[發(fā)明專利]一種PCI-E測(cè)試卡

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010714169.9
• 申請(qǐng)日: 2020-07-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111736094B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-05-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 韓雪濤;范文水;閆慶爍
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市微特精密科技股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/52
• 分類號(hào): G01R31/52;G01R31/54;G01R27/02;G01R19/25;G06F13/40
• 代理公司: 北京精金石知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11470
• 代理人: 尉月麗

本發(fā)明涉及電子測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種PCI?E測(cè)試卡，包括微處理器、電源接口電路、開(kāi)短路測(cè)試電路、電阻測(cè)試電路、電壓測(cè)試電路、IO擴(kuò)展電路、RS485通訊電路、USART通訊電路、Micro?USB接口電路、PCI?E接口電路、JTAG接口電路、撥碼開(kāi)關(guān)；本發(fā)明不僅能夠同時(shí)對(duì)主板、顯卡等進(jìn)行開(kāi)短路測(cè)試、電阻測(cè)試、電壓測(cè)試，還能對(duì)主板、顯卡等進(jìn)行通訊功能測(cè)試，測(cè)試種類齊全，能夠同時(shí)測(cè)試多種數(shù)據(jù)，操作簡(jiǎn)單、測(cè)試效率高，適用范圍廣，實(shí)用性強(qiáng)。

技術(shù)領(lǐng)域：

本發(fā)明涉及電子測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種PCI-E測(cè)試卡。

背景技術(shù)：

PCI-E(peripheral component interconnect express)是一種高速串行計(jì)算機(jī)擴(kuò)展總線標(biāo)準(zhǔn)，它原來(lái)的名稱為“3GIO”，是由英特爾在2001年提出的，旨在替代舊的PCI，PCI-X和AGP總線標(biāo)準(zhǔn)。PCI-E屬于高速串行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)雙通道高帶寬傳輸，所連接的設(shè)備獨(dú)享分配通道帶寬，主要支持主動(dòng)電源管理，錯(cuò)誤報(bào)告，端對(duì)端的可靠性傳輸，熱插拔以及服務(wù)質(zhì)量(QOS)等功能，主要優(yōu)勢(shì)在于數(shù)據(jù)傳輸速率高，而且還有相當(dāng)大的發(fā)展?jié)摿Α?/p>

在工業(yè)生產(chǎn)中為了確保主板、顯卡等不存在異常，在投入使用前都需要進(jìn)行詳細(xì)的測(cè)試。目前市場(chǎng)上存在的電阻測(cè)試儀、開(kāi)短路測(cè)試儀等相關(guān)測(cè)試儀器大多功能單一，無(wú)法同時(shí)測(cè)試多種數(shù)據(jù)。將待測(cè)試主板、顯卡等經(jīng)由電阻測(cè)試儀、開(kāi)短路測(cè)試儀等各種測(cè)試儀器測(cè)試，不僅操作較為麻煩，而且測(cè)試效率低下。

發(fā)明內(nèi)容：

本發(fā)明的目的就是針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足而提供一種PCI-E測(cè)試卡，測(cè)試種類齊全，能夠同時(shí)測(cè)試多種數(shù)據(jù)，操作簡(jiǎn)單、測(cè)試效率高，適用范圍廣，實(shí)用性強(qiáng)。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用的技術(shù)方案是：一種PCI-E測(cè)試卡，包括微處理器、電源接口電路、開(kāi)短路測(cè)試電路、電阻測(cè)試電路、電壓測(cè)試電路、IO擴(kuò)展電路、RS485通訊電路、USART通訊電路、Micro-USB接口電路、PCI-E接口電路、JTAG接口電路、撥碼開(kāi)關(guān)；所述電源接口電路包括電源接口，電源接口電路的輸出端與微處理器的電源輸入端電連接；所述開(kāi)短路測(cè)試電路，用于測(cè)試主板的開(kāi)短路，開(kāi)短路測(cè)試電路與微處理器電連接；所述電阻測(cè)試電路，用于測(cè)試主板的電阻，電阻測(cè)試電路與微處理器電連接；所述電壓測(cè)試電路，用于測(cè)試主板的電壓，電壓測(cè)試電路與微處理器電連接；所述IO擴(kuò)展電路，用于IO接口的擴(kuò)展，IO擴(kuò)展電路與微處理器雙向連接；所述RS485通訊電路包括RS485接口，用于測(cè)試卡的級(jí)聯(lián)和遠(yuǎn)程監(jiān)控，RS485通訊電路與微處理器雙向連接；所述USART通訊電路包括USART接口，USART通訊電路與微處理器雙向連接；所述Micro-USB接口電路包括Micro-USB接口，用于測(cè)試參數(shù)設(shè)定、測(cè)試卡運(yùn)行監(jiān)控，Micro-USB接口電路與微處理器雙向連接；所述PCI-E接口電路包括PCI-E接口，PCI-E接口電路與微處理器雙向連接；所述JTAG接口電路包括JTAG接口，JTAG接口電路與微處理器雙向連接；所述撥碼開(kāi)關(guān)，用于配置測(cè)試卡的通訊地址，撥碼開(kāi)關(guān)與微處理器電連接。

對(duì)上述方案的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述IO擴(kuò)展電路包括IO擴(kuò)展口芯片，IO擴(kuò)展口芯片為CAT955YI-T2芯片。

對(duì)上述方案的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述開(kāi)短路測(cè)試電路包括控制開(kāi)關(guān)集成電路，控制開(kāi)關(guān)集成電路的輸入端與PCI-E接口上的開(kāi)短路測(cè)試點(diǎn)電連接，控制開(kāi)關(guān)集成電路的輸出端與微處理電連接。

對(duì)上述方案的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述開(kāi)短路測(cè)試電路還包括第一多路復(fù)用器，第一多路復(fù)用器的輸入端與PCI-E接口上的開(kāi)短路測(cè)試點(diǎn)電連接，第一多路復(fù)用器的輸出端與控制開(kāi)關(guān)集成電路的輸入端電連接。

對(duì)上述方案的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述第一多路復(fù)用器包括七個(gè)輸入端，第一多路復(fù)用器的七個(gè)輸入端分別與PCI-E接口上的七個(gè)開(kāi)短路測(cè)試點(diǎn)電連接。

對(duì)上述方案的進(jìn)一步改進(jìn)為，所述電阻測(cè)試電路包括精密運(yùn)算放大器、緩沖器。