[發明專利]一種用于X射線衍射儀在高溫下測量樣品特性的檢測裝置

有效

• 申請號: 202010715235.4
• 申請日: 2020-07-23
• 公開（公告）號: CN111624216B
• 公開（公告）日: 2023-09-19
• 發明（設計）人: 張所峰;劉川;王軍龍;胡婷婷
• 申請（專利權）人: 丹東通達科技有限公司
• 主分類號: G01N23/20033
• 分類號: G01N23/20033
• 代理公司: 北京高沃律師事務所 11569
• 代理人: 代芳

本發明公開一種用于X射線衍射儀在高溫下測量樣品特性的檢測裝置，包括固定底座、平移底座、中殼、前蓋。平移底座上有金屬加熱絲接線柱及冷卻通道、檢測溫度插座及冷卻通道、升降用平移微分頭裝置。中殼上均勻分布3個螺旋型卡塊、X射線進出通道、保護密封膜及中殼冷卻通道。多用途樣品架內均勻纏繞螺旋狀金屬加熱絲。防輻射弧形板為兩個弧形罩。前旋蓋通過螺旋型卡塊與中殼上的螺旋形卡塊相互旋轉并鎖緊，使其與中殼上密封圈緊密接觸。本發明采用多用途樣品架內均勻纏繞螺旋狀金屬加熱絲給樣品板加熱，并通過樣品板內溫度傳感器反饋溫度到控制軟件來調節并控制對樣品的加熱溫度，使樣品板上的樣品溫度始終穩定在設定溫度。

技術領域

本發明涉及高溫檢測裝置技術領域，特別是涉及一種用于X射線衍射儀在高溫下測量樣品特性的檢測裝置。

背景技術

X射線衍射儀以布拉格實驗裝置為原型，融合了機械與電子技術等多方面的成果，是以特征X射線照射多晶樣品，并以輻射探測器記錄衍射信息的衍射實驗裝置。X射線衍射儀可對物質結構及組成進行分析，在不破壞樣品的情況下，能夠準確地測定分子的結構。X射線衍射方法對研究結構體材料是非常理想非常有效的，而對于液體和非晶態物固體，這種方法也能提供許多基本的重要數據。所以X射線衍射法認為是最有效的工具。

現有的常規X射線衍射儀在測試樣品時只能在常溫空氣中檢測，只能測定出樣品在常溫下分子的結構及組成，不能測量高溫加熱中的樣品晶體結構變化或各種物質互相溶解的變化,需要一種能夠在高溫條件下檢測晶體樣品的檢測裝置。

發明內容

針對不能測量高溫加熱中的樣品晶體結構變化或各種物質互相溶解的變化的問題，本發明提供一種用于X射線衍射儀在高溫下測量樣品特性的檢測裝置。

為實現上述目的，本發明提供了如下方案：本發明提供一種用于X射線衍射儀在高溫下測量樣品特性的檢測裝置，包括固定底座、平移底座、中殼和前壓蓋；所述固定底座與衍射儀的前圓盤緊密配合并固定，所述平移底座安裝在所述固定底座上且可相對于固定底座滑動；所述中殼固定在所述平移底座上，所述中殼的中空腔室內設置有樣品架、樣品板和金屬加熱絲，金屬加熱絲接線柱一端通過接線銅柱與控制器加熱電纜連接，另一端連接所述樣品架內的金屬加熱絲，所述金屬加熱絲通過熱傳導將熱量傳導至所述樣品架上部的所述樣品板上并給樣品加熱；所述前壓蓋密封扣合在所述中殼的前端。

優選地，所述平移底座上裝有與所述固定底座上的直線導軌配合的導軌滑塊，通過手動旋轉固定在所述固定底座上的平移微分頭能夠實現所述平移底座相對于固定底座的升降運動；所述平移底座上裝有兩個進出氣接頭，且進出氣接頭處設置有密封堵頭，當需要使用惰性氣體時，可拆掉進出氣接頭上的密封堵頭對所述中殼內充入惰性氣體。

優選地，所述中殼在前端加工有均勻分布的3段外螺紋形狀的螺旋形卡塊；所述中殼在底端有中殼密封圈與平移底座實現密封，所述中殼在前端有前壓蓋密封圈與前壓蓋密封；在中殼密封圈外側裝有中殼冷卻銅管，通過與所述冷卻銅管連通的冷卻水嘴和中殼水管循環冷卻給中殼密封圈降溫。

優選地，所述中殼內部設置有與檢測溫度插座連接的溫度傳感器，且所述溫度傳感器設置于所述樣品板的內側，該溫度傳感器將樣品溫度通過檢測電纜反饋到控制器上；所述檢測溫度插座設有冷卻通道，通過冷卻水嘴給檢測溫度插座密封圈降溫。

優選地，所述樣品架內部均勻纏繞螺旋狀的所述金屬加熱絲，金屬加熱絲的兩端伸出部分作為金屬加熱絲的正、負極，分別與金屬加熱絲接線柱中的正極接線柱和負極接線柱連接。

優選地，所述樣品架的底部密封連接有導流空腔，所述導流空腔內為真空形態；所述樣品板的頂部對向設置有兩個弧形的防輻射弧形板，檢測裝置工作時，兩個所述防輻射弧形板將所述樣品板包覆。

優選地，所述金屬加熱絲接線柱的正負接線柱上均有冷卻通道，通過冷卻水嘴給金屬加熱絲接線柱密封圈降溫，金屬加熱絲接線柱上還裝有一個溫度開關，當金屬加熱絲接線柱的溫度達到溫度開關的設定溫度后將溫度開關自動關閉加熱系統。