[發明專利]一種多晶硅原料重要度分析方法及系統

有效

• 申請號: 202010729912.8
• 申請日: 2020-07-27
• 公開（公告）號: CN111814406B
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發明（設計）人: 黃麗霞;徐靜林;張雪英;李鳳蓮;陳桂軍;王杰;張龍
• 申請（專利權）人: 太原理工大學
• 主分類號: G06F30/27
• 分類號: G06F30/27;G06K9/62
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 王立普

本發明公開了一種多晶硅原料重要度分析方法及系統，該方法包括：獲取多晶硅配料數據以及少子壽命值；設定多晶硅配料的重要度權重閾值，記為第一權重；采用鄰域粗糙集?遺傳算法計算所述多晶硅配料數據的重要度；根據所述多晶硅配料數據的重要度計算多晶硅配料對少子壽命值的重要度所占權重，記為第二權重；判斷所述第二權重是否大于第一權重；若是，則所述多晶硅配料為主要類；若否，則判斷所述第二權重是否等于0；若是，則所述多晶硅配料為無影響類；若否，則所述多晶硅配料為次要類。本發明能夠在數據層面按照重要度的不同實現對多晶硅原料的配料的分類。

技術領域

本發明涉及多晶硅材料領域，特別是涉及一種多晶硅原料重要度分析方法及系統。

背景技術

隨著光伏行業的迅猛發展，多晶硅電池憑借其較高的性價比一直占據著光伏市場的主導地位。鑄造多晶硅是多晶硅太陽能電池制作過程中的一個重要環節。但多晶硅鑄造過程會出現大量雜質和缺陷，造成多晶硅少子壽命降低。生產過程中的配料對高效多晶硅鑄錠的電學性能有著至關重要的影響，同時有效合理的配料工藝對成本也起著關鍵性的作用。實際多晶硅鑄造過程中，原料種類較多，如果對每一種配料數據都進行詳細分析，很難找到對生產效率起關鍵性影響的配料種類。

而且現有專利中的多晶硅分析方法一般是從化工及反應裝置層面對其進行分析。如專利“一種多晶硅生產原料及多晶硅生產方法”中，利用來自三氯氫硅和氫氣還原制備多晶硅的生產工藝的生產的還原尾氣為原料制備多晶硅；專利“多晶硅硅棒裂紋檢測方法”中，根據硅棒出現裂紋時電流的波動特征進行硅棒裂紋檢測；專利“高純度多晶硅的制造方法”中，通過使用含碳雜質的濃度低的原料氣體來實現多晶硅的進一步高純度化的技術。但是這些專利都是在化工和反應裝置層面，并沒有在數據層面對多晶硅進行分析。

發明內容

本發明的目的是提供一種多晶硅原料重要度分析方法及系統，能夠在數據層面按照重要度的不同實現對多晶硅原料的配料的分類。

為實現上述目的，本發明提供了如下方案：

一種多晶硅原料重要度分析方法，包括：

獲取多晶硅配料數據以及少子壽命值；

設定多晶硅配料的重要度權重閾值，記為第一權重；

采用鄰域粗糙集-遺傳算法計算所述多晶硅配料數據的重要度；

根據所述多晶硅配料數據的重要度計算多晶硅配料對少子壽命值的重要度所占權重，記為第二權重；

判斷所述第二權重是否大于第一權重；

若是，則所述多晶硅配料為主要類；

若否，則判斷所述第二權重是否等于0；

若是，則所述多晶硅配料為無影響類；

若否，則所述多晶硅配料為次要類。

可選的，所述第一權重為0.5。

可選的，所述采用鄰域粗糙集-遺傳算法計算所述多晶硅配料數據的重要度，包括：

對所述多晶硅配料數據以及少子壽命值進行歸一化，所述多晶硅配料數據包括多個多晶硅的配料樣本，每個多晶硅配料樣本包括多種配料類型；

分別計算每種配料類型的標準差以及少子壽命值的標準差；

獲取待優化的鄰域半徑參數范圍；

根據所述鄰域半徑參數范圍采用遺傳算法優化鄰域半徑參數，得到優化后的鄰域半徑參數；

將所述多晶硅配料數據以及少子壽命值的標準差除以優化后的鄰域半徑參數，得到所述多晶硅配料數據以及少子壽命值的鄰域半徑；

根據所述多晶硅配料數據以及少子壽命值的鄰域半徑得到所述多晶硅配料數據的重要度。