[發明專利]用于TCR型SVC的低壓測試裝置及其工作方法

在審

• 申請號: 202010675505.3
• 申請日: 2020-07-14
• 公開（公告）號: CN111624461A
• 公開（公告）日: 2020-09-04
• 發明（設計）人: 劉敏濤
• 申請（專利權）人: 深圳天順智慧能源科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 馮筠

本發明涉及用于TCR型SVC的低壓測試裝置及其工作方法，該裝置包括微型斷路器QF1、測試單元、晶閘管單元以及TCR控制單元，微型斷路器QF1的一端連接有三相交流電源；微型斷路器QF1與測試單元連接，測試單元分別與晶閘管單元及TCR控制單元連接，晶閘管單元與TCR控制單元連接；測試單元接收經過微型斷路器QF1的三相交流電源后，進行電壓采樣，同步至TCR控制單元；TCR控制單元，用于控制晶閘管單元的開通角度，并獲取晶閘管單元的狀態。本發明實現在低壓環境下真實地且便于測試每一對晶閘管出發的波形，且可驗證每一對晶閘管觸發波形是否正確。

技術領域

本發明涉及SVC測試裝置，更具體地說是指用于TCR型SVC的低壓測試裝置及其工作方法。

背景技術

首先目前國內生產的TCR型SVC(靜止無功補償器，Static var compensator)在廠內低壓環境下一般只做單板測試，無法驗證每一對晶閘管觸發波形是否正確。現在TCR型SVC在廠內測試過程中不按照晶閘管角接環境下搭建低壓觸發測試平臺，往往是上高壓之后通過軟件檢測晶閘管觸發信號及回檢信號是否正確，間接的去判定晶閘管觸發波形是否正確；其次晶閘管閥上高壓后，每一對反并聯的晶閘管單元處于高電位，不方便去測試晶閘管不同觸發角對應的觸發波形，往往只關注晶閘管閥整體無功補償的效果。這種測試方法非常局限，不能確保同一觸發角下每一對反并聯的晶閘管觸發的波形一致，也不能確保不同觸發角觸發的波形是正確的，給TCR型SVC高壓投運時帶來風險。

因此，有必要設計一種新的裝置，實現在低壓環境下真實地且便于測試每一對晶閘管出發的波形，且可驗證每一對晶閘管觸發波形是否正確。

發明內容

本發明的目的在于克服現有技術的缺陷，提供用于TCR型SVC的低壓測試裝置及其工作方法。

為實現上述目的，本發明采用以下技術方案：用于TCR型SVC的低壓測試裝置，包括微型斷路器QF1、測試單元、晶閘管單元以及TCR控制單元，所述微型斷路器QF1的一端連接有三相交流電源；所述微型斷路器QF1與所述測試單元連接，所述測試單元分別與所述晶閘管單元以及TCR控制單元連接，所述晶閘管單元與所述TCR控制單元連接；其中，所述測試單元，用于接收經過所述微型斷路器QF1的三相交流電源后，進行電壓采樣，同步至所述TCR控制單元；所述TCR控制單元，用于控制晶閘管單元的開通角度，并獲取晶閘管單元的狀態。

其進一步技術方案為：所述測試單元包括輸入端子、同步信號端子以及輸出端子，其中，所述輸入端子與所述微型斷路器QF1連接，所述輸入端子與所述輸出端子之間連接有顯示單元，所述同步信號端子的一端連接于所述輸入端子以及所述顯示單元之間，所述同步信號端子的另一端與所述TCR控制單元連接。

其進一步技術方案為：所述輸入端子包括第一輸入端子UA1、第二輸入端子UB1以及第三輸入端子UC1，所述第一輸入端子UA1通過回路保護電阻FU1與所述顯示單元連接；所述第二輸入端子UB1通過回路保護電阻FU2與所述顯示單元連接；所述第三輸入端子UC1通過回路保護電阻FU3與所述顯示單元連接。

其進一步技術方案為：所述顯示單元包括燈泡H1、燈泡H2、燈泡H3、燈泡H4、燈泡H5以及燈泡H6；其中，所述燈泡H1與所述燈泡H2串聯，所述燈泡H3與所述燈泡H4串聯；所述燈泡H5與所述燈泡H6串聯，且所述燈泡H1與所述回路保護電阻FU1連接，所述燈泡H2與所述輸出端子連接；所述燈泡H3與所述回路保護電阻FU2連接，所述燈泡H4與所述輸出端子連接；所述燈泡H5與所述回路保護電阻FU3連接，所述燈泡H6與所述輸出端子連接。

其進一步技術方案為：所述燈泡H5的一端連接有旁路開關QF4，所述旁路開關QF4與所述燈泡H6連接。

其進一步技術方案為：所述燈泡H1與所述回路保護電阻FU1之間連接有開關QF5；所述燈泡H3與所述回路保護電阻FU2連接有開關QF2；所述燈泡H5與所述回路保護電阻FU3連接有開關QF3。