[發明專利]一種集成校準裝置的伸縮式測試探頭

有效

• 申請號: 202010695241.8
• 申請日: 2020-07-19
• 公開（公告）號: CN111999638B
• 公開（公告）日: 2022-08-02
• 發明（設計）人: 劉安陽
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/3167
• 分類號: G01R31/3167;G01R1/067;G01R1/04
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 鄒麗艷

本發明公開了一種集成校準裝置的伸縮式測試探頭，涉及測試設備技術領域。該探頭包括主殼體，所述主殼體的前端鉸接有兩個滑套，所述的滑套內設置有校驗定位筒，所述的校驗定位筒內設置有探針。所述的主殼體內位于所述校驗定位筒的上、下兩側分別設置有用于夾緊所述校驗定位筒的上夾板和下夾板，所述的上夾板和下夾板結構相同，且對稱布置。所述上夾板的外側面上設置有按壓桿。所述的主殼體上設置有與所述的按壓桿相配合的限位孔。所述的上夾板和下夾板之間設置有用于阻礙所述的上夾板和下夾板相向運動的第一彈簧。該探頭不僅省去了傳統的校驗裝置插拔過程，避免對探針造成損壞，還能夠對探針起到保護作用。

技術領域

本發明涉及測試設備技術領域，具體地說是一種用于測試服務器高速信號的測試探頭。

背景技術

通常認為如果數字邏輯電路的頻率達到或者超過45MHZ-50MHZ，而且工作在這個頻率之上的電路已經占到了整個電子系統一定的份量(比如說1/3)，就稱為高速電路。高速信號對服務器來說是極其重要的，在日常的生產中需要測試信號的質量來保證服務器的質量。

現有的測試設備在測試的時候，需要先對探頭上的探針進行校驗，以保證兩個探針一致。但是由于對探針進行校驗的設備用于容納探針的插孔直徑大于探針的直徑，因此在進行校驗的時候探針在插孔內的位置無法進行精準限定，容易出現校驗不準的情況。為了提高校驗的準確性，需要在校驗的時候在探頭的前端套上一個校驗裝置，且校驗裝置的頭部直徑與校驗設備的插孔直徑相吻合，從而對探針進行物理限定，保證校驗的精準性。這樣長時間的套用會損壞探針，且探頭本身較小，不容易拿捏，用力不均勻也會加速探頭的損壞。

發明內容

針對上述問題，本發明提供了一種集成校準裝置的伸縮式測試探頭，該探頭將校驗定位筒直接套設于探針的外部，并通過伸縮裝置控制校驗定位筒的伸縮，從而實現測試狀態和校驗狀態下校驗定位筒的位置轉換，這樣不僅省去了傳統的校驗裝置插拔過程，避免對探針造成損壞，還能夠對探針起到保護作用。

本發明解決其技術問題所采取的技術方案是：

一種集成校準裝置的伸縮式測試探頭，包括一中空的主殼體，所述主殼體的前端鉸接有兩個滑套，所述的滑套內設置有可沿所述的滑套軸向滑動的校驗定位筒，所述的校驗定位筒內設置有探針；

所述的主殼體內位于所述校驗定位筒的上、下兩側分別設置有用于夾緊所述校驗定位筒的上夾板和下夾板，所述的上夾板和下夾板結構相同，且對稱布置；

所述上夾板的外側面上設置有按壓桿，所述的按壓桿從下往上依次包括直徑依次減小的第一軸段和第二軸段；

所述的主殼體上設置有與所述的按壓桿相配合的限位孔；

所述的上夾板和下夾板之間設置有用于阻礙所述的上夾板和下夾板相向運動的第一彈簧。

進一步地，所述的限位孔呈葫蘆孔狀，且所述限位孔的后端直徑與所述的第一軸段相吻合，所述限位孔的前端直徑與所述的第二軸段相吻合。

進一步地，所述的上夾板和下夾板的內側面上分別設置有用于容納所述第一彈簧的第一凹槽，且所述的上夾板和下夾板之間設置有兩個第一彈簧。

進一步地，所述的上夾板上設置有與所述的校驗定位筒相配合的凹陷部。

進一步地，所述上夾板的外側面上設置有兩個按壓桿，且兩個所述的按壓桿之間設置有連接橫板。

進一步地，所述探針的后端固定設置有固定塊，所述固定塊的上和/或下側面上設置有導向軸，所述的主殼體上設置有與所述的導向軸相配合的導向槽，所述的主殼體內設置有可相對于所述的主殼體前后滑動的驅動軸，且兩個所述的固定塊分別通過連桿與所述的驅動軸相連。

進一步地，所述的固定塊上均設置有兩個連桿，且與同一固定塊相連的兩個連桿分別位于該固定塊的上下兩側。