，每組所述頂點坐標為所述目標區域的不相鄰的兩個頂點坐標；

根據至少一組所述頂點坐標，在所述待檢測圖像中提取與所述目標區域處于相同位置所對應的圖像。

根據本申請的實施例，可選的，上述一維碼檢測方法中，在對所述待檢測圖像進行二值化處理之前，所述方法還包括：對所述待檢測圖像進行預處理，其中，所述預處理包括高斯模糊處理和梯度處理中的至少一種。

根據本申請的實施例，可選的，上述一維碼檢測方法中，判斷每個所述子圖像塊中的條數量與預設條數量是否相匹配，并根據匹配結果確定所述一維碼圖像中的一維碼質量是否合格，包括：

以水平方向遍歷每個所述子圖像塊的像素，統計每個所述子圖像塊中由第二目標像素值變為第三目標像素值的次數，并將該次數作為該子圖像塊對應的條數量；

當存在至少預設數量的所述子圖像塊對應的條數量與所述預設條數量不匹配時，確定所述一維碼圖像中的一維碼質量不合格。