[發(fā)明專(zhuān)利]檢測(cè)裝置及檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010680899.1 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-15 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111650201B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-06-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃天意 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | OPPO(重慶)智能科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/84 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/84 |
| 代理公司: | 深圳市聯(lián)鼎知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 44232 | 代理人: | 劉抗美 |
| 地址: | 401120 重慶*** | 國(guó)省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
1.一種檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)曲面屏,所述曲面屏包括平面部和位于平面部邊緣的曲面部,其特征在于,所述檢測(cè)裝置包括:
檢測(cè)臺(tái),所述檢測(cè)臺(tái)上設(shè)置有容置部,所述容置部用于放置待檢測(cè)曲面屏;
圖像采集組件,所述圖像采集組件和所述容置部相對(duì),所述圖像采集組件用于采集待檢測(cè)曲面屏的顯示圖像;
光學(xué)組件,所述光學(xué)組件包括多個(gè)光學(xué)單元,多個(gè)所述光學(xué)單元被配置為能夠調(diào)節(jié)所述待檢測(cè)曲面屏的曲面部所發(fā)的光的傳播方向,以使所述圖像采集組件能夠采集所述曲面部的圖像;
其中,所述光學(xué)組件還包括:
驅(qū)動(dòng)器件,所述驅(qū)動(dòng)器件和所述光學(xué)單元連接,所述驅(qū)動(dòng)器件用于驅(qū)動(dòng)所述光學(xué)單元偏轉(zhuǎn);
其中,所述光學(xué)單元包括:
反射鏡,多個(gè)所述反射鏡陣列式排布;
所述驅(qū)動(dòng)器件包括:
多個(gè)微機(jī)電系統(tǒng),每個(gè)所述微機(jī)電系統(tǒng)對(duì)應(yīng)連接一所述反射鏡,所述微機(jī)電系統(tǒng)用于驅(qū)動(dòng)所述反射鏡偏轉(zhuǎn);
其中,反射層包括多個(gè)獨(dú)立的所述反射鏡,每個(gè)所述反射鏡通過(guò)一微機(jī)電系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)偏轉(zhuǎn),所述反射鏡是像素級(jí)反射鏡,通過(guò)控制所述像素級(jí)反射鏡偏轉(zhuǎn)反射所述曲面屏所述曲面部的光線,使得所述曲面部的光線被傳輸至所述圖像采集組件;每個(gè)所述像素級(jí)反射鏡獨(dú)立將不同曲率的所述曲面部的光線反射至所述圖像采集組件。
2.一種檢測(cè)裝置,用于檢測(cè)曲面屏,所述曲面屏包括平面部和位于平面部邊緣的曲面部,其特征在于,所述檢測(cè)裝置包括:
檢測(cè)臺(tái),所述檢測(cè)臺(tái)上設(shè)置有容置部,所述容置部用于放置待檢測(cè)曲面屏;
圖像采集組件,所述圖像采集組件和所述容置部相對(duì),所述圖像采集組件用于采集待檢測(cè)曲面屏的顯示圖像;
光學(xué)組件,所述光學(xué)組件包括多個(gè)光學(xué)單元,多個(gè)所述光學(xué)單元被配置為能夠調(diào)節(jié)所述待檢測(cè)曲面屏的曲面部所發(fā)的光的傳播方向,以使所述圖像采集組件能夠采集所述曲面部的圖像;
其中,所述光學(xué)組件還包括:
驅(qū)動(dòng)器件,所述驅(qū)動(dòng)器件和所述光學(xué)單元連接,所述驅(qū)動(dòng)器件用于驅(qū)動(dòng)所述光學(xué)單元偏轉(zhuǎn);
