[發(fā)明專利]用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置及檢驗方法

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• 申請日: 2020-07-17
• 公開（公告）號: CN113945515A
• 公開（公告）日: 2022-01-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李志雄
• 申請（專利權(quán)）人: 捷將科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01N21/95
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 劉金鳳;趙燕力

1.一種用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其能設(shè)于一電荷耦合元件檢測機(jī)上，該電荷耦合元件檢測機(jī)包含多個電荷耦合元件及一光源；其特征在于，該用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置包含：

一架設(shè)組件，其能設(shè)于該電荷耦合元件檢測機(jī)；

一驅(qū)動裝置，其固設(shè)于該架設(shè)組件，且包含：

一轉(zhuǎn)動軸，其平行于任一該電荷耦合元件與該光源的連線；

一轉(zhuǎn)盤，其設(shè)于該轉(zhuǎn)動軸上，且能隨著該轉(zhuǎn)動軸轉(zhuǎn)動，并且能位于其中一該電荷耦合元件與該光源之間；該轉(zhuǎn)盤為不透光材質(zhì)，且包含：

至少一針孔，該針孔能通過該轉(zhuǎn)盤隨著該轉(zhuǎn)動軸轉(zhuǎn)動而移動至該其中一電荷耦合元件與該光源的連線上。

2.一種用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其能設(shè)于一電荷耦合元件檢測機(jī)上，該電荷耦合元件檢測機(jī)包含多個電荷耦合元件及一光源；其特征在于，該用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置包含：

一架設(shè)組件，其能設(shè)于該電荷耦合元件檢測機(jī)；

一驅(qū)動裝置，其固設(shè)于該架設(shè)組件，且包含：

一轉(zhuǎn)動軸，其平行于任一該電荷耦合元件與該光源的連線；

一轉(zhuǎn)盤，其設(shè)于該轉(zhuǎn)動軸上，且能隨著該轉(zhuǎn)動軸轉(zhuǎn)動，并且能位于其中一該電荷耦合元件與該光源之間；該轉(zhuǎn)盤為不透光材質(zhì)，且包含：

至少一安裝孔，該安裝孔能通過該轉(zhuǎn)盤隨著該轉(zhuǎn)動軸轉(zhuǎn)動而移動至該其中一電荷耦合元件與該光源的連線上；

至少一樣片，該樣片能分離地設(shè)于該安裝孔內(nèi)；各該樣片為不透光材質(zhì)，且包含一針孔。

3.如權(quán)利要求2所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其特征在于，

該樣片的數(shù)量為一；

該安裝孔的數(shù)量為一；該樣片能分離地設(shè)于該安裝孔內(nèi)。

4.如權(quán)利要求2所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其特征在于，

該樣片的數(shù)量為多個，各該樣片的該針孔的孔徑不相同；

該安裝孔的數(shù)量為一；該安裝孔內(nèi)安裝有任一所述樣片。

5.如權(quán)利要求2所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其特征在于，

該樣片的數(shù)量為多個；

該安裝孔的數(shù)量為多個，且所述安裝孔的數(shù)量等于所述樣片的數(shù)量；各所述樣片分別能分離地設(shè)于各所述安裝孔內(nèi)。

6.如權(quán)利要求2所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其特征在于，

該安裝孔的數(shù)量大于該樣片的數(shù)量；

該轉(zhuǎn)盤進(jìn)一步包含：

至少一遮光片，該遮光片不透光；該遮光片的數(shù)量與該樣片的數(shù)量的總和等于該安裝孔的數(shù)量；該遮光片與該樣片分別能分離地設(shè)于該安裝孔內(nèi)。

7.如權(quán)利要求2至6中任一項所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其特征在于，該電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置進(jìn)一步包含：

一遮光板，其固設(shè)于該架設(shè)組件，且能位于該轉(zhuǎn)盤與該光源之間；該遮光板為不透光材質(zhì)且包含一透光孔；該樣片的該針孔能通過該轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動而通過該其中一電荷耦合元件與該透光孔的連線上。

8.如權(quán)利要求2至6中任一項所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置，其特征在于，該架設(shè)組件進(jìn)一步包含：

一滑軌，其能設(shè)于該電荷耦合元件檢測機(jī)；

一座體，該驅(qū)動裝置固設(shè)于該座體；

一滾輪組件，其設(shè)于該座體，且連接于該滑軌；該座體通過該滾輪組件能移動的設(shè)于該滑軌上。

9.一種電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗方法，其特征在于，該檢驗方法包括，

將一如權(quán)利要求1所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置設(shè)于一電荷耦合元件檢測機(jī)上，并使轉(zhuǎn)盤位于該電荷耦合元件檢測機(jī)的一電荷耦合元件及一光源之間；

啟動該電荷耦合元件檢測機(jī)，并啟動該用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置的該驅(qū)動裝置，并且使該轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)多圈；

停止該驅(qū)動裝置，并且判斷該轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的圈數(shù)乘以該轉(zhuǎn)盤的該針孔的數(shù)量，是否與該電荷耦合元件檢測機(jī)所檢測出的針孔數(shù)量相同。

10.一種電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗方法，其特征在于，該檢驗方法包括，

將一如權(quán)利要求2至8中任一項所述的用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置設(shè)于一電荷耦合元件檢測機(jī)上，并使轉(zhuǎn)盤位于該電荷耦合元件檢測機(jī)的一電荷耦合元件及一光源之間；

將該樣片設(shè)于該安裝孔內(nèi)；

啟動該電荷耦合元件檢測機(jī)，并啟動該用于電荷耦合元件檢測機(jī)的檢測水準(zhǔn)檢驗裝置的該驅(qū)動裝置，并且使該轉(zhuǎn)盤旋轉(zhuǎn)多圈；

停止該驅(qū)動裝置，并且判斷該轉(zhuǎn)盤轉(zhuǎn)動的圈數(shù)乘以該轉(zhuǎn)盤上的該針孔的數(shù)量，是否與該電荷耦合元件檢測機(jī)所檢測出的針孔數(shù)量相同。