[發(fā)明專利]雜光測(cè)試中平行光管光軸與光機(jī)系統(tǒng)光軸對(duì)準(zhǔn)裝置及方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010694073.0
• 申請(qǐng)日: 2020-07-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111982467B
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-07-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 陳欽芳;薛要克;馬占鵬;沈陽(yáng);林上民;劉美瑩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所
• 主分類號(hào): G01M11/02
• 分類號(hào): G01M11/02;G02B27/62;G02B7/00
• 代理公司: 西安智邦專利商標(biāo)代理有限公司 61211
• 代理人: 王楊洋

1.一種雜光測(cè)試中平行光管光軸與光機(jī)系統(tǒng)光軸對(duì)準(zhǔn)裝置，其特征在于：包括結(jié)構(gòu)框(1)、水平線激光器(2)、豎直線激光器(3)、接收屏(4)、以及沿光路依次設(shè)置的干涉儀(5)、平面折軸鏡(6)和拋物面鏡(7)；待測(cè)光機(jī)系統(tǒng)(8)自帶中心標(biāo)記線；

所述平面折軸鏡(6)和拋物面鏡(7)組成平行光管；

所述平行光管設(shè)置于結(jié)構(gòu)框(1)內(nèi)；

所述干涉儀(5)設(shè)置于平行光管的焦點(diǎn)處；

所述結(jié)構(gòu)框(1)的出射端面上開(kāi)設(shè)有出射口(11)，出射口(11)處標(biāo)記有光軸水平位置標(biāo)記線(12)和光軸豎直位置標(biāo)記線(13)；

所述水平線激光器(2)和豎直線激光器(3)均安裝于結(jié)構(gòu)框(1)出射端面上；

所述水平線激光器(2)和豎直線激光器(3)出射激光束在正前方分別呈現(xiàn)為一字型的水平激光線和豎直激光線，水平激光線和豎直激光線分別經(jīng)待測(cè)光機(jī)系統(tǒng)(8)出射端面上自帶的X軸基準(zhǔn)平面鏡(81)和Y軸基準(zhǔn)平面鏡(82)反射，得到水平反射激光線和豎直反射激光線；

所述接收屏(4)為可透過(guò)性接收屏(4)，設(shè)置于水平激光線和豎直激光線與水平反射激光線和豎直反射激光線的公共區(qū)域中，用于接收水平激光線和豎直激光線與水平反射激光線和豎直反射激光線。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的雜光測(cè)試中平行光管光軸與光機(jī)系統(tǒng)光軸對(duì)準(zhǔn)裝置，其特征在于：所述接收屏(4)位于待測(cè)光機(jī)系統(tǒng)(8)與平行光管之間靠近平行光管一側(cè)區(qū)域。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的雜光測(cè)試中平行光管光軸與光機(jī)系統(tǒng)光軸對(duì)準(zhǔn)裝置，其特征在于：所述接收屏(4)設(shè)置于水平激光線和豎直激光線與水平反射激光線和豎直反射激光線的交點(diǎn)處。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的雜光測(cè)試中平行光管光軸與光機(jī)系統(tǒng)光軸對(duì)準(zhǔn)裝置，其特征在于：所述水平線激光器(2)和豎直線激光器(3)的激光波長(zhǎng)范圍均選取可見(jiàn)光范圍。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的雜光測(cè)試中平行光管光軸與光機(jī)系統(tǒng)光軸對(duì)準(zhǔn)裝置，其特征在于：所述水平線激光器(2)和豎直線激光器(3)出射激光的線寬不超過(guò)2mm。