[發明專利]一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法

在審

• 申請號: 202010712577.0
• 申請日: 2020-07-23
• 公開（公告）號: CN112084251A
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 袁兆憲;張生元;汪海城
• 申請（專利權）人: 河北地質大學
• 主分類號: G06F16/26
• 分類號: G06F16/26;G06F16/2458;G01N23/223
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，所述方法包括以下步驟：

（1）測定每個元素的檢出限；

（2）原位測量獲得批量讀數；

（3）用檢出限標準化讀數（讀數/檢出限）；

（4）按一定間隔將（3）的結果分段；

（5）統計每段的讀數的頻率；

（6）以分段區間為橫坐標、以頻率為縱坐標畫數據結構圖；

（7）根據每個元素讀數的數據結構對其進行評價、篩選。

2.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述步驟（1）中每個元素的檢出限可按照通用的方法分別測定，統一使用儀器檢出限或方法檢出限，得到LOD_i（其中i代表不同元素種類）。

3.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述步驟（2）中為對批量樣品或樣點進行原位測量，獲得批量讀數R_ij（（i代表不同元素種類，j代表在不同樣品或樣點上的讀數）。

4.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述步驟（3）中為使用每個元素各自的檢出限標準化每個元素的所有讀數（R_ij/LOD_i），獲得經LOD標準化后的讀數R’_ij（后面簡寫為R’）。

5.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述步驟（4）中的分段方法為：以a、b、c…x（a、b、c…x∈R’）為分割點，將步驟（3）的結果R’分為R’_a、R’_a–b、R’_b–c…R’_x。

6.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述步驟（5）中頻率計算方法為：計算R’_a的頻率，即R’_a的頻數除以R’總個數，得到F_a，以此類推，分別獲得F_a–b、F_b–c…F_x等各段的頻率。

7.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述步驟（6）中的數據結構圖的形式包括但不限于折線圖、散點圖、柱狀圖等。

8.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述步驟（7）中的評價、篩選方法為：在步驟（6）獲得的數據結構圖中，標準化的讀數落在的區間個數越多、各段頻率相差越小，則數據跨度區間越大，測量結果越適于趨勢性分析，若僅落在一個區間，則數據分布集中，測量結果應慎用于趨勢性分析。

9.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述XRF的載體為X射線熒光光譜儀，包括但不限于臺式X射線熒光光譜儀、便攜式X射線熒光光譜儀、手持式X射線熒光光譜儀、在線式X射線熒光光譜儀、巖心掃描儀等。

10.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述的原位為不經過取樣、破碎、磨粉、熔融等樣品處理的對樣品的直接分析，及野外、現場對樣品的直接分析。

11.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述的數據結構為經檢出限標準化和分段統計頻率后讀數表現出來的分布特征。

12.根據權利要求1所述的一種基于數據結構的原位XRF讀數評價、篩選方法，其特征在于，所述的數據結構用數據結構圖的形式表現，實現將無對比性的不同元素的讀數置于同一張數據結構圖中進行對比，不同元素的評價、篩選具有過程、標準一致性。