[發明專利]太陽能電池片的電極缺陷檢測方法、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202010720251.2
• 申請日: 2020-07-24
• 公開（公告）號: CN111986159A
• 公開（公告）日: 2020-11-24
• 發明（設計）人: 謝宏威;印裕
• 申請（專利權）人: 蘇州威華智能裝備有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/62;G06K9/32;G06K9/34;H01L21/66
• 代理公司: 北京科家知識產權代理事務所(普通合伙) 11427
• 代理人: 宮建華

本發明公開了一種太陽能電池片的電極缺陷檢測方法、設備及存儲介質。電極缺陷檢測方法包括：獲取被檢測的太陽能電池片的原始圖像，并對原始圖像進行閾值分割獲得第一目標電極區域圖像；對第一目標電極區域圖像進行面積閾值檢測分割獲得第二目標電極區域圖像；對第二目標電極區域圖像進行形態學操作獲得第三目標電極區域圖像；對第三目標電極區域圖像進行區域形狀變換，以獲得其最小的外包矩形；對外包矩形進行參數輸出，獲得外包矩形的中心坐標和右下角坐標；對第三目標電極區域圖像依次進行投影操作，以獲得列像素坐標灰度平均值。本發明旨在替代人工進行太陽能電池片的電極缺陷檢測。

技術領域

本發明涉及機器視覺檢測技術領域，具體的，涉及一種太陽能電池片的電極缺陷檢測方法、設備及存儲介質。

背景技術

在太陽能電池組件生產過程中，電池片的生產是整個太陽能電池組件生產過程中的核心部分。電池片的主要生產流程為：制絨、擴散、濕法刻蝕、沉積薄膜、印刷電極和燒結。

由于上述太陽能電池組件生產過程復雜，不可避免地會因機器或認為人為因素使電池片出現表面缺陷，現階段國內主要依靠人工肉眼。電極溢出即為一種嚴重影響太陽能電池片品質的表面缺陷。目前，對電池片電極溢出檢測均采用人工目檢來識別該缺陷，受工人主觀性影響較大，而且會提高企業的成本和降低生產效率，且誤差率高。

因此，亟需一種可替代人工作業的太陽能電池片的電極缺陷檢測方法。

發明內容

本發明提供了一種太陽能電池片的電極缺陷檢測方法、設備及存儲介質，用以替代人工進行太陽能電池片的電極缺陷檢測。

為了解決上述技術問題，本發明的技術方案是：

一種太陽能電池片的電極缺陷檢測方法，包括：

獲取被檢測的太陽能電池片的原始圖像，并對所述原始圖像進行閾值分割，以獲得第一目標電極區域圖像；

對所述第一目標電極區域圖像進行面積閾值檢測分割，以獲得第二目標電極區域圖像；

對所述第二目標電極區域圖像進行形態學操作，以獲得第三目標電極區域圖像；

對所述第三目標電極區域圖像進行區域形狀變換，以獲得其最小的外包矩形；

對所述外包矩形進行參數輸出，獲得所述外包矩形的中心坐標和右下角坐標；

對所述第三目標電極區域圖像依次進行投影操作，以獲得列像素坐標灰度平均值，取部分區間的列像素坐標灰度平均值作為整體平均值，若列灰度平均值大于整體平均值，則視為電極溢出的像素點。

進一步的，對所述圖像進行閾值分割，以獲得第一目標電極區域圖像，包括：

采用預設閾值分割所述原始圖像，以獲得第一目標電極區域圖像；所述預設閾值為220至255。

進一步的，對所述第一目標電極區域圖像進行面積閾值檢測分割，以獲得第二目標電極區域圖像，包括：

對所述第一目標電極區域圖像進行面積特征閾值檢測分割，篩除所述第一目標電極區域圖像中不在面積區間內的區域，以獲得第二目標電極區域圖像；

所選面積區間為41000至700000。

進一步的，對所述第二目標電極區域圖像進行形態學操作，以獲得第三目標電極區域圖像，包括：

采用結構元素對所述第二目標電極區域圖像進行形態變換運算，所述形態變換運算采用先膨脹后腐蝕的閉運算，去除所述第二目標電極區域圖像中的干擾點；

所述結構元素選取為50×50的矩形。

進一步的，取部分區間的列像素坐標灰度平均值作為整體平均值為：