[發(fā)明專利]自動晶圓定位總成在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010680985.2 | 申請日: | 2020-07-15 |
| 公開(公告)號: | CN113948437A | 公開(公告)日: | 2022-01-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 邱云正 | 申請(專利權(quán))人: | 弘塑科技股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/68 | 分類號: | H01L21/68 |
| 代理公司: | 上海翼勝專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 自動 定位 總成 | ||
本發(fā)明提供一種自動晶圓定位總成,用以定位晶圓以進(jìn)行濕式加工。自動晶圓定位總成包含白努利轉(zhuǎn)盤、復(fù)數(shù)定位裝置及控制部。當(dāng)白努利轉(zhuǎn)盤未產(chǎn)生氣墊且控制部使復(fù)數(shù)定位裝置處于開啟狀態(tài)時,晶圓可被置入于白努利轉(zhuǎn)盤上或自白努利轉(zhuǎn)盤上取出。當(dāng)白努利轉(zhuǎn)盤產(chǎn)生氣墊且控制部使復(fù)數(shù)定位裝置處于關(guān)閉狀態(tài)時,晶圓懸浮及旋轉(zhuǎn)于白努利轉(zhuǎn)盤上方以進(jìn)行濕式加工。
【技術(shù)領(lǐng)域】
本揭示涉及一種定位總成,特別涉及一種自動晶圓定位總成。
【背景技術(shù)】
于現(xiàn)有技術(shù)中,當(dāng)欲針對薄形化或翹曲晶圓進(jìn)行蝕刻及清洗等濕式制程時,在無法使用真空吸取式轉(zhuǎn)盤進(jìn)行加工的情況下,為了防止噴灑于晶圓的加工面(如:朝上面)的化學(xué)藥液溢流至所述晶圓的保護(hù)面(如:朝下面),乃會藉由白努利轉(zhuǎn)盤(Bernoulli Chuck)的使用來達(dá)到其蝕刻、清洗等加工目的。
被利用于白努利轉(zhuǎn)盤的白努利原理(Bernoulli's Principle),其建立機(jī)制是先將晶圓置放于白努利轉(zhuǎn)盤上方,然后在晶圓底部與白努利轉(zhuǎn)盤之間導(dǎo)入氣流以形成氣墊并同時產(chǎn)生負(fù)壓。此時,透過適當(dāng)?shù)臍饬骺刂疲A便可懸浮于白努利轉(zhuǎn)盤上方進(jìn)行旋轉(zhuǎn),且因?yàn)樨?fù)壓作用,晶圓會處于被吸附于白努利轉(zhuǎn)盤上的狀態(tài)。
由于在晶圓底部與白努利轉(zhuǎn)盤之間導(dǎo)入的氣流有可能于瞬間產(chǎn)生不均勻的氣流分布,此時處于高速旋轉(zhuǎn)的晶圓便可能因?yàn)椴痪鶆虻臍饬鞣植级a(chǎn)生徑向移動,進(jìn)而偏離白努利轉(zhuǎn)盤中心點(diǎn)或發(fā)生晶圓滑脫現(xiàn)象,嚴(yán)重影響后續(xù)制程的進(jìn)行。
有鑒于此,如何提供一種自動晶圓定位總成來進(jìn)行晶圓旋轉(zhuǎn)時的定位,避免高速旋轉(zhuǎn)的晶圓因?yàn)椴痪鶆虻臍饬鞣植级a(chǎn)生徑向移動,從而偏離白努利轉(zhuǎn)盤中心點(diǎn)或發(fā)生晶圓滑脫現(xiàn)象,乃為此一業(yè)界亟待解決的問題。
【發(fā)明內(nèi)容】
本揭示的一目的在于提供一種一種自動晶圓定位總成,其可用以進(jìn)行晶圓因白努利原理而懸浮旋轉(zhuǎn)時的定位,避免高速旋轉(zhuǎn)的晶圓因?yàn)椴痪鶆虻臍饬鞣植级a(chǎn)生徑向移動,從而偏離白努利轉(zhuǎn)盤中心點(diǎn)或發(fā)生晶圓滑脫現(xiàn)象。
為達(dá)上述目的,本揭示的一種自動晶圓定位總成包含:
白努利轉(zhuǎn)盤,用以產(chǎn)生氣墊使晶圓懸浮且旋轉(zhuǎn)于白努利轉(zhuǎn)盤上方;
復(fù)數(shù)定位裝置,設(shè)置于白努利轉(zhuǎn)盤的周緣,以定位處于懸浮及旋轉(zhuǎn)狀態(tài)之晶圓;以及
控制部,用以使復(fù)數(shù)定位裝置于開啟狀態(tài)及關(guān)閉狀態(tài)之間進(jìn)行切換;
其中,當(dāng)白努利轉(zhuǎn)盤未產(chǎn)生氣墊且控制部使復(fù)數(shù)定位裝置處于開啟狀態(tài)時,晶圓可被置入于白努利轉(zhuǎn)盤上或自白努利轉(zhuǎn)盤上取出;
當(dāng)白努利轉(zhuǎn)盤產(chǎn)生氣墊且控制部使復(fù)數(shù)定位裝置處于關(guān)閉狀態(tài)時,晶圓懸浮及旋轉(zhuǎn)于白努利轉(zhuǎn)盤上方以進(jìn)行濕式加工。
于本揭示的自動晶圓定位總成中,復(fù)數(shù)定位裝置各包含:
定位銷,具有夾持端及相對夾持端設(shè)置的覆位端,定位銷通過設(shè)置于夾持端與覆位端之間的支點(diǎn)可樞轉(zhuǎn)地設(shè)置于白努利轉(zhuǎn)盤的側(cè)緣;
推動桿,具有第一端及相對第一端設(shè)置的第二端,推動桿設(shè)置于白努利轉(zhuǎn)盤的側(cè)緣下方,且推動桿藉由第一端頂持于定位銷的覆位端;以及
彈性體,設(shè)置于推動桿的第二端,用以提供彈力朝外推動推動桿。
于本揭示的自動晶圓定位總成中,當(dāng)定位裝置處于關(guān)閉狀態(tài)時,彈性體提供的彈力朝外推動推動桿,連帶使推動桿的第一端朝外推動定位銷的覆位端,以供定位銷的夾持端藉由支點(diǎn)所產(chǎn)生的杠桿作用而朝內(nèi)移動并頂持于晶圓的上端。
于本揭示的自動晶圓定位總成中,當(dāng)定位裝置處于開啟狀態(tài)時,控制部抵靠于定位銷的覆位端,使定位銷的覆位端朝內(nèi)推動推動桿以抵銷彈力并壓縮彈性體,同時定位銷的夾持端藉由支點(diǎn)所產(chǎn)生的杠桿作用而朝外移動以解除對晶圓的頂持。
于本揭示的自動晶圓定位總成中,更包含用于濕式加工的化學(xué)液回收裝置,且控制部為化學(xué)液回收裝置的門環(huán)或回收環(huán)。
于本揭示的自動晶圓定位總成中,門環(huán)或回收環(huán)沿垂直方向相對于定位裝置移動。
于本揭示的自動晶圓定位總成中,當(dāng)晶圓置入于白努利轉(zhuǎn)盤上時,晶圓僅以邊緣區(qū)域與白努利轉(zhuǎn)盤接觸。
于本揭示的自動晶圓定位總成中,邊緣區(qū)域的寬度為1-2公厘。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