其中,所述光學(xué)單元包括:
光學(xué)透鏡,多個(gè)所述光學(xué)透鏡陣列式分布;
所述驅(qū)動(dòng)器件包括:
多個(gè)微機(jī)電系統(tǒng),每個(gè)所述微機(jī)電系統(tǒng)對(duì)應(yīng)連接一所述光學(xué)透鏡,所述微機(jī)電系統(tǒng)用于驅(qū)動(dòng)所述光學(xué)透鏡偏轉(zhuǎn);
其中,透鏡層包括多個(gè)獨(dú)立的光學(xué)透鏡,每個(gè)所述光學(xué)透鏡通過(guò)一微機(jī)電系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)偏轉(zhuǎn),所述光學(xué)透鏡是像素級(jí)光學(xué)透鏡,通過(guò)控制所述像素級(jí)光學(xué)透鏡偏轉(zhuǎn)折射所述曲面屏所述曲面部的光線,使得所述曲面部的光線被傳輸至所述圖像采集組件;每個(gè)所述像素級(jí)光學(xué)透鏡獨(dú)立將不同曲率的所述曲面部的光線折射至所述圖像采集組件。
3.如權(quán)利要求2所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述光學(xué)單元還包括:
連接單元,所述連接單元設(shè)于所述光學(xué)透鏡的一側(cè),并且所述連接單元和所述光學(xué)透鏡連接,所述微機(jī)電系統(tǒng)連接所述連接單元。
4.如權(quán)利要求3所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述微機(jī)電系統(tǒng)在所述光學(xué)單元上的投影位于所述連接單元的區(qū)域。
5.如權(quán)利要求1或2任一所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述驅(qū)動(dòng)器件還包括:
驅(qū)動(dòng)電路,所述驅(qū)動(dòng)電路和所述微機(jī)電系統(tǒng)連接,所述驅(qū)動(dòng)電路用于為所述微機(jī)電系統(tǒng)提供電源信號(hào)。
6.如權(quán)利要求1或2所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述容置部的兩側(cè)均設(shè)置有所述光學(xué)組件。
7.如權(quán)利要求1或2所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述光學(xué)組件和所述檢測(cè)臺(tái)滑動(dòng)連接。
8.如權(quán)利要求1或2所述的檢測(cè)裝置,其特征在于,所述檢測(cè)裝置還包括:
透明蓋板,所述透明蓋板設(shè)于所述檢測(cè)臺(tái)靠近所述圖像采集組件的一側(cè),所述光學(xué)組件連接于所述透明蓋板。
9.一種檢測(cè)方法,用于檢測(cè)曲面屏,其特征在于,所述檢測(cè)方法包括:
根據(jù)待檢測(cè)曲面屏曲面部的曲率,控制多個(gè)光學(xué)單元對(duì)所述曲面部發(fā)的光進(jìn)行調(diào)整;
利用圖像采集組件獲取測(cè)試圖像,所述測(cè)試圖像為所述待檢測(cè)曲面屏的顯示圖像;
根據(jù)所述測(cè)試圖像,確定所述待檢測(cè)曲面屏是否合格;
其中,所述光學(xué)單元包括:
反射鏡,多個(gè)所述反射鏡陣列式排布;
驅(qū)動(dòng)器件包括:
多個(gè)微機(jī)電系統(tǒng),每個(gè)所述微機(jī)電系統(tǒng)對(duì)應(yīng)連接一所述反射鏡,所述微機(jī)電系統(tǒng)用于驅(qū)動(dòng)所述反射鏡偏轉(zhuǎn);
其中,反射層包括多個(gè)獨(dú)立的所述反射鏡,每個(gè)所述反射鏡通過(guò)一微機(jī)電系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)偏轉(zhuǎn),所述反射鏡是像素級(jí)反射鏡,通過(guò)控制所述像素級(jí)反射鏡偏轉(zhuǎn)反射所述曲面屏所述曲面部的光線,使得所述曲面部的光線被傳輸至所述圖像采集組件;每個(gè)所述像素級(jí)反射鏡獨(dú)立將不同曲率的所述曲面部的光線反射至所述圖像采集組件。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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