[發(fā)明專利]掃描安全數(shù)字輸入輸出接口窗口的實現(xiàn)方法和裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010712975.2
• 申請日: 2020-07-22
• 公開（公告）號: CN111858215A
• 公開（公告）日: 2020-10-30
• 發(fā)明（設計）人: 李湘錦;張鵬;賈宗銘
• 申請（專利權(quán)）人: 記憶科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 黃文鋒

本申請涉及一種掃描安全數(shù)字輸入輸出接口窗口的實現(xiàn)方法、裝置、計算機設備和存儲介質(zhì)，其中該方法包括：在SDIO和SDIO控制器之間接入延時模塊和延時控制模塊，所述延時模塊包括多個延時單元，所述延時控制模塊用于控制所述延時模塊；在芯片進行FT測試時，給所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同時輸入同相位的時鐘；啟動內(nèi)部掃描程序，得到SDIO_CLK采樣DAT IO的最佳窗口；將得到的SDIO_CLK采樣DAT IO的最佳窗口燒寫到一次性可編程儲存器中，供后續(xù)使用。本發(fā)明通過加入輸入接口的校準技術(shù)，保證在不同的工藝角下，通過調(diào)相以滿足采樣標準，減輕各工藝角下時序收斂的難度。

技術(shù)領域

本發(fā)明涉及固態(tài)存儲技術(shù)領域，特別是涉及一種掃描安全數(shù)字輸入輸出接口窗口的實現(xiàn)方法、裝置、計算機設備和存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著固態(tài)硬盤價格的下跌，固態(tài)硬盤越來越普及，SSD(Solid State Drive)以其優(yōu)越的性能更是發(fā)展迅猛，各大電腦廠商紛紛將硬盤做成SSD，從可靠性和性能方面為用戶提供較好的體驗。

目前，在傳統(tǒng)技術(shù)中芯片都是通過SDIO slave device(安全數(shù)字輸入輸出接口從設備)來實現(xiàn)安全數(shù)字輸入輸出。具體地，接收從外部輸入的SD_CLK(接口時鐘)，設備根據(jù)SD_CLK采樣SD_DATA(接口數(shù)據(jù))。然而，在芯片設計的時候，如果CLK delay在各corner(工藝角)下的延時波動比較大，那么就會導致在各工藝角下時序收斂會很困難。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，有必要針對上述技術(shù)問題，提供一種可以減輕各工藝角下時序收斂難度的掃描安全數(shù)字輸入輸出接口窗口的實現(xiàn)方法、裝置、計算機設備和存儲介質(zhì)。

一種掃描安全數(shù)字輸入輸出接口窗口的實現(xiàn)方法，所述方法包括：

在SDIO和SDIO控制器之間接入延時模塊和延時控制模塊，所述延時模塊包括多個延時單元，所述延時控制模塊用于控制所述延時模塊；

在芯片進行FT測試時，給所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同時輸入同相位的時鐘；

啟動內(nèi)部掃描程序，得到SDIO_CLK采樣DAT IO的最佳窗口；

將得到的SDIO_CLK采樣DAT IO的最佳窗口燒寫到一次性可編程儲存器中，供后續(xù)使用。

在其中一個實施例中，所述延時控制模塊還用于通過選取所述延時模塊中延時單元的數(shù)量，以實現(xiàn)對所述延時模塊的延時進行控制。

在其中一個實施例中，所述延時控制模塊還包括相位監(jiān)測單元，所述相位監(jiān)測單元用于監(jiān)測經(jīng)過延時后信號的相位。

在其中一個實施例中，所述啟動內(nèi)部掃描程序，得到SDIO_CLK采樣DAT IO的最佳窗口的步驟包括：

通過所述延時控制模塊增加延時單元數(shù)量并進行采樣；

分別記錄下經(jīng)過一次延時的第一相位和經(jīng)過二次延時的第二相位的采樣值，并保證分別采樣到上升沿一次及下降沿一次；

分別記錄采樣到上升沿和下降沿對應的延時單元數(shù)量，并取平均值得到SDIO_CLK采樣DAT IO的最佳窗口；

輸出phase_lock以表示掃描完成。

一種掃描安全數(shù)字輸入輸出接口窗口的實現(xiàn)裝置，所述裝置包括：

接入模塊，所述接入模塊用于在SDIO和SDIO控制器之間接入延時模塊和延時控制模塊，所述延時模塊包括多個延時單元，所述延時控制模塊用于控制所述延時模塊；

時鐘輸入模塊，所述時鐘輸入模塊用于在芯片進行FT測試時，給所述SDIO中的SDIO_CLK端口和DAT IO端口同時輸入同相位的時鐘；