[發明專利]校正掃描圖像的方法和裝置以及圖像掃描系統

在審

• 申請號: 202010711447.5
• 申請日: 2020-07-22
• 公開（公告）號: CN113077391A
• 公開（公告）日: 2021-07-06
• 發明（設計）人: 劉必成;于昊;王偉珍;徐光明;遲豪杰;孫尚民;宗春光;胡煜
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 中國貿促會專利商標事務所有限公司 11038
• 代理人: 許蓓

1.一種校正掃描圖像的方法，其特征在于，包括：

獲取被掃描對象的掃描圖像；

從所述掃描圖像中檢測一個或多個參照物；

根據預設的參照物的標準參數，確定每個參照物的變形參數；

根據所述一個或多個參照物的變形參數，對所述掃描圖像進行校正。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，對所述掃描圖像進行校正包括：

在從所述掃描圖像中檢測到多個參照物且所述多個參照物的變形參數不同的情況下，根據每個參照物的變形參數對所述掃描圖像中的不同部分的圖像分別進行校正；

或者，在從所述掃描圖像中檢測到多個參照物且所述多個參照物的變形參數相同的情況下，根據所述相同的變形參數對整個的所述掃描圖像進行校正；

或者，在從所述掃描圖像中檢測到一個參照物的情況下，根據所述一個參照物的變形參數對整個的所述掃描圖像進行校正。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在從所述掃描圖像中檢測到多個參照物且所述多個參照物的變形參數不同的情況下，根據每個參照物的變形參數對所述掃描圖像中的不同部分的圖像分別進行校正，包括：

根據多個參照物的位置和數量，將所述掃描圖像劃分為相同數量的多個部分，不同的參照物被劃分在所述掃描圖像的不同的部分；

根據每個參照物的變形參數對所述掃描圖像中的所述參照物所在部分的圖像分別進行校正。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，在從所述掃描圖像中檢測到多個參照物且所述多個參照物的變形參數不同的情況下，根據每個參照物的變形參數對所述掃描圖像中的不同部分的圖像分別進行校正，包括：

在所述掃描圖像中的相鄰兩個參照物之間設置一個或多個過渡區域，所述一個或多個過渡區域的變形參數根據所述相鄰兩個參照物的變形參數確定；

將所述掃描圖像劃分為每個參照物所在的部分以及相鄰兩個參照物之間的一個或多個過渡區域；

根據每個參照物的變形參數對所述掃描圖像中的所述參照物所在部分的圖像分別進行校正；

根據每個過渡區域的變形參數對相應過渡區域的圖像分別進行校正。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，

將相鄰兩個參照物的變形參數按照相應的加權系數加權求和得到相鄰兩個參照物之間的每個過渡區域的變形參數，其中，越靠近過渡區域的參照物的加權系數越大。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，從所述掃描圖像中檢測一個或多個參照物包括：

利用目標檢測模型，將參照物作為待檢測的目標，從所述掃描圖像中檢測一個或多個參照物。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述目標檢測模型包括：

區域卷積神經網絡R-CNN模型，YOLO模型，單次多盒檢測器SSD，弱監督目標檢測模型WSOD，或者，方向梯度直方圖HOG和支持向量機SVM的組合。

8.根據權利要求2-5任一項所述的方法，其特征在于，對所述掃描圖像進行校正包括：

如果變形參數表示待校正的圖像在垂直方向被拉伸，按照垂直方向的拉伸程度，對待校正的圖像在水平方向進行相應校正程度的像素插值處理和在垂直方向進行相應校正程度的像素采樣處理中的至少一項；

如果變形參數表示待校正的圖像在水平方向被拉伸，按照水平方向的拉伸程度，對待校正的圖像在水平方向進行相應校正程度的像素采樣處理和在垂直方向進行相應校正程度的像素插值處理中的至少一項；

其中，待校正的圖像為整個的所述掃描圖像或者所述掃描圖像的不同部分的圖像。

9.根據權利要求1-7任一項所述的方法，其特征在于，

所述參照物為所述被掃描對象的已知形狀或已知尺寸比例的部分。