[發明專利]配向檢查裝置

有效

• 申請號: 202010691114.0
• 申請日: 2020-07-17
• 公開（公告）號: CN111766724B
• 公開（公告）日: 2023-05-09
• 發明（設計）人: 趙仁堂
• 申請（專利權）人: TCL華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13
• 代理公司: 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570
• 代理人: 何輝

本發明公開了一種配向檢查裝置，所述配向檢查裝置包括面板載臺、圖像采集裝置、加電單元以及圖像處理單元；其中，所述面板載臺包括一框架和至少一支撐件，以將所述框架分為多個鏤空區域；其中，所述支撐件可相對所述框架移動，以改變每一所述鏤空區域的面積；或者，所述支撐件為中空結構，并在所述支撐件的內部設置有至少一內置光源；本發明所述配向檢查裝置能實現所述顯示面板的全面板配向檢查，提高面板生產良率。

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，尤其涉及一種配向檢查裝置。

背景技術

PS-VA(polymer?stabilized?vertical?alignment)是TFT-LCD的一種技術，是液晶顯示面板制造業的主流技術之一。PS-VA包括陣列、彩膜、成盒、模組四大制程。其中，成盒制程中的紫外光配向為PS-VA的核心技術。紫外光配向制程：在PS-VA液晶盒內，液晶在聚酰亞胺配向膜的作用下成垂直站立，需在紫外配向制程(UV1)形成液晶的預傾角，以滿足顯示需求；首先對液晶盒施加一個電壓按一定序列增加的電壓序列，使液晶慢慢傾倒，最終倒向統一的方向，此過程為液晶配向，再照射紫外光，使液晶中反應型單體反應，將液晶的倒向固定下來并形成一定的預傾角。

當加電或配向制程出現異常時，液晶無法實現統一的倒向，這樣生產出來的液晶面板將出現顯示異常。為了檢查液晶是否配向異常，在紫外配向制程UV1后設置了一臺配向檢查機，通過加電檢查液晶倒向來判斷是否配向完成。配向檢查機主要由機臺外框、面板載臺、加電系統、顯微鏡頭、光源組成。機械臂將面板運入放置于載臺上，通過加電系統給面板加電，液晶傾倒，下方光源和上方顯微鏡中均內置有偏光片，從光源發出的光通過偏光片、面板、偏光片后到達顯微鏡中，顯微鏡將采集的圖片發送至計算機，即可觀察到液晶的配向狀況。

但是，由于面板載臺為固定設計且不透光，因此，實際使用中面板對應面板載臺中橫梁位置的配向狀況無法檢查。而實際生產中產品易發生單點配向異常，若異常點正好在橫梁位置，則無法檢查到，導致問題面板持續后流，生產良率降低。

因此，亟需提供一種配向檢查裝置，以解決上述問題。

發明內容

本發明的目的在于解決上述問題，提供一種能實現全顯示區域配向檢查的配向檢查裝置。

為了實現上述目的，本發明所述配向檢查裝置采取了以下技術方案。

本發明還提供一種配向檢查裝置，用于檢查顯示面板的液晶配向狀態并輸出檢測結果，所述配向檢查裝置:一面板載臺，用于放置顯示面板；其中，所述面板載臺包括一框架和至少一支撐件，以將所述框架分為多個鏤空區域；一圖像采集裝置，設置在所述面板載臺的上方，以采集所述顯示面板的圖像信息并產生圖像信號；加電單元，用于向所述顯示面板加載電信號，以產生使所述顯示面板的液晶分子偏轉電場；一圖像處理單元，與所述圖像采集裝置信號連接以接收所述圖像采集裝置的圖像信號，并將接收到的所述顯示面板的圖像信息與預設影象進行對比，以輸出檢測結果；其中，所述支撐件可相對所述框架移動，以改變每一所述鏤空區域的面積；或者，所述支撐件為中空結構，并在所述支撐件的內部設置有至少一內置光源。

進一步，所述支撐件包括多個橫梁和多個縱梁；其中，所述橫梁與所述框架活動連接，所述縱梁與其對應的所述橫梁或所述框架活動連接。

進一步，所述縱梁包括第一縱梁和第二縱梁；其中，所述第一縱梁疊螺在所述框架上，并與所述框架活動連接；所述第二縱梁疊螺在所述橫梁上，并與所述橫梁活動連接。

進一步，所述面板載臺還包括至少一驅動裝置，所述驅動裝置用于帶動所述支撐件移動。

進一步，在所述支撐件的內部設置還設置有一內置偏光片，所述內置偏光片設置在所述內置光源的朝向所述圖像采集裝置的一側。

進一步，所述支撐件件包括位于所述偏光片的朝向所述圖像采集裝置的一側的頂部和位于所述偏光片的朝向所述內置光源一側的底部，其中，所述支撐件的所述頂部由高透光率材料制成。