[發明專利]在片S參數測量系統校準方法及裝置

有效

• 申請號: 202010682832.1
• 申請日: 2020-07-15
• 公開（公告）號: CN111983538B
• 公開（公告）日: 2023-03-03
• 發明（設計）人: 王一幫;吳愛華;梁法國;劉晨;孔令甲;欒鵬;霍曄;孫靜
• 申請（專利權）人: 中國電子科技集團公司第十三研究所
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 石家莊國為知識產權事務所 13120
• 代理人: 秦敏華

1.一種在片S參數測量系統校準方法，其特征在于，該方法應用于在片S參數測量系統，所述在片S參數測量系統包括矢量網絡分析儀、與矢量網絡分析儀的輸入輸出端對應連接的兩個擴頻模塊、以及與兩個擴頻模塊對應連接的兩個微波探針；所述方法包括：

在擴頻模塊的波導/同軸端未連接微波探針時，對在片S參數測量系統進行初次校準，得到第一誤差模型；其中，所述第一誤差模型用于將在片S參數測量系統的測試參考面從矢量網絡分析儀的接收機端面轉換至擴頻模塊的波導/同軸端面；

在擴頻模塊的波導/同軸端連接微波探針后，擴頻模塊的波導/同軸端面與微波探針端面形成互易的四端口網絡，基于所述互易的四端口網絡構建16-term誤差模型，并根據波導/同軸端面與波導/同軸端面之間的路徑損耗、以及波導/同軸端面與另一端微波探針端面之間的路徑損耗對16-term誤差模型中的串擾誤差項進行簡化，基于串擾誤差項簡化后的16-term誤差模型對在片S參數測量系統的測量精度進行校準；

其中，所述根據波導/同軸端面與波導/同軸端面之間的路徑損耗、以及波導/同軸端面與微波探針端面之間的路徑損耗對16-term誤差模型中的串擾誤差項進行簡化，包括：

根據波導/同軸端面與波導/同軸端面之間的路徑損耗將波導/同軸端面與波導/同軸端面之間的串擾誤差項置為0；

根據波導/同軸端面與另一端微波探針端面之間的路徑損耗將波導/同軸端面與另一端微波探針端面之間的串擾誤差項置為0。

2.如權利要求1所述的在片S參數測量系統校準方法，其特征在于，所述第一誤差模型為8-term誤差模型時，所述對在片S參數測量系統進行初次校準，得到第一誤差模型，包括：

基于TRL校準方法對在片S參數測量系統進行初次校準，得到8-term誤差模型。

3.如權利要求1所述的在片S參數測量系統校準方法，其特征在于，所述第一誤差模型為12-term誤差模型時，所述對在片S參數測量系統進行初次校準，得到第一誤差模型，包括：

基于SOLT校準方法對在片S參數測量系統進行初次校準，得到12-term誤差模型。

4.如權利要求1所述的在片S參數測量系統校準方法，其特征在于，基于所述互易的四端口網絡構建的16-term誤差模型為：

其中，S_mxy為在片S參數測量系統測量得到的校準件/被測件的S參數，對應的測量參考面在波導/同軸端面，S_aij為校準件/被測件實際的S參數，T為傳輸散射矩陣，E為串擾誤差項矩陣，e₀₀、e₁₁、e₂₂、e₃₃、e₀₁、e₁₀、e₁₂、e₂₁、e₂₃、e₃₂、e₀₂、e₀₃、e₃₀、e₂₀、e₁₃、e₃₁為串擾誤差項；

其中，e₀₃＝e₃₀、e₁₀＝e₀₁、e₀₂＝e₂₀、e₁₃＝e₃₁、e₂₃＝e₃₂、e₁₂＝e₂₁。

5.如權利要求1所述的在片S參數測量系統校準方法，其特征在于，在基于串擾誤差項簡化后的16-term誤差模型對在片S參數測量系統的測量精度進行校準的過程中，校準件/被測件的使用數量為3。