[發(fā)明專利]光學(xué)組件、用于檢測光學(xué)組件對位的方法以及電子設(shè)備

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010717604.3
• 申請日: 2020-07-23
• 公開（公告）號: CN111830656A
• 公開（公告）日: 2020-10-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 馮坤亮;鞠曉山;丁細(xì)超;李宗政
• 申請（專利權(quán)）人: 歐菲微電子技術(shù)有限公司
• 主分類號: G02B7/00
• 分類號: G02B7/00;G01B11/00
• 代理公司: 北京景聞知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11742
• 代理人: 么立雙

本發(fā)明公開了一種光學(xué)組件、用于檢測光學(xué)組件對位的方法以及電子設(shè)備，光學(xué)組件包括：第一光學(xué)元件以及第二光學(xué)元件，第一光學(xué)元件具有第一對位結(jié)構(gòu)，第一對位結(jié)構(gòu)具有凹凸紋路；第二光學(xué)元件具有第二對位結(jié)構(gòu)，第二光學(xué)元件與第一光學(xué)元件相對，且第二對位結(jié)構(gòu)與第一對位結(jié)構(gòu)相對。根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)組件，可通過激光照射第一對位結(jié)構(gòu)以及第二對位結(jié)構(gòu)的區(qū)域，以呈現(xiàn)出不同的圖形。第一對位結(jié)構(gòu)與第二對位結(jié)構(gòu)的相對位置不同，呈現(xiàn)出圖形不同，進(jìn)而可以通過呈現(xiàn)的圖形來檢測第一光學(xué)元件與第二光學(xué)元件是否對準(zhǔn)以及對準(zhǔn)的程度，簡單且便捷。同時，可便于根據(jù)呈現(xiàn)的圖形來調(diào)整第一光學(xué)元件和第二光學(xué)元件的相對位置。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其是涉及一種光學(xué)組件、用于檢測光學(xué)組件對位的方法以及電子設(shè)備。

背景技術(shù)

相關(guān)技術(shù)中，當(dāng)兩個或多個光學(xué)元件需要對準(zhǔn)時，通常可以使用機(jī)械定位對準(zhǔn)，或使用高倍顯微鏡對準(zhǔn)標(biāo)記。機(jī)械定位只能簡單對準(zhǔn)，精度不夠。高倍顯微鏡對準(zhǔn)標(biāo)記通常需要昂貴的設(shè)備投資，且不利于隨時隨地檢測實(shí)際成品對位效果。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此，本發(fā)明提出了一種光學(xué)組件，檢測所述光學(xué)組件的光學(xué)元件的對位情況簡單便捷。

本發(fā)明還提出了一種用于檢測光學(xué)組件對位的方法，所述光學(xué)組件為如上所述光學(xué)組件。

本發(fā)明還提出了一種電子設(shè)備，包括所述光學(xué)組件。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)組件，包括第一光學(xué)元件，所述第一光學(xué)元件具有第一對位結(jié)構(gòu)，所述第一對位結(jié)構(gòu)具有凹凸紋路；以及第二光學(xué)元件，所述第二光學(xué)元件具有第二對位結(jié)構(gòu)，所述第二光學(xué)元件與所述第一光學(xué)元件相對，且所述第二對位結(jié)構(gòu)與所述第一對位結(jié)構(gòu)相對。

根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的光學(xué)組件，可通過激光照射第一對位結(jié)構(gòu)以及第二對位結(jié)構(gòu)的區(qū)域，以呈現(xiàn)出不同的圖形。第一對位結(jié)構(gòu)與第二對位結(jié)構(gòu)的相對位置不同，呈現(xiàn)出圖形不同，進(jìn)而可以通過呈現(xiàn)的圖形來檢測第一光學(xué)元件與第二光學(xué)元件是否對準(zhǔn)以及對準(zhǔn)的程度，簡單且便捷。同時，便于根據(jù)呈現(xiàn)的圖形來調(diào)整第一光學(xué)元件和第二光學(xué)元件的相對位置。

在一些示例中，所述第一對位結(jié)構(gòu)包括：位于中心的圓柱凸起，多個圓環(huán)形凸起，從所述圓柱凸起的徑向內(nèi)側(cè)到徑向外側(cè)的方向上，多個所述圓環(huán)形凸起依次外套于所述圓柱凸起，且所述圓柱凸起與多個圓環(huán)形凸起同軸設(shè)置，加工方便的同時，可以便于觀察識別呈現(xiàn)的圖形，提高光學(xué)元件的對位的精度。

在一些示例中，激光適于穿過所述第一對位結(jié)構(gòu)，所述激光的光波長為w，所述第一對位結(jié)構(gòu)處的折射率為n₁，空氣折射率為n₀，則，h＝w/[2*(n₁-n₀)]，所述圓柱凸起與所述圓環(huán)形凸起的凸起高度均為H，H的取值范圍為0.5h-1.5h。如此，可以易于加工，同時可使得呈現(xiàn)的圖形清晰便于觀察識別，滿足光學(xué)組件的對位精度的需求。

在一些示例中，任意相鄰的兩個所述圓環(huán)形凸起之間的距離相等，和/或所述多個圓環(huán)形凸起的外徑與內(nèi)徑的差值均相等，以使得呈現(xiàn)圖形簡單，且易于觀察，同時，便于加工。

在一些示例中，任意相鄰的兩個所述圓環(huán)形凸起之間距離為D₁，D₁的取值范圍為0.2um-10um。如此，可以易于加工，同時可使得呈現(xiàn)的圖案清晰便于觀察識別，滿足對位精度的需求。

在一些示例中，所述第一光學(xué)元件和所述第二光學(xué)元件之間的垂直距離為D₂，D₂的取值范圍為0＜D₂≤100D₁。滿足了光學(xué)組件的小型化的設(shè)置的同時，可以便于激光的照射，滿足光學(xué)組件的對準(zhǔn)精度的需求。