[發(fā)明專利]一種光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010697767.X | 申請(qǐng)日: | 2020-07-20 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111929695A | 公開(公告)日: | 2020-11-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊鵬;李文建;王兆民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳奧比中光科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01S17/08 | 分類號(hào): | G01S17/08;G06T7/73 |
| 代理公司: | 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44414 | 代理人: | 葉思 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光學(xué) 信息 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,包括:投影組件、投影屏、第一成像模組、光學(xué)信息檢測(cè)裝置;
所述投影組件,用于將投影圖案投射至所述投影屏;
所述第一成像模組,用于采集投射至投影屏的第一圖像,所述第一圖像包括目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案;
所述光學(xué)信息檢測(cè)裝置,用于接收第一成像模組采集的所述第一圖像并對(duì)所述第一圖像進(jìn)行特征提取以得到第一特征信息;獲取預(yù)設(shè)參考全場(chǎng)投影圖案的第二特征信息、第一圖形信息,所述圖形信息包括零級(jí)信息和/或次級(jí)信息;計(jì)算所述第一特征信息和所述第二特征信息之間的第一映射關(guān)系;根據(jù)所述第一映射關(guān)系將所述第一圖形信息映射至所述目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案,得到所述目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案對(duì)應(yīng)的第二圖形信息;根據(jù)所述第二圖形信息,計(jì)算目標(biāo)光學(xué)信息。
2.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述投影組件與所述第一成像模組分別設(shè)置于所述投影屏的兩側(cè),或者所述投影組件與所述第一成像模組設(shè)置于所述投影屏的同側(cè)。
3.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述第一成像模組的攝像頭包括廣角攝像頭。
4.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述第一成像模組包括紅外相機(jī)。
5.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述投影組件包括光源和衍射光學(xué)元件,所述衍射光學(xué)元件設(shè)于所述光源的出光路徑上,所述衍射光學(xué)元件用于將所述光源產(chǎn)生的光投射至所述投影屏,以形成投影圖案。
6.如權(quán)利要求5所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光源包括邊發(fā)射激光器、垂直腔面發(fā)射激光器VCSEL、VCSEL陣列或發(fā)光二極管。
7.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),還包括:標(biāo)定圖案投影儀,第二成像模組;
所述標(biāo)定圖案投影儀,用于將標(biāo)定圖案投射至投影屏上;
所述第一成像模組,用于采集第一標(biāo)定圖案;
所述第二成像模組,還用于采集第二標(biāo)定圖案;
所述光學(xué)信息檢測(cè)裝置,在根據(jù)所述第一映射關(guān)系將所述第一圖形信息映射至所述目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案,得到所述目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案對(duì)應(yīng)的第二圖形信息之后,還用于獲取由所述第
一成像模組采集的第一標(biāo)定圖案和所述第二成像模組采集的第二標(biāo)定圖案;計(jì)算所述第一標(biāo)定圖案和所述第二標(biāo)定圖案之間的第二映射關(guān)系;根據(jù)所述第二映射關(guān)系將所述第二圖形信息映射至所述第二標(biāo)定圖案,得到所述第二標(biāo)定圖案的第三圖形信息;根據(jù)所述第三圖形信息,計(jì)算所述第二成像模組與所述投影組件的光軸夾角。
8.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述光學(xué)信息檢測(cè)裝置中包括的處理器的數(shù)量為一個(gè)或者多個(gè)。
9.如權(quán)利要求1所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述投影屏為可顯示標(biāo)定圖案器件;所述光學(xué)信息檢測(cè)裝置,還包括:第二成像模組;
所述投影組件,用于將投影圖案投射至所述可顯示標(biāo)定圖案器件;
所述第一成像模組,用于采集投射至所述可顯示標(biāo)定圖案器件的第一圖像,所述第一圖像包括目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案;
所述可顯示標(biāo)定圖案器件,用于顯示標(biāo)定圖案;
所述第一成像模組,用于采集第一標(biāo)定圖案;
所述第二成像模組,還用于采集第二標(biāo)定圖案;
所述光學(xué)信息檢測(cè)裝置,在根據(jù)所述第一映射關(guān)系將所述第一圖形信息映射至所述目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案,得到所述目標(biāo)全場(chǎng)投影圖案對(duì)應(yīng)的第二圖形信息之后,還用于獲取由所述第一成像模組采集的第一標(biāo)定圖案和所述第二成像模組采集的第二標(biāo)定圖案;計(jì)算所述第一標(biāo)定圖案和所述第二標(biāo)定圖案之間的第二映射關(guān)系;根據(jù)所述第二映射關(guān)系將所述第二圖形信息映射至所述第二標(biāo)定圖案,得到所述第二標(biāo)定圖案的第三圖形信息;根據(jù)所述第三圖形信息,計(jì)算所述第二成像模組與所述投影組件的光軸夾角。
10.如權(quán)利要求9所述的光學(xué)信息檢測(cè)系統(tǒng),其特征在于,所述可顯示標(biāo)定圖案器件包括液晶標(biāo)定板或者背光標(biāo)定板,所述液晶標(biāo)定板或者所述背光標(biāo)定板上設(shè)置有標(biāo)定圖案,所述標(biāo)定圖案包括棋盤格或者圓點(diǎn)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳奧比中光科技有限公司,未經(jīng)深圳奧比中光科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010697767.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01S 無線電定向;無線電導(dǎo)航;采用無線電波測(cè)距或測(cè)速;采用無線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類似裝置
G01S17-00 應(yīng)用除無線電波外的電磁波的反射或再輻射系統(tǒng),例如,激光雷達(dá)系統(tǒng)
G01S17-02 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波反射的系統(tǒng)
G01S17-66 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波的跟蹤系統(tǒng)
G01S17-74 .應(yīng)用除無線電波外的電磁波的再輻射系統(tǒng),例如IFF,即敵我識(shí)別
G01S17-87 .應(yīng)用除無線電波外電磁波的系統(tǒng)的組合
G01S17-88 .專門適用于特定應(yīng)用的激光雷達(dá)系統(tǒng)
- 信息記錄介質(zhì)、信息記錄方法、信息記錄設(shè)備、信息再現(xiàn)方法和信息再現(xiàn)設(shè)備
- 信息記錄裝置、信息記錄方法、信息記錄介質(zhì)、信息復(fù)制裝置和信息復(fù)制方法
- 信息記錄裝置、信息再現(xiàn)裝置、信息記錄方法、信息再現(xiàn)方法、信息記錄程序、信息再現(xiàn)程序、以及信息記錄介質(zhì)
- 信息記錄裝置、信息再現(xiàn)裝置、信息記錄方法、信息再現(xiàn)方法、信息記錄程序、信息再現(xiàn)程序、以及信息記錄介質(zhì)
- 信息記錄設(shè)備、信息重放設(shè)備、信息記錄方法、信息重放方法、以及信息記錄介質(zhì)
- 信息存儲(chǔ)介質(zhì)、信息記錄方法、信息重放方法、信息記錄設(shè)備、以及信息重放設(shè)備
- 信息存儲(chǔ)介質(zhì)、信息記錄方法、信息回放方法、信息記錄設(shè)備和信息回放設(shè)備
- 信息記錄介質(zhì)、信息記錄方法、信息記錄裝置、信息再現(xiàn)方法和信息再現(xiàn)裝置
- 信息終端,信息終端的信息呈現(xiàn)方法和信息呈現(xiàn)程序
- 信息創(chuàng)建、信息發(fā)送方法及信息創(chuàng)建、信息發(fā)送裝置
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





