[發(fā)明專利]一種雙面厚膜電鍍銅散熱結(jié)構(gòu)制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010694663.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-17 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111816567B | 公開(公告)日: | 2021-12-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 嚴(yán)立巍;陳政勛;李景賢 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 紹興同芯成集成電路有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;H01L23/367 |
| 代理公司: | 北京同輝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11357 | 代理人: | 王依 |
| 地址: | 312000 浙江省紹興市越城區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 雙面 厚膜電 鍍銅 散熱 結(jié)構(gòu) 制作方法 | ||
本發(fā)明公開一種雙面厚膜電鍍銅散熱結(jié)構(gòu)制作方法,其中包括如下步驟:晶圓上表面處理、沉積薄膜、一次polyimide厚膜涂布、蝕刻、鍍Cu seed層、翻轉(zhuǎn)、研磨、緩坡(階梯)蝕刻、去除研磨膠帶膜、晶圓下表面處理、二次polyimide厚膜涂布、一次涂布光阻、二次涂布光阻、注銅、除polyimide厚膜、除Cu seed層、放置晶圓、切割。本發(fā)明雙面polyimide制程結(jié)合雙面厚膜Cu ECP制程可提供超薄晶圓結(jié)合雙面Cu散熱片(柱),達(dá)到制程可行性及成本上的明顯巨大優(yōu)越性;正面polyimide不僅提供元件的完美保護(hù)也形成制作結(jié)合成為完美的邊緣支撐及應(yīng)力緩沖,使超薄晶圓制作的可行性,量產(chǎn)性及良率皆大幅提升。解決了現(xiàn)有技術(shù)中雙面厚膜銅散熱片或柱結(jié)合超薄晶圓制作上難度大,實(shí)際操作過(guò)程復(fù)雜的問(wèn)題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于電鍍通散熱領(lǐng)域,具體涉及一種雙面厚膜電鍍銅散熱結(jié)構(gòu)制作方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中雙面厚膜銅散熱片或柱結(jié)合超薄晶圓制作上難度極大,主要困難在超薄晶圓無(wú)法承受制程操作中的機(jī)械動(dòng)作以及厚銅金屬膜的巨大應(yīng)力作用。采用玻璃載板技術(shù),雖能克服超薄片的機(jī)械限制,但必須在載板背面打開窗口,去除adhesive黏著層的阻隔,才能進(jìn)行雙面涂布、曝光、顯影、電鍍、蝕刻等制程。
本專利發(fā)明采用正反面polyimide厚膜制作成網(wǎng)格或區(qū)域均勻平布在正反面以達(dá)成強(qiáng)度支撐及應(yīng)力緩沖的作用,并且結(jié)合厚膜電鍍銅制程,在正反面皆有安全支撐、緩沖的結(jié)構(gòu)中完成雙面涂布、曝光、顯影、電鍍,去除及蝕刻等完整的制程整合以達(dá)成雙面厚膜銅與超薄晶圓結(jié)合的低電阻,高效散熱元件結(jié)構(gòu)。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明的目的在于提供一種雙面厚膜電鍍銅散熱結(jié)構(gòu)制作方法。解決了現(xiàn)有技術(shù)中雙面厚膜銅散熱片或柱結(jié)合超薄晶圓制作上難度大,實(shí)際操作過(guò)程復(fù)雜的問(wèn)題。
本發(fā)明的目的可以通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):
一種雙面厚膜電鍍銅散熱結(jié)構(gòu)制作方法,包括如下步驟:
S1:晶圓上表面處理
對(duì)晶圓上表面進(jìn)行離子植入、黃光工藝處理,并制作金屬觸點(diǎn);
S2:沉積薄膜
使用PEVCD在晶圓上表面沉積SiO2和Si3N4薄膜;
S3:一次polyimide厚膜涂布
在SiO2和Si3N4薄膜上涂布一層polyimide厚膜,并以Mask曝光在金屬觸點(diǎn)上打開一個(gè)面積小于金屬觸點(diǎn)面積的金屬觸點(diǎn)窗口;
S4:蝕刻
以金屬觸點(diǎn)窗口的邊界為Mask,使用Dryetch(RIE或plasmaetch)蝕刻掉金屬觸點(diǎn)窗口內(nèi)的polyimide厚膜和SiO2和Si3N4薄膜;
S5:鍍Cuseed層
將蝕刻后的晶圓用水清洗后,進(jìn)行加熱,完成polyimide厚膜的進(jìn)一步固化,然后在polyimide厚膜表面、沿金屬觸點(diǎn)窗口蝕刻的polyimide厚膜和SiO2和Si3N4薄膜內(nèi)壁以及金屬觸點(diǎn)上鍍上Cuseed層;
S6:翻轉(zhuǎn)
將晶圓上下翻轉(zhuǎn),并將晶圓上表面貼附在研磨膠帶膜上;
S7:研磨
對(duì)晶圓1下表面進(jìn)行打磨;
S8:緩坡(階梯)蝕刻
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





