[發明專利]復合絕緣子的評價方法、評價裝置、處理器和評價系統在審
| 申請號： | 202010699766.9 | 申請日： | 2020-07-17 |
| 公開（公告）號： | CN111812468A | 公開（公告）日： | 2020-10-23 |
| 發明（設計）人： | 張睿哲;周愷;葉寬;蔡瀛淼;楊亮;李春生 | 申請（專利權）人： | 國網北京市電力公司;國家電網有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/12 | 分類號： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240 | 代理人： | 霍文娟 |
| 地址： | 100031 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 復合 絕緣子 評價 方法 裝置 處理器 系統 | ||
1.一種復合絕緣子的評價方法，其特征在于，包括：
獲取復合絕緣子的評價數據，所述評價數據包括閃絡電壓、表面侵蝕數據和內部侵蝕數據，所述閃絡電壓為所述復合絕緣子進行放電試驗發生沿面閃絡時的電壓，所述表面侵蝕數據和所述內部侵蝕數據為所述復合絕緣子進行放電試驗后檢測侵蝕部位得到的數據；
根據所述評價數據生成評價報告。
2.根據權利要求1所述的評價方法，其特征在于，所述表面侵蝕數據包括表面副產物含量，所述內部侵蝕數據包括侵蝕深度和侵蝕面積比，所述侵蝕面積比為所述復合絕緣子的截面中裂紋面積與截面面積之比。
3.根據權利要求1所述的評價方法，其特征在于，根據所述評價數據生成評價報告，包括：
根據所述閃絡電壓確定所述復合絕緣子的表面耐電痕性的等級。
4.根據權利要求1所述的評價方法，其特征在于，根據所述評價數據生成評價報告，包括：
根據所述表面侵蝕數據和所述內部侵蝕數據確定所述復合絕緣子的抗性的等級。
5.一種復合絕緣子的評價裝置，其特征在于，包括：
獲取單元，用于獲取復合絕緣子的評價數據，所述評價數據包括閃絡電壓、表面侵蝕數據和內部侵蝕數據，所述閃絡電壓為所述復合絕緣子進行放電試驗發生沿面閃絡時的電壓，所述表面侵蝕數據和所述內部侵蝕數據為所述復合絕緣子進行放電試驗后檢測侵蝕部位得到的數據；
生成單元，用于根據所述評價數據生成評價報告。
6.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質包括存儲的程序，其中，所述程序執行權利要求1至4中任意一項所述的評價方法。
7.一種處理器，其特征在于，所述處理器用于運行程序，其中，所述程序運行時執行權利要求1至4中任意一項所述的評價方法。
8.一種評價系統，包括放電試驗裝置和復合絕緣子的評價裝置，其特征在于，所述放電試驗裝置用于對復合絕緣子進行放電試驗，所述評價裝置用于執行權利要求1至4中任意一項所述的復合絕緣子的評價方法。
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