[發明專利]一種地基干涉雷達三維大氣校正方法及系統有效
| 申請號: | 202010720991.6 | 申請日: | 2020-07-24 |
| 公開(公告)號: | CN111650570B | 公開(公告)日: | 2023-01-31 |
| 發明(設計)人: | 楊紅磊;劉杰 | 申請(專利權)人: | 中國地質大學(北京) |
| 主分類號: | G01S7/40 | 分類號: | G01S7/40;G01S13/90 |
| 代理公司: | 北京高沃律師事務所 11569 | 代理人: | 崔玥 |
| 地址: | 100083*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 地基 干涉 雷達 三維 大氣 校正 方法 系統 | ||
1.一種地基干涉雷達三維大氣校正方法,其特征在于,包括:
獲取地基合成孔徑雷達影像的時間序列原始單視復數影像經過差分干涉后得到的差分干涉圖;
選取所述差分干涉圖中的高質量點,所述高質量點為PS點和/或基于預設相干系數閾值選取的高相干點;
對所述高質量點進行相位解纏;
根據解纏圖中各所述高質量點的大氣延遲相位以及到坐標原點的距離確定三維大氣延遲模型中的大氣延遲系數,得到系數確定的三維大氣延遲模型,其中,所述三維大氣延遲模型為ri為所述高質量點i到坐標原點的距離,為所述高質量點i解纏后的大氣延遲相位,x、y分別為所述高質量點i在水平面內的橫縱坐標,h為所述高質量點i的高程,a1為第一大氣延遲系數,a2為第二大氣延遲系數,a3為第三大氣延遲系數,a4為第四大氣延遲系數;
根據所述系數確定的三維大氣延遲模型確定所述差分干涉圖中各點的大氣延遲相位;
從所述差分干涉圖中去除各點的大氣延遲相位,得到大氣相位校正后的干涉圖;
所述根據解纏圖中各所述高質量點的大氣延遲相位以及到坐標原點的距離確定三維大氣延遲模型中的大氣延遲系數,得到系數確定的三維大氣延遲模型,具體包括:
將解纏圖中各所述高質量點的相位以及到坐標原點的距離代入所述三維大氣延遲模型,求解所述三維大氣延遲模型中的大氣延遲系數,得到第一三維大氣延遲模型;
將不滿足的高質量點剔除,并采用剩余的高質量點在解纏圖中的大氣延遲相位以及到坐標原點的距離重新求解所述三維大氣延遲模型中的大氣延遲系數,得到第二三維大氣延遲模型,所述第二三維大氣延遲模型即為所述系數確定的三維大氣延遲模型,其中,為根據所述第一三維大氣延遲模型計算得到的高質量點i的大氣延遲相位,為從所述解纏圖中獲得的高質量點i的大氣延遲相位,σ為誤差閾值。
2.根據權利要求1所述的地基干涉雷達三維大氣校正方法,其特征在于,所述選取所述差分干涉圖中的高質量點,具體包括:
計算所述差分干涉圖中各點的振幅離差,選取振幅離差小于預設閾值的點作為高質量點。
3.根據權利要求2所述的地基干涉雷達三維大氣校正方法,其特征在于,所述預設閾值為0.12。
4.根據權利要求1所述的地基干涉雷達三維大氣校正方法,其特征在于,所述誤差閾值的確定方法為:
根據計算所述誤差閾值σ,其中,分別為從所述解纏圖中獲得的高質量點1、高質量點2、高質量點i和高質量點q的大氣延遲相位,分別為根據所述第一三維大氣延遲模型計算得到高質量點1、高質量點2、高質量點i和高質量點q的大氣延遲相位,q為高質量點的數量。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國地質大學(北京),未經中國地質大學(北京)許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010720991.6/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





