[發(fā)明專利]光學(xué)檢測單元、光學(xué)檢測裝置和電子設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010695997.2 | 申請日: | 2020-07-17 |
| 公開(公告)號: | CN113945271A | 公開(公告)日: | 2022-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉偉;黃昌斌;劉政;肖青;武廣文;蘇丹丹;王志 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市萬普拉斯科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J1/04 | 分類號: | G01J1/04;G02B5/20 |
| 代理公司: | 深圳市嘉勤知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44651 | 代理人: | 王敏生 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光學(xué) 檢測 單元 裝置 電子設(shè)備 | ||
本申請公開一種光學(xué)檢測單元,用于接收透過一個(gè)鏡頭組件的檢測光束并轉(zhuǎn)換接收到的檢測光束為電信號,所述電信號用于生成圖像或感測光強(qiáng),所述光學(xué)檢測單元包括第一光學(xué)芯片,用于接收所述檢測光束并轉(zhuǎn)換為電信號,以生成相應(yīng)的圖像;以及第二光學(xué)芯片,用于接收所述檢測光束并轉(zhuǎn)換為電信號,以感測所述檢測光束的光強(qiáng)大小。本申請還公開了一種光學(xué)檢測裝置和電子設(shè)備。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及光電領(lǐng)域,具體而言,涉及一種光學(xué)檢測單元、光學(xué)檢測裝置和電子設(shè)備。
背景技術(shù)
隨著技術(shù)進(jìn)步和人們生活水平提高,對于手機(jī)、平板電腦等電子產(chǎn)品,用戶要求具有更多功能和時(shí)尚外觀。目前,手機(jī)等電子產(chǎn)品的發(fā)展趨勢是具有高屏占比,比如屏占比可以高達(dá)90%以上的全面屏。然而,目前的前置攝像頭、環(huán)境光傳感器等器件應(yīng)用在手機(jī)上時(shí),會占用屏幕顯示區(qū)域,導(dǎo)致屏占比降低。例如,為了能夠檢測到環(huán)境光強(qiáng)度或接收環(huán)境光進(jìn)行成像,需要在蓋板玻璃上開窗以預(yù)留出環(huán)境光傳感器和前置攝像頭的感光區(qū)域。例如手機(jī)等的電子設(shè)備的正面具有顯示區(qū)域和位非顯示區(qū)域。由于需要針對前置攝像頭和環(huán)境光傳感器分別預(yù)留非顯示區(qū)域,以便接收光束,導(dǎo)致顯示區(qū)域的面積減小。而非顯示區(qū)域處無法用于顯示,導(dǎo)致電子設(shè)備的屏占比較低,視覺美觀性較差。另外,還有部分電子產(chǎn)品將環(huán)境光傳感器放置在顯示屏的下方來獲得高的屏占比,由于顯示屏對環(huán)境光透過率的影響,這樣會影響環(huán)境光傳感器性能,用戶體驗(yàn)較差。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本申請?zhí)峁┮环N能夠克服或改善現(xiàn)有技術(shù)問題的光學(xué)檢測單元、光學(xué)檢測裝置和電子設(shè)備,其具體內(nèi)容如下:
本申請的一個(gè)方面提供一種光學(xué)檢測單元,所述光學(xué)檢測單元用于接收透過一個(gè)鏡頭組件的檢測光束并轉(zhuǎn)換接收到的檢測光束為電信號,所述電信號用于生成圖像或感測光強(qiáng),所述光學(xué)檢測單元包括:第一光學(xué)芯片,用于接收所述檢測光束并轉(zhuǎn)換為電信號,以生成相應(yīng)的圖像;第二光學(xué)芯片,用于接收所述檢測光束并轉(zhuǎn)換為電信號,以感測所述檢測光束的光強(qiáng)大小。
某些實(shí)施例中,所述第一光學(xué)芯片和所述第二光學(xué)芯片位于所述鏡頭組件的鏡頭像圈內(nèi)。
某些實(shí)施例中,所述光學(xué)檢測單元還包括調(diào)光膜,所述調(diào)光膜用于透射或散射所述檢測光束,所述第一光學(xué)芯片接收經(jīng)過所述調(diào)光膜透射的檢測光束以生成圖像,所述第二光學(xué)芯片接收經(jīng)過所述調(diào)光膜透射或散射的檢測光束以感測光強(qiáng)。
某些實(shí)施例中,所述光學(xué)檢測單元還包括位于所述第一光學(xué)芯片和所述第二光學(xué)芯片的上方的調(diào)光膜,所述調(diào)光膜具有能夠透射所述檢測光束的透射狀態(tài)和能夠散射所述檢測光束的散射狀態(tài),所述調(diào)光膜在所述第一光學(xué)芯片工作時(shí)處于透射狀態(tài),所述調(diào)光膜在所述第二光學(xué)芯片工作時(shí)處于散射狀態(tài)。
某些實(shí)施例中,所述調(diào)光膜被施加電場時(shí)處于透射狀態(tài),所述調(diào)光膜未被施加電場時(shí)處于散射狀態(tài)。
某些實(shí)施例中,所述調(diào)光膜包括聚合物液晶材料。
某些實(shí)施例中,所述光學(xué)檢測單元還包括濾光片,所述濾光片位于所述第一光學(xué)芯片和所述第二光學(xué)芯片的上方,所述濾光片位于所述調(diào)光膜的上方或下方,所述濾光片用于透射波長在目標(biāo)波段以內(nèi)的光束,并阻止波長在目標(biāo)波段以外的光束透過,所述檢測光束的波長在所述目標(biāo)波段以內(nèi)。
某些實(shí)施例中,所述濾光片為紅外截止濾光片,所述檢測光束為可見光。
某些實(shí)施例中,所述濾光片包括濾光層和阻光層,所述濾光層的部分正對所述第一光學(xué)芯片和所述第二光學(xué)芯片,所述阻光層具有第一開口和第二開口,所述第一開口的至少部分正對所述第一光學(xué)芯片,所述第二開口的至少部分正對所述第二光學(xué)芯片,所述濾光層用于透射所述檢測光束并阻止波長在目標(biāo)波段以外的光束透過,所述阻光層用于阻隔光束。
某些實(shí)施例中,所述光學(xué)檢測單元還包括基板,所述第一光學(xué)芯片和所述第二光學(xué)芯片設(shè)置在所述基板上。
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