[發明專利]一種液態材料磁特性的測量系統和測量方法

在審

• 申請號: 202010680493.3
• 申請日: 2020-07-15
• 公開（公告）號: CN111812566A
• 公開（公告）日: 2020-10-23
• 發明（設計）人: 張艷麗;張一峰;王振;任自艷;張殿海;夏斌;閻秀恪;綦艷麗
• 申請（專利權）人: 沈陽工業大學
• 主分類號: G01R33/12
• 分類號: G01R33/12;G01R33/14
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種液態材料磁特性的測量系統，其特征在于，包括：用于產生磁場的磁場發生裝置和設置在所述磁場中的輔助裝置；所述輔助裝置包括用于容納液體材料的容器，第一線圈、第二線圈、第一電壓表和第二電壓表；所述第一線圈設置在所述容器內，所述第二線圈緊貼所述容器外壁設置；所述第一線圈和所述第二線圈所在的平面均與所述磁場方向垂直；所述第一電壓表和所述第二電壓表分別用于測量所述第一線圈和所述第二線圈的電壓；所述容器采用不導磁材料制成。

2.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述磁場發生裝置包括：智能控制模塊，處理模塊，位于所述磁場兩端的兩個鐵磁繞組；所述智能控制模塊用于向所述處理模塊發送電流模型信號，所述處理模塊采用相應的電流模型分別向兩個所述鐵磁繞組的線圈供電，兩個所述鐵磁繞組的相對端產生的磁極方向相反；所述第一電壓表和所述第二電壓表分別將測得的第一電壓和第二電壓發送給所述處理模塊，所述處理模塊還用于將所述第一電壓和所述第二電壓發送給所述智能控制模塊。

3.根據權利要求2所述的測量系統，其特征在于，所述處理模塊包括處理器、低通濾波器、功率放大器和隔離放大器，其中，所述處理器依次與所述低通濾波器、所述功率放大器連接，所述功率放大器分別與兩個所述鐵磁繞組的線圈連接；所述處理器還與所述隔離放大器連接，所述隔離放大器還分別與所述第一電壓表和所述第二電壓表連接。

4.根據權利要求2所述的測量系統，其特征在于，所述鐵磁繞組包括C形磁芯，以及分別繞制在所述C形磁芯開口兩端的兩個線圈。

5.根據權利要求4所述的測量系統，其特征在于，所述C形磁芯由若干片C形硅鋼片疊置而成。

6.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述第二線圈繞制在固定板上，所述固定板的平面緊貼所述容器外壁固定，且所述第二線圈與所述第一線圈的位置對應，所述固定板采用不導磁材料制成。

7.根據權利要求1所述的測量系統，其特征在于，所述測量系統還包括盒蓋，所述盒蓋扣蓋在所述容器上，所述盒蓋采用非導磁材料制成。

8.一種采用如權利要求1-7任一項所述的測量系統進行液態材料磁特性的測量方法，包括：

接收所述第一線圈的電壓和所述第二線圈的電壓；

計算所述液態材料的磁導率。

9.根據權利要求8所述的測量方法，其特征在于，還包括：

在接收所述第一線圈的電壓和所述第二線圈的電壓之前，向所述容器中注入所述液態材料，所述液態材料浸沒所述第一線圈；

開啟所述測量系統。