[發明專利]溫度檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 202010701062.0
• 申請日: 2020-07-20
• 公開（公告）號: CN111964786B
• 公開（公告）日: 2021-08-31
• 發明（設計）人: 許德海;袁龍剛;汪偉;賈宗華
• 申請（專利權）人: 四川虹美智能科技有限公司
• 主分類號: G01J5/00
• 分類號: G01J5/00;G06T7/00
• 代理公司: 濟南信達專利事務所有限公司 37100
• 代理人: 李世喆

1.溫度檢測方法，其特征在于，包括：

獲取紅外探測器針對測溫目標所采集到的紅外圖像，其中，所述紅外圖像包括有至少一個像元；

確定采集所述紅外圖像時所述測溫目標所處環境的環境溫度；

針對所述紅外圖像所包括的每一個所述像元，均執行：

將該像元的像元值確定為第一像元值；

根據與所述紅外探測器相對應的漂移參數，對所述第一像元值進行漂移校正，獲得第二像元值；

根據所述環境溫度和所述第二像元值，確定該像元的輸出溫度；

根據所述紅外圖像中各個像元的所述輸出溫度，確定所述測溫目標的溫度；

根據所述紅外探測器標定的熱漂移參數，對所述第一像元值進行漂移校正，獲得第二像元值，包括：

獲取所述紅外探測器標定的熱漂移參數，其中，所述熱漂移參數包括熱梯度、熱偏移和熱系數；

根據所述熱梯度、所述熱偏移和所述熱系數，通過如下第一公式對所述第一像元值進行熱漂移校正，獲得第三像元值；

所述第一公式包括：

其中，所述V_{ij_Comp}用于表征所述第三像元值，所述V_ij用于表征所述第一像元值，所述ThGrad_ij用于表征所述熱梯度，存儲在EEPROM中，所述ThOffset_ij用于表征所述熱偏移，存儲在EEROM中，所述gradScale用于表征熱系數，存儲在EEPROM中，所述PTAT_av用于表征平均像元值；

根據所述第三像元值確定所述第二像元值。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述第三像元值確定所述第二像元值，包括：

獲取所述紅外探測器針對該像元輸出的電漂移參數，其中，所述電漂移參數包括電漂移；

如果該像元位于所述紅外圖像的上半部分，則通過如下第二公式，對所述第三像元值進行電漂移校正，獲得第四像元值；

所述第二公式包括：

如果該像元位于所述紅外圖像的下半部分，則通過如下第三公式，對所述第三像元值進行電漂移校正，獲得第四像元值；

所述第三公式包括：

其中，所述用于表征所述第四像元值，所述elOffset[i，j]用于表征所述電漂移，所述mod(·)用于表征求余函數，所述N用于表征像元的列數；

根據所述第四像元值確定所述第二像元值。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述根據所述第四像元值確定所述第二像元值，包括：

獲取所述紅外探測器標定的供電電壓參數，其中，所述供電電壓參數包括供電電壓補償梯度和供電電壓補償漂移；

如果該像元位于所述紅外圖像的上半部分，則通過如下第四公式，對所述第四像元值進行供電電壓校正，獲得第五像元值；

所述第四公式包括：

如果該像元位于所述紅外圖像的下半部分，則通過如下第五公式，對所述第四像元值進行供電電壓校正，獲得第五像元值；

所述第五公式包括：

其中，所述V_{ij_VDDComp}用于表征所述第五像元值，所述VddCompGrad[i，j]用于表征所述供電電壓補償梯度，所述VddCompOff[i，j]用于表征所述供電電壓補償漂移，所述VDD_av用于表征測量的平均供電電壓，所述VddScGrad、VddScOff用于表征歸一化系數，所述VDD_TH1用于表征校正1的供電電壓，所述VDD_TH2校正2的供電電壓，所述PTAT_av用于表征平均像元值，所述PTAT_TH1用于表征校正1的平均像元值，所述PTAT_TH2用于表征校正2的平均像元值；

根據所述第五像元值確定所述第二像元值。