[發(fā)明專利]一種高度圖生成方法、裝置、設(shè)備及存儲介質(zhì)

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010724145.1
• 申請日: 2020-07-24
• 公開（公告）號: CN111870955A
• 公開（公告）日: 2020-11-03
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳聰
• 申請（專利權(quán)）人: 上海米哈游天命科技有限公司
• 主分類號: A63F13/537
• 分類號: A63F13/537
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種高度圖生成方法，其特征在于，包括：

基于目標高度圖的有效區(qū)域確定所述目標高度圖的采樣區(qū)域，其中，所述采樣區(qū)域的覆蓋范圍大于所述有效區(qū)域的覆蓋范圍；

基于所述采樣區(qū)域?qū)鼍澳Ｐ瓦M行采樣，獲取采樣點的高度信息；

基于各所述采樣點的高度信息生成所述目標高度圖。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于目標高度圖的有效區(qū)域確定所述目標高度圖的采樣區(qū)域，包括：

獲取目標高度圖的有效區(qū)域；

確定所述有效區(qū)域?qū)?yīng)的有效坐標范圍，擴大所述有效坐標范圍得到所述采樣坐標范圍，并基于所述采樣坐標范圍確定所述采樣區(qū)域。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述確定所述有效區(qū)域?qū)?yīng)的有效坐標范圍，擴大所述有效坐標范圍得到所述采樣坐標范圍，包括：

確定所述有效區(qū)域?qū)?yīng)的橫向邊緣有效坐標和縱向邊緣有效坐標；

基于所述橫向邊緣有效坐標擴大所述有效坐標范圍的橫向有效范圍，得到橫向邊緣采樣坐標；

基于所述縱向有效邊緣坐標擴大所述有效坐標范圍的縱向有效范圍，得到縱向邊緣采樣坐標；

根據(jù)所述橫向邊緣采樣坐標和所述縱向邊緣采樣坐標確定所述采樣坐標范圍。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述橫向邊緣有效坐標包括橫向左邊緣有效坐標和橫向右邊緣有效坐標，所述橫向邊緣采樣坐標包括橫向左邊緣采樣坐標和橫向右邊緣采樣坐標，所述基于所述橫向邊緣有效坐標擴大所述有效坐標范圍的橫向有效范圍，得到橫向邊緣采樣坐標，包括：

將所述橫向左邊緣有效坐標左移設(shè)定橫向偏移量，得到所述橫向左邊緣采樣坐標；

將所述橫向右邊緣有效坐標右移設(shè)定橫向偏移量，得到所述橫向右邊緣采樣坐標。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法，其特征在于，所述縱向邊緣有效坐標包括縱向上邊緣有效坐標和縱向下邊緣有效坐標，所述縱向邊緣采樣坐標包括縱向上邊緣采樣坐標和縱向下邊緣采樣坐標，所述基于所述縱向有效邊緣坐標擴大所述有效坐標范圍的縱向有效范圍，得到縱向邊緣采樣坐標，包括：

將所述縱向上邊緣有效坐標上移設(shè)定縱向偏移量，得到所述縱向上邊緣采樣坐標；

將所述縱向下邊緣有效坐標下移設(shè)定縱向偏移量，得到所述縱向下邊緣采樣坐標。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述采樣點的高度信息生成所述目標高度圖，包括：

基于各所述采樣點的高度信息生成所述采樣區(qū)域?qū)?yīng)分辨率的采樣高度圖；

將所述采樣高度圖進行縮放，得到所述有效區(qū)域?qū)?yīng)分辨率的目標高度圖。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述將所述采樣高度圖進行縮放，得到所述有效區(qū)域?qū)?yīng)分辨率的目標高度圖，包括：

基于領(lǐng)域有效值的加權(quán)平均值的圖像縮放方法將所述采樣高度圖縮放為所述目標高度圖。

8.一種高度圖生成裝置，其特征在于，包括：

采樣區(qū)域確定模塊，用于基于目標高度圖的有效區(qū)域確定所述目標高度圖的采樣區(qū)域，其中，所述采樣區(qū)域的覆蓋范圍大于所述有效區(qū)域的覆蓋范圍；

高度信息確定模塊，用于基于所述采樣區(qū)域?qū)鼍澳Ｐ瓦M行采樣，獲取采樣點的高度信息；

目標高度圖生成模塊，用于基于各所述采樣點的高度信息生成所述目標高度圖。

9.一種計算機設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序；

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執(zhí)行，使得所述一個或多個處理器實現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一所述的高度圖生成方法。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-7中任一所述的高度圖生成方法。