[發(fā)明專利]一種墻面垂直度與平整度的測量方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010714126.0
• 申請日: 2020-07-22
• 公開（公告）號: CN111780734A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊倫;徐明坤;喻超;王澤良;蘭朝杰
• 申請（專利權(quán)）人: 四川省第十一建筑有限公司
• 主分類號: G01C15/12
• 分類號: G01C15/12;G01D21/02
• 代理公司: 成都智言知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51282
• 代理人: 濮云杉

1.一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟A：在墻面的一側(cè)設(shè)置全站儀自由測點(diǎn)0’，建立自由坐標(biāo)系X’O’Y’，并使得墻面的四個角點(diǎn)均落在全站儀的測量范圍內(nèi),其中位于墻面的頂部點(diǎn)分別為A點(diǎn)和D點(diǎn)，位于墻面的底部點(diǎn)分別為B點(diǎn)和C點(diǎn)；

步驟B：建立標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系XOY，標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系XOY的X軸平行于墻面，標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系的XOY的Y軸垂直于墻面；

步驟C：使用全站儀分別采集四個角點(diǎn)在自由坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(Xn’，Yn’)；

步驟D：將四個角在自由坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(Xn’，Yn’)轉(zhuǎn)化成標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(Xn，Yn)

步驟E：計算墻面的垂直度偏差值為θ＝(Ya+Yd)/2-(Yb+Yc)/2，計算測點(diǎn)間距L＝(Xa+Xd)/2-(Xb+Xc)/2

則墻面的垂直度為：M＝θ/L。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：步驟D中具體包括：

D1：用全站儀檢測標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系XOY的原點(diǎn)O在自由坐標(biāo)系X’O’Y’中的坐標(biāo)(Xo’，Yo’)；

D2：用全站儀檢測標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系XOY中X軸上任意一點(diǎn)P在自由坐標(biāo)系X’O’Y’中的坐標(biāo)(Xp’,Yp’)；

D3：計算直線OP在自由坐標(biāo)系X’O’Y’中的方位角αop，兩坐標(biāo)系間的旋轉(zhuǎn)參數(shù)α＝αop，確定兩坐標(biāo)系間的平移參數(shù)a＝Xo’,b＝Y(jié)o’；

D4：運(yùn)用轉(zhuǎn)換公式Xn＝cosα(Xn’-a)-sinα(Yn’-b),Yn＝sinα(Xn’-a)-cosα(Yn’-b)將自由坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(Xn’,Yn’)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于，所述步驟D3中計算直線OP在自由坐標(biāo)系X’O’Y’中的方位角αop的方法如下：

OP的象限角θop＝arctan((Yp’-Yo’)/(Xp’-Xo’))；

當(dāng)Xp’-Xo’≥0,Yp’-Yo’≥0時，αop＝θop；

當(dāng)Xp’-Xo’0，Yp’-Yo’≥0時，αop＝θop+180°；

當(dāng)Xp’-Xo’0，Yp’-Yo’0時，αop＝θop+180°；

當(dāng)Xp’-Xo’≥0，Yp’-Yo’0時，αop＝θop+360°。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：所述步驟E中還包括計算墻面的平整度，當(dāng)Yn0時，平整度＝Y(jié)n+d，當(dāng)Yn0時，平整度＝Y(jié)n-d，其中d為標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系XOY的原點(diǎn)O在Y軸上離墻面的距離。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：所述步驟C中具體包括如下步驟：制作測量角尺，測量角尺兩側(cè)邊分別設(shè)有氣泡和反射片，將測量角尺貼合墻面并將反射片抵靠各角點(diǎn)，調(diào)整各角點(diǎn)測量角尺至氣泡位于水平位置，采用全站儀分別測量四個角點(diǎn)在自由坐標(biāo)系中的坐標(biāo)(Xn’，Yn’)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：所述全站儀遠(yuǎn)離墻面的距離不小于墻面高度的1.5倍。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：所述全站儀為紅外線全站儀。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：所述步驟B中，標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)系XOY的原點(diǎn)O與墻面的一個角點(diǎn)重合。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：所述全站儀的目鏡為彎管目鏡。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種墻面垂直度與平整度的測量方法，其特征在于：所述步驟D中具體包括：所述全站儀的測角精度為2”,測距精度為2+2Dppm。